基于接触法的等离子体离子能量测量装置

    公开(公告)号:CN117794038A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202410128411.2

    申请日:2024-01-30

    Abstract: 本发明涉及一种基于接触法的等离子体离子能量测量装置,包括壳体和支撑座,壳体内部设有前后两端敞口的筒状内腔,筒状内腔内设有屏蔽罩层和收集极以及在屏蔽罩层和收集极之间设有若干交叠设置的绝缘隔离板和栅网;屏蔽罩层上离子体进入孔与绝缘隔离板上绝缘通孔连通形成离子体阻滞腔,收集极上设有与离子体阻滞腔连通的第一通气孔;支撑座上设有接线孔,接线孔内设有电缆接头座,电缆接头座上设有与第一通气孔连通的第二通气孔。本发明,通过第一通气孔和第二通气孔将多余工质气体排出,避免离子体阻滞腔内压力过高影响收集极采集结果的准确性。

    一种等离子体推力器羽流参数多点测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN114245554A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111465016.6

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种等离子体推力器羽流参数多点测量装置及测量方法,多点测量装置,包括:真空舱;与所述真空舱相连接的真空泵单元;与所述真空泵单元相连接的工控单元,用于提供并维持所述真空舱的真空环境;以及测量单元;所述测量单元包括:至少两个设置在所述真空舱内的三维移动平台;设置于所述三维移动平台上的探测结构;与所述探测结构连接,用于采集数据的采集单元;探测结构采用朗缪尔探针、RPA探针或Faraday探针。本发明可以提高等离子体测量效率、能够连续测量羽流多点对称性,打破朗缪尔探针使用的局限性、屏蔽探针电路中的误差干扰,同时,本发明的多点测量装置结构简单、稳定可靠,实用性强。

    基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法

    公开(公告)号:CN118829059A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410877286.5

    申请日:2024-07-02

    Abstract: 本发明为等离子体探针校准领域,提供基于辐射光谱及红外成像的等离子体探针阵列校准方法。测量探针阵列的表面温度,使用探针阵列测量稳定运行的霍尔推进器的羽流参数,得到此时探针阵列收集到的伏安特性曲线。再使用红外成像仪测量探针阵列的表面温度,得到探针受轰击加热的温度差。结合探针表面的二次电子发射系数,便计算出二次电流值。结合探针本身测量得到的离子电流值,对电子电流值进行修正,得到真实的伏安特性曲线,计算出准确的电子温度密度。使用光谱仪通过光谱测量此时的电子温度电子密度,与修改后的探针测量的电子温度电子密度进行对比,实现对等离子体探针阵列进行校准。用以解决探针测量结果缺乏校准,准确度难以评定的问题。

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