一种动态电阻导通测试仪校准装置

    公开(公告)号:CN115656909A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211398556.1

    申请日:2022-11-09

    Abstract: 本申请提供了一种动态电阻导通测试仪校准装置,用于导电环滑动接触电阻测试,包括:母板;电源板卡;至少一个时变电阻模拟板卡;上位机,其中电源板卡、时变电阻模拟板卡通过连接器与母板互连,时变电阻模拟板卡具有主控芯片,具有N路通道,用于实现独立的N路电阻输出,N大于等于2;电流测量电路用于采集输入电流;上位机将输出电阻设定值发送至时变电阻模拟板卡的主控芯片中,主控芯片根据所述输出电阻值设定值控制时变电阻模拟板卡输出的电压。

    微电流测量电路
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118150887A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410444851.9

    申请日:2024-04-15

    Abstract: 本发明涉及一种微电流测量电路,包括放大器、反馈电容和反馈电阻,以及由补偿电容和补偿电阻组成的时间常数补偿电路;所述补偿电容的电容值与所述反馈电容的电容值相等。本发明,利用时间常数补偿电路,在所述补偿电容的电容值与所述反馈电容的电容值相等的情况下,既保证测量的稳定性,又实现了微弱电流的快速测量,大大缩短了检测时间。

    用于微弱信号测量设备的变压器绕组结构及变压器

    公开(公告)号:CN116959858A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310966745.2

    申请日:2023-08-02

    Abstract: 本发明涉及一种用于微弱信号测量设备的变压器绕组结构及变压器,变压器绕组结构包括铁芯以及设置于铁芯上的一个原边绕组和多个副边绕组,原边绕组和多个副边绕组间隔绕制,副边绕组由专供模拟芯片的电压的第一副边绕组和专供数字芯片的电压的第二副边绕组组成,第一副边绕组和第二副边绕组间隔绕制;相邻的原边绕组和副边绕组之间设置有电磁屏蔽膜,相邻的第一副边绕组和第二副边绕组之间设置有电磁屏蔽膜。本发明,能够最大限度地降低微弱信号测量电路中模拟地对大地的交流共模电压值,提高了微弱信号测量设备的精度,同时,不需要额外设计或增加抑制共模的电路或元器件,绕制方法简单易于实现,成本低,易于批量生产。

    一种瞬断测试仪的校准装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN110865325A

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201911123678.8

    申请日:2019-11-17

    Abstract: 本发明公开了一种瞬断测试仪校准装置及校准方法,属于瞬断测试仪校准技术领域,包含瞬断判定电阻参数校准和瞬断时间测量参数校准两部分;通过程控继电器把RH系列或者RL系列电阻接入或者接出电路,可实现高阻源以及低阻源在输出范围内阻值的连续可调;瞬断时间测量参数校准采用标准信号发生电路和高速场效应管相结合的方法产生瞬断时间标准量值,通过控制高速场效应管的通断状态及通断持续时间,可模拟瞬断状态,实现对瞬断测试仪的瞬断时间测量参数的校准。采用标准信号发生电路与程控电阻源结合方案,程控电阻源实现对瞬断判定电阻的校准,标准信号发生器和高速场效应管结合实现瞬断时间测量的校准。

    一种应用于程控转接适配器的继电器安全保护系统和方法

    公开(公告)号:CN106533430B

    公开(公告)日:2019-11-26

    申请号:CN201610898797.0

    申请日:2016-10-14

    Abstract: 一种应用于程控转接适配器的继电器安全保护系统和方法,其中所述系统包括,FPG和继电器阵列以及单片机,其中,单片机管脚接第一三极管的基极,第一三极管发射机接地,集电极通过串联两个分压电阻与电源连接,场效应管的栅极连接两个分压电阻之间,漏极连接继电器线圈正端,源极连接电源,FPGA管脚与第二三极管的基极连接,第二三极管发射机接地,集电极连接所述继电器线圈的负极。采用本方案,避免了FPGA上电时的不可控状态对电路系统造成的损坏,结构简单有效。

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