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公开(公告)号:CN117525197A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202410008373.7
申请日:2024-01-04
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L31/0747 , H01L31/0216 , H01L31/0288 , H01L31/02 , H01L31/18
Abstract: 本发明属于太阳电池领域,涉及一种空间用低成本高环境耐受性硅异质结太阳电池及其制备方法,所述太阳电池以Ga掺杂p型单晶硅片作为衬底;在所述Ga掺杂p型单晶硅片的前表面依次设置钝化层和电子收集层;在所述Ga掺杂p型单晶硅片的背表面依次设置钝化层和空穴收集层;在电子收集层和空穴收集层的外表面设置透明导电金属氧化物薄膜;在所述透明导电金属氧化物薄膜的外表面设置金属电极;在所述透明导电金属氧化物薄膜和所述金属电极上覆盖薄膜防护层。本发明具有较强的空间耐受性,包括抗紫外和原子氧,抗高能电子和质子辐照,高低温温度冲击等,能够为卫星、空间站、货运仓提供低成本太阳电池和光伏组件。
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公开(公告)号:CN116230787A
公开(公告)日:2023-06-06
申请号:CN202310136324.7
申请日:2023-02-20
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L31/0236 , H01L31/18
Abstract: 本发明涉及一种边缘抛光的单晶制绒硅片、太阳电池及制备方法。该单晶制绒硅片正面和背面的边缘区域以及硅片的侧面区域不具有金字塔绒面结构,除所述边缘区域和侧面区域以外的其它区域具有金字塔绒面结构。该单晶制绒硅片制备方法包括:腐蚀抛光;形成掩膜;制绒;将掩膜去除。该硅片或电池片的边缘没有金字塔状的绒面结构,是比较光滑的结构,当硅片或电池片受到弯折、震动、热冲击时,能有效避免产生应力集中,因此提高了硅片或电池片的机械强度,降低生产过程中硅片发生碎裂的几率,提高电池片、电池组件产品的可靠性。
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公开(公告)号:CN114361267A
公开(公告)日:2022-04-15
申请号:CN202111516756.8
申请日:2021-12-13
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L31/0224 , H01L31/072 , H01L31/20
Abstract: 本发明涉及一种SHJ太阳电池双层TCO薄膜结构及其制备方法,包括与非晶硅层接触的柱状TCO层和与金属电极接触的等轴TCO层。本发明可以突破单层TCO薄膜的电学性能限制,兼顾了载流子的体纵向传输和表面横向传输,减少载流子复合,提升SHJ太阳电池转化效率。
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公开(公告)号:CN109449257B
公开(公告)日:2021-01-19
申请号:CN201910004393.6
申请日:2019-01-03
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L31/20 , H01L31/0747
Abstract: 本发明提供一种非晶薄膜的后氢化处理方法及硅异质结太阳电池制备方法,后氢化处理方法包括:提供一待处理非晶薄膜,并将其置于一设置有热丝的反应腔室中;向反应腔室中通入反应气体,热丝催化分解反应气体至少产生氢原子,并对待处理非晶薄膜进行热辐射,从而使得氢原子扩散至所述待处理非晶薄膜内,以实现对待处理非晶薄膜的后氢化处理。本发明的非晶薄膜的后氢化处理方法,通过在热丝热辐射条件下,使得原子氢在处理非晶薄膜的过程中扩散到薄膜内,减少薄膜内的悬挂键等缺陷态密度,本发明的后氢化处理方法可以应用到非晶硅/晶体硅异质结太阳电池中,如其窗口材料中,能够显著提高窗口层的钝化性能及透光性能,提高太阳电池的光电转换效率。
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公开(公告)号:CN107623046B
公开(公告)日:2020-06-30
申请号:CN201710740745.5
申请日:2017-08-25
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L31/0392 , H01L31/0445 , H01L31/18
Abstract: 本发明提供一种铜铟镓硒薄膜太阳电池吸收层的后处理方法及基于其的太阳电池制备方法,后处理方法包括:配置具有预设摩尔浓度碱性物质的刻蚀溶液,其中,所述预设摩尔浓度大于8mol/L;提供铜铟镓硒吸收层,并采用所述刻蚀溶液对所述铜铟镓硒吸收层进行刻蚀,以对所述铜铟镓硒吸收层进行表面改性;清洗刻蚀后的铜铟镓硒吸收层,以得到处理后的铜铟镓硒吸收层。通过上述方案,本发明的方法可以修饰铜铟镓硒吸收层的表界面,优化铜铟镓硒吸收层的表面特性,促进浅埋PN结的纵深扩展;减少载流子在缓冲层/吸收层界面处的复合,可提高铜铟镓硒薄膜太阳电池开路电压、提高填充因子以及提高电池转换效率绝对值。
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公开(公告)号:CN111312859A
公开(公告)日:2020-06-19
申请号:CN202010140012.X
申请日:2020-03-03
