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公开(公告)号：CN114353967A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202011055292.0
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种低温真空低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法，其中，所述低温真空辐射温度参数校准系统包括：真空冷舱，用于模拟低温真空环境；红外温差辐射发射装置，其对应所述红外温差辐射发射装置设于所述真空冷舱内，用于发出具有设定温差的第一红外辐射；准直光学装置，其设于所述真空冷舱内，用于接收所述第一红外辐射并将所述第一红外辐射准直处理后发射至目标红外载荷，以供所述目标红外载荷进行噪声等效温差校准和/或最小可分辨温差校准和/或最小可探测温差校准。解决了在轨空间的辐射温度参数难以校准，测试数据准确度无法评定，使得红外载荷低温红外目标探测性能测试产生了隐患的问题。
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公开(公告)号：CN110018547A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201810017157.3
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种用于宽温范围红外平行光管的机械被动消热差装置，该机械被动消热差装置包括平台支撑组件、第一光学元件底座、第二光学元件底座和第一消热差组件，第一光学元件底座设置在平台支撑组件上，第二光学元件底座设置在平台支撑组件上，第一消热差组件设置在第一光学元件底座和第二光学元件底座之间，第一消热差组件包括沿同一轴线方向连接的第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒，在宽温范围内，当温度发生变化时，第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒彼此进行热补偿以保证第一光学元件底座和第二光学元件底座之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外平行光管在大温差变化条件下成像质量差的技术问题。
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公开(公告)号：CN114323061B
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202011055701.7
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明公开了一种星光模拟器几何参数现场校准装置及系统，装置包括光学元件、平移机构、图像采集装置及数据处理装置；所述光学元件安装于所述平移机构上，所述图像采集装置安装于所述平移机构的一端；所述光学元件用于将待校准星光模拟器的出射光进行折转，所述平移机构用于带动所述光学元件和所述图像采集装置进行平移，平移过程中所述图像采集装置用于采集出射光经所述光学元件转折后形成的星光图像并发送至所述数据处理装置，所述数据处理装置用于根据所述星光图像计算所述待校准星光模拟器的平行度；该装置无需使用准直仪，避免人眼对准和读书误差，提高星光模拟器平行度校准的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN113916252B
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202010644798.9
申请日：2020-07-07
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 一种可调式超微弱标准光子源，包括：双积分球体上、内设有平行的出光口及第三挡屏，第三挡屏穿过圆心，两个辅助球体分别通过遮光快门与双积分球体相连，第一灯箱安装在第一辅助球体上，与第一遮光快门同轴，轴心通过第一辅助球体圆心，第一挡屏安装在第一辅助球体内，通过第一辅助球体圆心，与第三挡屏平行，第一强度调节机构安装在第一灯箱上，第一强度调节机构轴线与第一灯箱轴线呈90°角；第二灯箱安装在第二辅助球体上，与第二遮光快门同轴，轴心通过第二辅助球体圆心，第二挡屏安装在第二辅助球体内，通过第二辅助球体圆心，与第三挡屏平行，第二强度调节机构安装在第二灯箱上，第二强度调节机构轴线与第二灯箱轴线呈90°角。
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公开(公告)号：CN113916252A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010644798.9
申请日：2020-07-07
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 一种可调式超微弱标准光子源，包括：双积分球体上、内设有平行的出光口及第三挡屏，第三挡屏穿过圆心，两个辅助球体分别通过遮光快门与双积分球体相连，第一灯箱安装在第一辅助球体上，与第一遮光快门同轴，轴心通过第一辅助球体圆心，第一挡屏安装在第一辅助球体内，通过第一辅助球体圆心，与第三挡屏平行，第一强度调节机构安装在第一灯箱上，第一强度调节机构轴线与第一灯箱轴线呈90°角；第二灯箱安装在第二辅助球体上，与第二遮光快门同轴，轴心通过第二辅助球体圆心，第二挡屏安装在第二辅助球体内，通过第二辅助球体圆心，与第三挡屏平行，第二强度调节机构安装在第二灯箱上，第二强度调节机构轴线与第二灯箱轴线呈90°角。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110018547B
