星上黑体及其基于蒙特卡洛仿真和有限元分析的设计方法

    公开(公告)号:CN118194625A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410005069.7

    申请日:2024-01-03

    Abstract: 本发明公开了一种星上黑体及其基于蒙特卡洛仿真和有限元分析的设计方法,星上黑体包括筒型主体,所述筒型主体内部中空,顶部开放;所述筒型主体内部的底面呈四棱锥阵列结构并且喷涂有高发射率黑漆;所述筒型主体的内壁呈螺纹线结构;所述筒型主体上还设有加热机构和测温机构。本发明实现了给风云系列卫星载荷提供高精度的星上黑体,并对星上黑体的实施途径进行了细化和分析,对其影响性能指标的关键因素,通过一系列关键参数的仿真与设计,完成了空间黑体的方案设计流程,设计方案科学合理、真实可行,技术途径明确形成了完善的星上黑体的工程研制和设计方法。

    一种基于黑体腔法向-半球反射分布比的发射率测量方法

    公开(公告)号:CN110686872B

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN201911075823.X

    申请日:2019-11-06

    Inventor: 宋健 郝小鹏

    Abstract: 本发明提出通过测量待测黑体腔法向的反射数据,并通过仿真获得黑体腔法向‑半球反射特性比从而得到黑体半球全反射数据最终计算黑体腔0‑D条件下的发射率的测量方法。首先利用已知功率的激光光源沿法向中心位置照射黑体腔,使用测量装置测量黑体腔在法向条件下反射光源的功率;接着通过仿真计算建立已知结构的黑体腔的法向反射特性和半球反射特性的关系,得到黑体腔半球方向对光源的全反射数据;最终根据黑体半球方向反射的光源的功率和光源的出射功率获得黑体腔的发射率。

    一种计量标准装置的光学系统

    公开(公告)号:CN104749658B

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201510141021.X

    申请日:2015-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种计量标准装置的光学系统,其包括:光路切换舱,所述光路切换舱与至少一个信号源进行连接;平面反射镜,其将所述至少一个信号源的信号反射至第一低温光路;探测器舱,其与所述第一低温光路连接;所述探测器舱通过第二低温光路连接至傅立叶光谱仪。本发明的计量标准装置的光学系统具有扩展性强,不确定度水平高等特点,为我国红外遥感亮度温度的溯源提供了重要保障,满足我国红外遥感的量值溯源需求。

    一种计量标准装置的光学系统

    公开(公告)号:CN104749658A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201510141021.X

    申请日:2015-03-27

    CPC classification number: G01J5/007

    Abstract: 本发明提供了一种计量标准装置的光学系统,其包括:光路切换舱,所述光路切换舱与至少一个信号源进行连接;平面反射镜,其将所述至少一个信号源的信号反射至第一低温光路;探测器舱,其与所述第一低温光路连接;所述探测器舱通过第二低温光路连接至傅立叶光谱仪。本发明的计量标准装置的光学系统具有扩展性强,不确定度水平高等特点,为我国红外遥感亮度温度的溯源提供了重要保障,满足我国红外遥感的量值溯源需求。

    一种用于大口径辐射面温度校准装置及方法

    公开(公告)号:CN118583301A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410668115.1

    申请日:2024-05-28

    Inventor: 郝小鹏 高奇 宋健

    Abstract: 本发明公开了一种用于大口径辐射面温度校准装置及方法,热像仪旋转移动台连接于红外热像仪,可驱动红外热像仪周向运动并可驱动红外热像仪轴向自转;其中一个真空仓用于放置样品,另一个真空仓用于放置黑体辐射源,各个真空仓的顶部均设有红外透过窗口片;红外热像仪的探测头可在热像仪旋转移动台的驱动下通过周向运动与各个真空仓的红外透过窗口片位置对应,并透过红外透过窗口片获取样品或黑体辐射源的红外热像图;样品表面、黑体表面以及纵向微型深孔内喷涂同种型号的高发射率黑漆。本发明通过将黑体辐射源辐射面的辐射特性设置为与样品一致,并且测量距离一致、测量路径一致,无需过多修正过程,且仅对红外热像仪的短期稳定性有较高要求。

