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公开(公告)号：CN113820021A
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN202111286446.1
申请日：2021-11-02
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供一种低温面源黑体的均温结构及其制造方法，其包括：冷源连接部分，所述冷源连接部分与冷源进行连接；混热板，所述冷源连接部分设置在混热板上，从所述冷源连接部分传导过来的能量在混热板中进行传导并分布；在所述混热板远离所述冷源连接部分的一侧设置有冷量分配器，所述冷量分配器上具备环形凹槽。本发明具有更佳的温度场分布：通过均温体内的冷量分配器对冷量进行调控，使黑体辐射板受热更均匀，并可通过热量补偿抵消边界换热的影响；降低了对混热结构的需求，有效降低了均温体的重量。
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公开(公告)号：CN110686872A
公开(公告)日：2020-01-14
申请号：CN201911075823.X
申请日：2019-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提出通过测量待测黑体腔法向的反射数据，并通过仿真获得黑体腔法向-半球反射特性比从而得到黑体半球全反射数据最终计算黑体腔0-D条件下的发射率的测量方法。首先利用已知功率的激光光源沿法向中心位置照射黑体腔，使用测量装置测量黑体腔在法向条件下反射光源的功率；接着通过仿真计算建立已知结构的黑体腔的法向反射特性和半球反射特性的关系，得到黑体腔半球方向对光源的全反射数据；最终根据黑体半球方向反射的光源的功率和光源的出射功率获得黑体腔的发射率。
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公开(公告)号：CN104913849B
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201510140944.3
申请日：2015-03-27
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明提供了一种面源黑体及其制造方法，其包括：底板，该底板用于形成面源黑体的支撑结构；形成于所述底板上的预定数量的锥体，所述锥体按照预定的方式在所述底板上排布；至少一部分的所述锥体与所述底板为一体式结构，至少另一部分的所述锥体为独立成型。本发明的面源黑体制作简单，节省了加工工艺，降低了成本，且制造方便，便于迅速组装，且能够制成大面积的面源黑体，具有很高的发射率，满足了红外谱段的检定需求。
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公开(公告)号：CN104833429A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510141022.4
申请日：2015-03-27
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置及方法，所述测量装置包括：一待测黑体；一热辐射环，所述热辐射环位于所述待测黑体的开口一侧；一红外辐射温度计，所述红外辐射温度计测量采集到的辐射信号，在所述热辐射环与所述红外辐射温度计之间设置有水冷光阑，所述水冷光阑用于降低杂散辐射。本发明通过基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置，分析了热辐射环温度和黑体温度变化对测量结果的影响，验证了该方法应用于星载定标黑体发射率在轨校准的可行性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104765077A
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201510141023.9
申请日：2015-03-27
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01W1/18
CPC classification number: G01W1/18
Abstract: 本发明提供了红外遥感亮度温度国家计量标准装置，其包括：被校黑体真空低温舱，其能够适用于不同尺寸的被校黑体；标准变温黑体，其具有预定的温度范围；零点黑体，该零点黑体被置于液氮环境中；光路切换舱，所述光路切换舱被校黑体真空低温舱、所述零点黑体进行连接；所述光路切换舱通过真空低温光路与傅立叶光谱仪测量系统进行连接。本发明的计量标准装置具有扩展性强，标定黑体的口径大，不确定度水平高等特点，为我国红外遥感亮度温度的溯源提供了重要保障，满足我国红外遥感的量值溯源需求。
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公开(公告)号：CN114858288A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210384936.3
申请日：2022-04-13
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于光线捕获的高发射率星载黑体辐射源的设计方法，首先从光路传输模型上确定了黑体辐射源的多次反射和吸收以达到高发射率的机理。通过仿真模拟的手段研究了黑体辐射源的发射率随表面设置、位置、角度等变化的规律。通过制作两个黑体辐射源样件开展对波段发射率和光谱发射率的测量实验，比对仿真和实验结果的差异，显示实验结果与仿真结果一致，表面反射分量为近镜面反射的基于光线捕获的星载黑体辐射源具有更高的发射率和更好的发射率均匀性。
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公开(公告)号：CN110702274B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201911075824.4
申请日：2019-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种基于精确微型相变固定点黑体模型的太空校准方法。利用准确的数值模型，对微型相变固定点黑体熔点温度及内部携带的铂电阻温度计进行校准，以应对因实验条件变化而导致的黑体熔点温度变化。首先根据黑体与固定结构建立准确的数值模型。通过辐射温度光路调整，将固定点黑体熔点温度量值传递至微型相变固定点黑体，通过插值法获得微型相变固定点黑体在镓点处较为准确的相变温度数据。通过这一温度数据对模型完成修正，以消除粗糙接触面、空隙、不准确材料参数对模型的影响。最后，利用该修正模型计算获得不同固定点处熔点温度。本发明可应用于在轨卫星等无法进行标准温度测量的情况。
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公开(公告)号：CN110705173B
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN201911075479.4
申请日：2019-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G06F30/23 , G06F119/08
Abstract: 本发明提供了一种基于边界热源传热模型不确定参数的热阻等效修正方法，基于温度范围内热阻的常物性和足够的温度均匀性，将传热模型视作热阻网络结构进行简化分析，根据一组位于参与面的温度测量信息，通过调整热流路径中某一区域热阻来对两温度面间总热阻的等效修正，以获得真实的传热速率，调整方法包括修改传热材料导热系数、直接修热阻值和增减热阻结构来实现。本发明可以有效地替代材料、间隙、接触等未知的导热参数与结构复杂的面面辐射，有效地提高了模型的精度，并大幅度减少因面面辐射运算而导致的计算量。
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公开(公告)号：CN110702274A
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201911075824.4
申请日：2019-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种基于精确微型相变固定点黑体模型的太空校准方法。利用准确的数值模型，对微型相变固定点黑体熔点温度及内部携带的铂电阻温度计进行校准，以应对因实验条件变化而导致的黑体熔点温度变化。首先根据黑体与固定结构建立准确的数值模型。通过辐射温度光路调整，将固定点黑体熔点温度量值传递至微型相变固定点黑体，通过插值法获得微型相变固定点黑体在镓点处较为准确的相变温度数据。通过这一温度数据对模型完成修正，以消除粗糙接触面、空隙、不准确材料参数对模型的影响。最后，利用该修正模型计算获得不同固定点处熔点温度。本发明可应用于在轨卫星等无法进行标准温度测量的情况。
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