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L31/18 , H01L31/074
Abstract: 本发明涉及一种重掺杂型硅基薄膜的制备方法,其包括提供衬底并在该衬底上生长具有掺杂元素的轻掺杂型硅基薄膜,通过掺杂气体形成富含激活掺杂元素的氛围,在该氛围下对轻掺杂型硅基薄膜进行后处理以形成重掺杂型硅基薄膜,重掺杂型硅基薄膜的掺杂元素含量大于轻掺杂型硅基薄膜的掺杂元素含量。本发明还提供上述的制备方法得到的重掺杂型硅基薄膜。本发明又提供上述的重掺杂型硅基薄膜在异质结晶体硅太阳电池上的应用。根据本发明的重掺杂型硅基薄膜的制备方法,能够提高硅基薄膜的掺杂效率,对进一步获得高效率异质结晶体硅太阳电池具有突出的意义。
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公开(公告)号:CN107424915A
公开(公告)日:2017-12-01
申请号:CN201710571340.3
申请日:2017-07-13
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L21/02 , H01L31/072 , H01L31/0216 , H01L31/18
CPC classification number: Y02E10/50 , H01L21/02532 , H01L21/02587 , H01L21/02617 , H01L31/02167 , H01L31/072 , H01L31/1876
Abstract: 本发明提供一种不连续结晶硅基薄膜、异质结晶体硅太阳电池及制备方法,不连续结晶硅基薄膜制备包括:提供一晶体硅衬底;于晶体硅衬底的至少一个表面沉积不连续结晶硅基薄膜,其包括无定形硅基结构和结晶化硅基结构。通过上述方案,本发明提供的不连续结晶化硅基薄膜,无序部分用于提高少子寿命,结晶部分用于提高载流子的有效输运,可以有效提高晶体硅衬底的钝化效果;通过调沉积参数可以得到高质量且不完全结晶的硅基薄膜,利用该薄膜内富含的原子氢有效钝化晶体硅表面的悬挂键;利用该薄膜的部分结晶化结构提高载流子寿命和增强场效应,实现对电子和空穴两种载流子的有效收集,从而有效提高表面使用硅基薄膜钝化层的晶体硅太阳电池的转换效率。
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公开(公告)号:CN104319316B
公开(公告)日:2017-04-05
申请号:CN201410608127.1
申请日:2014-10-31
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L31/20 , H01L27/142 , H01L31/0352 , H01L31/075 , H01L31/0224
CPC classification number: Y02E10/50 , Y02P70/521
Abstract: 本发明提出了一种高效薄膜晶硅太阳电池及其自主能源集成芯片的制备方法,该方法采用了硅薄膜外延技术,克服了CMOS集成电路和太阳电池对硅材料掺杂浓度要求不同之间的矛盾;太阳电池采用本征非晶硅层/N型非晶硅层/透明导电膜异质结结构,提高了开路电压和转换效率,有利于提高芯片有效面积和集成度;利用了SOI材料中埋氧层的钝化和光学特性,可以提高薄膜晶硅太阳电池性能。该集成技术中,采用了两次ITO技术,克服了高温热处理对太阳电池性能,特别是开路电压的影响。本发明的制备方法与CMOS工艺具有兼容性,适用于大规模的工业生产。
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公开(公告)号:CN106130480A
公开(公告)日:2016-11-16
申请号:CN201610692861.X
申请日:2016-08-19
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H02S50/10
Abstract: 本发明提供了一种光伏组件户外发电特性与衰减状况测试系统,所述测试系统包括光伏模块、光伏模块选择器、滤波器、转换器、多组串式逆变器、电流‑电压特性曲线测试仪、辐照强度测试仪、环境参数传感器与数据采集仪、热电偶、热电偶选择器以及处理系统。所述测试系统通过对户外工作条件下多种光伏组件或光伏组件串的交直流电学参数、环境参数的测试与比对,可以准确得出各种光伏组件在不同气候环境下的发电特性与衰减状况。本发明可以测试光伏组件或光伏组件串在真实并网条件下的各项参数而不影响其正常工作发电,测试结果精确可靠,可以系统评测光伏组件或光伏组件串的发电特性、可靠性与衰减状况。
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公开(公告)号:CN103820767A
公开(公告)日:2014-05-28
申请号:CN201310736927.7
申请日:2013-12-27
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种改善多晶硅薄膜质量的前处理工艺,其特征在于在铝诱导晶化前,通过控制退火温度和退火时间,有效控制非晶硅中的氢含量;在氮气或氩气保护气体中对非晶硅薄膜进行退火。退火温度为350-500℃,退火时间为0.1-5h。在不同温度下对非晶硅薄膜进行退火处理后,薄膜的氢含量从10%降低到1.4%,从而使通过铝诱导制备的多晶硅薄膜表面干滑完整。本发明可在较低温度和较短时间内制备高质量的多晶硅薄膜。相比于传统AIC制备多晶硅的方法,本发明在AIC之前加了一个退火除氢步骤,可有效的控制前驱体a-Si:H中的氢含量,有利于制备更大晶粒尺寸,应力更小,表面更加平滑完整的多晶硅薄膜。
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