    一种高发射率极低温黑体
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117824847A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410005105.X

    申请日:2024-01-03

    Abstract: 本发明公开了一种高发射率极低温黑体,包括制冷机、航空插头、屏蔽层、黑体套筒、蓝宝石、温度计、导热筒、黑体腔、光阑和加热机构;黑体套筒的内表面覆盖有屏蔽层;制冷机的冷头从黑体套筒的一端伸入黑体套筒内部;导热筒套接于黑体套筒的内部,其一端通过蓝宝石与制冷机的冷头相接;黑体腔位于导热筒的内部并其外表面与导热筒相接触;黑体腔的一端设有若干温度计孔;黑体套筒上安装有航空插头;黑体套筒和黑体腔的另一端设有相对应的光阑;加热机构用于对黑体腔进行加热。本发明将制冷机与黑体结合,可以实现更为精确和可控的温度控制。另外,本发明通过蓝宝石的应用、导热筒的结构及其与黑体之间的接触方式的改进等,进一步优化了黑体的性能。

    一种宽温区方向光谱发射率测量装置

    公开(公告)号:CN117740154A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311737156.3

    申请日:2023-12-18

    Abstract: 本发明公开了一种宽温区方向光谱发射率测量装置,加热装置用于对样品加热,其可旋转,以调节样品的测量角度;常温黑体、变温黑体和加热装置之间设有隔板;常温黑体连接于黑体恒温水槽,黑体恒温水槽中的水与常温黑体之间循环换热,以保持常温黑体的温度恒定;常温黑体、变温黑体和加热装置分别连接有温度测量机构,用于测量常温黑体、变温黑体和加热装置的温度;加热装置和各个温度测量机构均通讯连接于测温仪,测温仪从各个温度测量机构获取常温黑体、变温黑体的温度和加热装置的加热温度,并控制变温黑体和加热装置启动或停止加热。利用本发明装置,可以实现材料的宽温区方向光谱发射率测量,其中测量温度可达1000℃。

    一种基于边界热源传热模型不确定参数的热阻等效修正方法

    公开(公告)号:CN110705173A

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201911075479.4

    申请日:2019-11-06

    Abstract: 本发明提供了一种基于边界热源传热模型不确定参数的热阻等效修正方法,基于温度范围内热阻的常物性和足够的温度均匀性,将传热模型视作热阻网络结构进行简化分析,根据一组位于参与面的温度测量信息,通过调整热流路径中某一区域热阻来对两温度面间总热阻的等效修正,以获得真实的传热速率,调整方法包括修改传热材料导热系数、直接修热阻值和增减热阻结构来实现。本发明可以有效地替代材料、间隙、接触等未知的导热参数与结构复杂的面面辐射,有效地提高了模型的精度,并大幅度减少因面面辐射运算而导致的计算量。

    一种标准变温黑体装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104897285A

    公开(公告)日:2015-09-09

    申请号:CN201510140976.3

    申请日:2015-03-27

    Abstract: 本发明涉及一种标准变温黑体装置,其包括:真空外壳,在所述真空外壳的一侧与前法兰配合,在所述真空外壳的另一侧与后法兰配合;黑体腔,在所述黑体腔的外侧壁上设置控温循环管路;所述黑体腔的一端为开口,所述黑体腔的另一端与黑体锥底配合。本发明的标准变温黑体温度覆盖范围广,温度控制效果好,黑体温度与外壳温度的相互影响较小,黑体温度稳定性高。

    一种基于光线捕获的高发射率星载黑体辐射源的设计方法

    公开(公告)号:CN114858288A

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202210384936.3

    申请日:2022-04-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于光线捕获的高发射率星载黑体辐射源的设计方法,首先从光路传输模型上确定了黑体辐射源的多次反射和吸收以达到高发射率的机理。通过仿真模拟的手段研究了黑体辐射源的发射率随表面设置、位置、角度等变化的规律。通过制作两个黑体辐射源样件开展对波段发射率和光谱发射率的测量实验,比对仿真和实验结果的差异,显示实验结果与仿真结果一致,表面反射分量为近镜面反射的基于光线捕获的星载黑体辐射源具有更高的发射率和更好的发射率均匀性。

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