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN201810017157.3
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种用于宽温范围红外平行光管的机械被动消热差装置，该机械被动消热差装置包括平台支撑组件、第一光学元件底座、第二光学元件底座和第一消热差组件，第一光学元件底座设置在平台支撑组件上，第二光学元件底座设置在平台支撑组件上，第一消热差组件设置在第一光学元件底座和第二光学元件底座之间，第一消热差组件包括沿同一轴线方向连接的第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒，在宽温范围内，当温度发生变化时，第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒彼此进行热补偿以保证第一光学元件底座和第二光学元件底座之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外平行光管在大温差变化条件下成像质量差的技术问题。
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公开(公告)号：CN110017900A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201810017158.8
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种高低温红外成像系统检测装置，高低温红外成像系统检测装置包括平台支撑组件、目标黑体组件、背景黑体组件、靶标组件、高低温光学组件、第一消热差机构和第二消热差机构，目标黑体组件、背景黑体组件和靶标组件均可拆卸地设置在平台支撑组件上，目标黑体组件所产生的目标红外辐射和背景黑体组件所产生的背景红外辐射均通过靶标组件进入高低温光学组件以形成带有背景的红外目标，第一消热差机构用于保证靶标组件和次镜单元之间的距离不变，第二消热差机构用于保证次镜单元和主镜单元之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外成像系统检测装置无法实现深空背景、复杂背景、宽温范围下的目标仿真测试的技术问题。
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公开(公告)号：CN106885632B
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201710125038.5
申请日：2017-03-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及一种真空紫外光谱辐射计校准方法及装置，所述方法包括：光谱辐射亮度响应度校准、光谱辐射照度响应度校准和/或波长准确度校准，上述校准均是在无油真空仓中进行的。所述装置包括光谱辐射亮度响应度校准机构、光谱辐射照度响应度校准机构和波长准确度校准机构。国内目前尚无适用于真空紫外光谱辐射计的校准装置，采用本发明的真空紫外光谱辐射计校准方法及装置，可在发射前即在地面实验室真空紫外光谱辐射计的多个参数进行校准，有效保证了真空紫外光谱辐射计获取数据的准确性，对获取太阳和地球表面等日地空间环境的光谱信息等均有着重大意义。
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公开(公告)号：CN118169867A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211586591.6
申请日：2022-12-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B26/08
Abstract: 本发明提供了一种采用磁吸限位的电动光路切换机构，包括反射镜组件、镜座、电动旋转组件、底座和磁吸定位限位组件，电动旋转组件包括旋转外壳、电机和成对角接触轴承，镜座与旋转外壳固定连接，电机的输出轴可带动旋转外壳转动，成对角接触轴承设置在电机的输出轴与旋转外壳之间，磁吸定位限位组件包括第一限位组件、第二限位组件、第一、第二、第三磁钢和撞块，第一限位组件和第二限位组件间隔设置在底座上，第一磁钢设置在第一限位组件上，第二磁钢设置在第二限位组件上，撞块设置在旋转外壳上，第三磁钢设置在撞块上，第三磁钢分别与第一和第二磁钢相互吸引。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中光路切换机构结构复杂，成本高的技术问题。
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公开(公告)号：CN118168667A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202211583348.9
申请日：2022-12-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明提供了一种使用弹簧定位摆镜进行光路切换的零平衡比对装置，包括标准黑体、光学系统、红外探测组件和综合控制系统，光学系统包括摆镜组件、光阑组件、衰减组件和汇聚镜头，光阑组件用于光路装调时调整被测黑体及标准黑体的通光光束以使两侧光路辐射亮度保持平衡，摆镜组件包括反射镜组件、镜座、旋钮、转轴、定位限位装置和底座，汇聚镜头用于将光束汇聚至红外探测组件，红外探测组件用于实现对红外辐射能量的探测，综合控制系统用于完成对标准黑体、光学系统以及红外探测组件控制及数据采集处理以实现零平衡光学辐射比对。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中零平衡光学辐射比对装置结构均较复杂，成本高的技术问题。
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