-
公开(公告)号：CN108195478A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201810275515.0
申请日：2018-03-30
Applicant: 中国计量科学研究院 , 武汉嘉仪通科技有限公司
Abstract: 本发明实施例涉及一种温度测量的装置，包括：样品台(1)，所述样品台(1)处于真空红外加热条件下；石英托管(2)，所述石英托管(2)连接并支撑样品台(1)，处于真空红外加热条件下；块状介质(3)，位于所述样品台(1)之内，所述块状介质(3)加工有孔；热电偶(4)，所述热电偶(4)穿过石英托管(2)，其测温端插入块状介质(3)的所述孔之内；其中，块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90，导热系数不低于60～70W/(m·K)。本发明实施例提供一种温度测量的装置能够针对真空红外加热的特殊环境，准确测量样品台内的温度。
-
公开(公告)号：CN118999867A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202411117555.4
申请日：2024-08-14
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01L5/00 , G01L1/25 , G01L25/00 , G01N23/2055 , G01N23/2005
Abstract: 本发明公开了一种用于X射线残余应力测定仪校准用的铁块标准物质及其制备方法和应用，属于标准物质领域，其包括通过铁粉在水晶胶中沉降固化经切割处理获得的铁块，所述铁粉采用粒径为(1～8)μm、铁元素含量≥95％的纯铁铁粉。本发明选用特定粒径(1～8)μm的纯铁铁粉与水晶胶混合，固化成型后切割掉上部不均匀部分获得的铁块体标准物质中铁粉颗粒致密、均匀分布，铁块体标准物质表面平整度好、粗糙度小，标准物质的残余应力微小且均匀，完全满足标准物质的均匀性要求。
-
公开(公告)号：CN118913470A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410969622.9
申请日：2024-07-18
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种负温度系数热敏电阻温度传感器及其制造方法和应用，属于检测领域，热敏电阻温度传感器包括单晶硅基底块和生长在单晶硅基底块的二氧化硅层上的负温度系数热敏薄膜，所述负温度系数热敏薄膜为Mn‑Co‑Ni‑Cu‑O热敏薄膜，其具有尖晶石结构。本发明通过引入Cu元素、在单晶硅基底进行1/3厚度预切割、采用两次磁控溅射工艺，优化了热敏薄膜的脆性和塑性，降低了热敏薄膜的面内残余应力，制备出了厚度超过7μm的Mn‑Co‑Ni‑Cu‑O热敏薄膜，且热敏薄膜表面完好且与二氧化硅层结合良好，未发生开裂和脱落；其电阻小于500Ω，无需进行退火热处理；本发明的技术路线简单高效，生产效率和良品率非常高。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108562378A
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201810275623.8
申请日：2018-03-30
Applicant: 中国计量科学研究院 , 武汉嘉仪通科技有限公司
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明实施例涉及一种温度校准的装置，包括：样品台(1)，样品台(1)处于真空红外加热条件下；石英托管(5)，连接并支撑样品台(1)，处于真空红外加热条件下；K型热电偶(2)，穿过所述石英托管(5)，其测温端置于所述样品台(1)之内；块状介质(3)，位于样品台(1)之内，块状介质(3)加工有孔；S型热电偶(4)，穿过石英托管(5)，其测温端插入所述块状介质(3)的孔之内，根据所述S型热电偶(4)测得的温度，对所述K型热电偶(2)所测量到的温度进行校准；其中，所述块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90，导热系数不低于60～70W/(m·K)。本发明实施例提供的温度校准的装置能够针对真空红外加热的特殊环境，对K偶进行温度校准。
-
公开(公告)号：CN212433027U
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202021907952.9
申请日：2020-09-04
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N25/12
Abstract: 本实用新型实施例公开了一种薄膜材料相变温度的测量装置，包括：光学组件；真空腔，所述真空腔的顶部开设有入光孔，所述入光孔与所述光学组件的入射光线相对设置；高温炉，所述高温炉设置于所述真空腔内，所述高温炉的底部和侧向均安装有电阻加热片，所述电阻加热片通过导线与电源连接；样品室，所述样品室设置于所述高温炉内，所述样品室通过导热结构与所述电阻加热片导热连接，且样品放置于所述样品室内，热电偶内嵌于所述样品室中，并通过探头与所述样品相接触。其提高了薄膜材料相变温度的测量准确性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
公开(公告)号：CN219608772U
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202320856420.4
申请日：2023-04-17
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型涉及一种压力接触式薄膜材料样品加载装置，样品腔开口设置在样品腔的前侧壁上，激光入射孔和样品腔下方孔同轴设置在样品腔的顶壁和底壁上；套管的顶部设有套管开孔，热电偶的探头和偶丝从套管开孔中穿出并露出于套管外部，套管的顶部从样品腔下方孔垂直进入样品腔内，并与薄膜材料样品的基底背面压力接触，激光从激光入射孔入射到薄膜材料样品的表面。本申请保证热电偶与样品的压力保持固定一致且可调节，从而确保了温度测量的重复性，解决现有光功率分析法相变温度测量装置中热电偶与薄膜样品接触不稳和压力不固定等问题。且热电偶与样品表面非直接接触，避免了样品对探头的污染，进一步确保了温度测量的准确性。
-
公开(公告)号：CN207964129U
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201820442162.4
申请日：2018-03-30
Applicant: 中国计量科学研究院 , 武汉嘉仪通科技有限公司
IPC: G01K15/00
Abstract: 本实用新型实施例涉及一种温度校准的装置，包括：样品台，样品台处于真空红外加热条件下；石英托管，连接并支撑样品台，处于真空红外加热条件下；K型热电偶，穿过所述石英托管，其测温端置于所述样品台之内；块状介质，位于样品台之内，块状介质加工有孔；S型热电偶，穿过石英托管，其测温端插入所述块状介质的孔之内，根据所述S型热电偶测得的温度，对所述K型热电偶所测量到的温度进行校准；其中，所述块状介质的红外辐射吸收率不低于0.90，导热系数不低于60～70W/(m·K)。本实用新型实施例提供的温度校准的装置能够针对真空红外加热的特殊环境，对K偶进行温度校准。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
公开(公告)号：CN207964111U
公开(公告)日：2018-10-12
申请号：CN201820442406.9
申请日：2018-03-30
Applicant: 中国计量科学研究院 , 武汉嘉仪通科技有限公司
Abstract: 本实用新型实施例涉及一种温度测量的装置，包括：样品台(1)，所述样品台(1)处于真空红外加热条件下；石英托管(2)，所述石英托管(2)连接并支撑样品台(1)，处于真空红外加热条件下；块状介质(3)，位于所述样品台(1)之内，所述块状介质(3)加工有孔；热电偶(4)，所述热电偶(4)穿过石英托管(2)，其测温端插入块状介质(3)的所述孔之内；其中，块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90，导热系数不低于60～70W/(m·K)。本实用新型实施例提供一种温度测量的装置能够针对真空红外加热的特殊环境，准确测量样品台内的温度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
18
records
(took 0.033 seconds)
