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公开(公告)号：CN117347716A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311125635.X
申请日：2023-09-01
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及电阻测试装置及方法，适用于如弹药包装筒等空心圆柱体的电阻测量，所述电阻测试装置包括：可充放气从而体积发生变化的第一气垫体；以预定间距平行设置在所述第一气垫体的外表面上的第一电极和第二电极；以及第三电极，所述第三电极的外表面为电极，所述第三电极可充放气从而体积发生变化。本发明采用气垫式电极，可充放气形成体积自适应性，使电极紧密且有压力地接触在待测物品的表面，从而有效地对如弹药包装筒等空心圆柱体实现表面电阻测量。
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公开(公告)号：CN117301662A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311219571.X
申请日：2023-09-20
Applicant: 西安交通大学 , 北京东方计量测试研究所
IPC: B32B27/28 , B32B27/02 , B32B27/06 , B32B27/12 , B32B38/16 , B32B38/00 , B64G1/44 , H10K30/80 , H10K85/10 , C08J5/18 , C08L79/08 , D04H1/728 , D04H1/4382 , D04H1/4326
Abstract: 本申请公开了一种新型高沿面耐电强度聚酰亚胺复合薄膜材料，包括聚酰亚胺基层和静电纺聚酰亚胺复合纳米纤维表层，所述静电纺聚酰亚胺复合纳米纤维表层中含有金属化合物；所述聚酰亚胺复合薄膜材料厚度为25～250μm。本申请提供的聚酰亚胺复合薄膜材料由聚酰亚胺树脂基层和静电纺聚酰亚胺复合纳米纤维表层构成，最终整体进行高温亚胺化，各层经化学反应后粘连形成一体，层间结合力强；此新型聚酰亚胺复合薄膜材料，可以在保持优异力学性能的同时，具备更低的二次电子发射系数、更高的表面电导率以及更快的表面电荷消散能力，多途径提高聚酰亚胺薄膜材料的沿面耐电强度，满足航天器制造对绝缘材料的需要。
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公开(公告)号：CN115951182A
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202310017796.0
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种插卡式静电放电发生装置，所述插卡式静电放电发生装置包括：主机机箱；背板，设置于所述主机机箱内，所述背板上具有多个连接器，多个所述连接器通过所述背板上集成的控制电路电连接；插卡式供电模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接；插卡式高压源模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接；插卡式主控通信模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接，所述插卡式主控通信模块被配置为控制所述插卡式高压源模块调整所述插卡式供电模块输出预定电压。本发明可有效提高静电放电发生装置的适用性和通用性。
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公开(公告)号：CN115932511A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202310017769.3
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R31/12 , G01R19/165
Abstract: 本发明涉及一种电子芯片静电放电潜在失效预先诊断系统和方法，潜在失效预先诊断系统包括：静电放电模块，用于对电子芯片管脚进行静电放电，进行加速失效；加速失效作用模块，用于将潜在失效加速演变为立即失效；电性能测试表征模块，用于测试经受静电放电与加速失效作用后的电子芯片的电性能参数；多个静电放电事件侦测模块，用于对静电放电电磁辐射进行在线表征。本发明实现了电子芯片静电潜在失效在线预先诊断，有利于降低静电潜在失效对电子系统的危害，保障电子系统的静电可靠性，具有重要的经济和社会效益，推广应用转化前景广阔。
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公开(公告)号：CN108398631B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201810240769.9
申请日：2018-03-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110988042A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911237304.9
申请日：2019-12-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，属于屏蔽包装袋夹层导电性测试领域，本发明把一个空心平面线圈放入屏蔽包装袋内部，并用两个平行的平板夹紧，使屏蔽袋的平面与平面线圈紧贴。给平面线圈施加一定频率的正弦激励，并计算出此时阻抗的实部。同理，施加同频率的激励也可以测量出裸空心线圈的阻抗实部。施加静电屏蔽包装袋的空心线圈的阻抗实部与裸空心线圈的阻抗实部的比值反映出了屏蔽包装袋的导电性。比值越大导电性越好，利用一种测试方法评价屏蔽包装袋的导电性，然后把导电性比较结果溯源到能量法测量结果上，继而利用导电性结果去评价屏蔽包装袋的屏蔽效能的优劣。
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公开(公告)号：CN107907810A
公开(公告)日：2018-04-13
申请号：CN201711068968.8
申请日：2017-11-03
Applicant: 北京东方计量测试研究所
CPC classification number: G01R31/16 , G01R31/1263
Abstract: 本发明提供了一种真空度可调的平行板电极电磁场辐照放电系统，包括电磁场辐照装置、平行板放电装置、真空环境模拟装置和检测装置；所述电磁场辐照装置设置在所述真空环境模拟装置外侧，可以模拟外界复杂电磁环境辐照情况，平行板放电装置可以模拟实际环境中不同平行板放电的情况，真空环境模拟装置提高了实验的可重复性，结合检测系统共同构成了电磁场辐照诱发真空环境下平行板放电系统。该系统用于研究电磁辐射发射相关技术，和电磁辐射对诱发平行板放电系统的影响等问题，为防护设备提供准确的数据，从而降低了铁路系统的安全隐患。
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公开(公告)号：CN108226648B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201810063344.5
申请日：2018-01-23
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明提出了一种双线式防静电手腕带，所述双线式防静电手腕带包括：腕带连续监测仪和双线腕带；所述双线腕带，用于绑定在人体手腕上，所述双线腕带内部设置有与人体手腕皮肤相接触的金属电极；所述腕带连续监测仪，用于连接所述双线腕带，使所述双线腕带接地，同时监测所述人体手腕的电压。本发明还提出了一种双线式防静电手腕带的实时接地监测装置。本发明采用施加双极性对称电压的方式，在测量电阻时，可以避免提高被测人员的电位。在保留了防静电腕带接地功能的同时，不仅能实时监测接地电阻的大小还能实时监测人体的电压。
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公开(公告)号：CN108480050A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810132932.X
申请日：2018-02-09
Applicant: 北京东方计量测试研究所
CPC classification number: B03C3/47 , B03C3/02 , B03C2201/06 , B03C2201/24
Abstract: 本发明提供一种驻极体材料及静电除尘装置。该驻极体材料以聚丙乙烯，以及聚四氟乙烯/聚偏氟乙烯为原料混合而成，其中聚四氟乙烯/聚偏氟乙烯的粒径为1~10μm。本发明通过改进驻极体材料，提高了采用驻极体材料制成的微通道结构的静电积尘过滤器的过滤性能。本发明提供的静电除尘装置，通过检测环境颗粒物浓度，设计荷电部件的结构形式与控制发射电流，释放并重建内部电场，降低积尘微通道的内部表面电场强度趋同的方式，减少极化现象的发生概率，进而提升驻极体材料微通道结构静电积尘过滤器的容尘能力和提升积尘效率，提升容尘量的同时延长清洗维护周期，降低使用维护成本。
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公开(公告)号：CN108398631A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201810240769.9
申请日：2018-03-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。
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