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公开(公告)号：CN109540284A
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201811312385.X
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及辐射测量领域，公开了一种光功率探测器及其测量方法与制备方法，其中该探测器包括光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器；所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面，且所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面，且所述导热层的材料为导热材料；所述温度传感器设置在所述导热层的表面，用于检测所述导热层的温度。本发明提供的探测器能够较准确的测量光功率，且不会因光的发散特性而影响测量结果，故该探测器能够保证检测结果的高精确度。
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公开(公告)号：CN115200724B
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202210770298.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种单光子探测器量子效率校准装置和方法，涉及单光子探测技术领域。单光子探测器量子效率校准装置包括：脉冲激励源，用于产生激励脉冲；单光子源，在激励脉冲的激励下能够发出具有特定波长的单光子辐射；光子收集器，包括显微物镜，用于接收单光子辐射并成像；标准单光子探测器，用于和待测单光子探测器交替置于光子收集器的成像点位置，以使单光子辐射能够分别照射到标准单光子探测器和待测单光子探测器的光敏面，且标准单光子探测器的单光子探测量子效率经过标定。本发明的单光子探测器量子效率校准装置和方法，通过将单光子源作为标准定标光源，利用单光子源的单光子特性，实现准确校准单光子探测器的量子效率，校准准确度高。
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公开(公告)号：CN118392301A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410611467.3
申请日：2024-05-16
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及光学领域，提供一种利用光压或光辐射压力效应的测量方法及测量装置，方法包括：将物体静止悬浮设置；将准直、连续、功率稳定的光束垂直入射于物体的表面；测量物体在光束作用下的加速度；根据物体的加速度、质量、透射比、反射比以及受到的阻力，确定光束的光辐射功率；或，根据光束的光辐射功率、物体的加速度、透射比、反射比以及受到的阻力，确定物体的质量。本发明提供的方法，可以根据已知参数测量特定光束的光辐射功率或特定物体的质量，而且通过合理的数学转换，可以实现特定光束的光辐射功率与特定物体的质量的双向测量，即在同一测量中既可以测量光辐射功率也可以测量物体质量，提高了测量的灵活性和多功能性。
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公开(公告)号：CN108362726B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201810151308.4
申请日：2018-02-14
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N25/12
Abstract: 本发明提供的一种超导相变温度传感器及其制备方法，其中所述传感器包括：依次镀在基板上的第一层薄膜和第二层薄膜；第一层薄膜为超导材料；第二层薄膜的宽度与第一层薄膜的宽度的比值沿所述第一层薄膜的长度方向逐渐变化；所述第一层薄膜的厚度与所述第二层薄膜的厚度之和为0.2‑200nm。在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最大处的超导相变温度为第一温度，在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最小处的超导相变温度为第二温度，超导相变温度传感器的最佳工作范围为所述第一温度至所述第二温度。本发明提供的超导相变温度传感器具有较宽的工作范围，使得超导相变温度传感器的适用范围更广泛。
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公开(公告)号：CN110702236A
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201911084805.8
申请日：2019-11-08
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提出了一种用于光纤波长标准器的高精度光谱定标方法，包括以下步骤：S1、利用可调谐激光器发射激光；S2、利用光纤分束器对激光进行分束处理，得到第一光束和第二光束；S3、将第一光束通过待定标的光纤波长标准器，利用光功率计分别测量第一光束和第二光束的光功率，利用光波长计测量第二光束的波长；S4、基于第一光束和第二光束的光功率、第二光束的波长获得吸收峰扫描曲线，计算吸收峰波长；S5、将计算得到的吸收峰波长赋予待定标的光纤波长标准器，实现光纤波长标准器的光谱定标。本发明方法可以为光纤波长标准器提供高精度定标，为高分辨率、高精度光纤波长提供了量值溯源的可靠途径与保障。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118624014A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410884402.6
申请日：2024-07-03
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及光学仪器技术领域，提供一种低发散角依赖的光电探测器及定标系统，其中，低发散角依赖的光电探测器包括第一光电二极管、第二光电二极管和凹面镜，第一光电二极管具有第一光敏平面；第二光电二极管具有第二光敏平面；凹面镜具有相互背离的后平面和前凹面，前凹面朝向第二光电二极管，第一光敏平面和第二光敏平面互成角度设置，后平面与第二光敏平面互成角度设置，以在第一光电二极管、第二光电二极管和凹面镜之间形成光陷阱。本申请实现准直光一次定标响应度即可实现该探测器应用于不同发散角的光测量场景。
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公开(公告)号：CN109540284B
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201811312385.X
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及辐射测量领域，公开了一种光功率探测器及其测量方法与制备方法，其中该探测器包括光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器；所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面，且所述第一吸光层的材料为吸光材料；所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面，且所述导热层的材料为导热材料；所述温度传感器设置在所述导热层的表面，用于检测所述导热层的温度。本发明提供的探测器能够较准确的测量光功率，且不会因光的发散特性而影响测量结果，故该探测器能够保证检测结果的高精确度。
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公开(公告)号：CN109752348A
公开(公告)日：2019-05-14
申请号：CN201811044239.3
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国计量科学研究院 , 陕西省计量科学研究院 , 江苏省计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种透射比标准量具及透射比测量装置，该透射比标准量具包括：一固定件和一个或多个遮光体，所述遮光体为扇形结构；所述遮光体设置在所述固定件上，通过旋转所述遮光体将接收的连续光调制成相应频率的光，根据所述调制的相应频率的光计算透射比及不确定度。通过在固定件上相间设置至少一个超精密加工的遮光体，设定遮光体的占比提高透射比的测量上限，大幅提升了透射比测量装置的透射比量值校准时的测量范围，同时大幅减小透射比测量装置透射比量值的测量结果不确定度，大幅提升了透射比测量装置透射比分辨率的校准能力。
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公开(公告)号：CN109580172A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811312322.4
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明实施例提供一种显微成像辐射校准基片及其制备方法，该基片包括：积分球、若干个光源、光源驱动控制电路和基板，其中，积分球的底端位于基板上，积分球的顶端处设置第一通孔，若干个光源发出的光能直接或者间接照射到积分球的内壁，每一光源可直接或者间接连接至光源驱动控制电路，光源驱动控制电路可直接或间接与基板连接。本发明实施例提供的一种显微成像辐射校准基片及其制备方法，制备多个子基片分别实现积分球、光源、光源驱动控制电路等部件的整体或者局部功能，依次堆叠这些子基片后可构建成第一通孔处具有均匀辐射亮度的基片，以满足显微成像设备辐射校准需求。
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公开(公告)号：CN109060679A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201811044236.X
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国计量科学研究院 , 陕西省计量科学研究院
CPC classification number: G01N21/27 , G01J3/12 , G01J3/2823 , G01J2003/1217 , G01N21/274
Abstract: 本发明公开了一种超高光谱透射比标准量具，包括固定件和滤光片，所述滤光片为扇形结构，相间设置在所述固定件上，用于过滤或遮挡光源发射的连续光。通过在固定件上相间设置至少一个固定透射比的滤光片，设定滤光片的扇形面积/圆心角占比提高透射比的测量上限或降低透射比的测量下限，大幅提升了光谱透射比标准量具的测量范围，同时大幅减小透射比的测量不确定度，提升透射比曲线的光谱平坦性，提升透射比测量的均匀性。
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