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公开(公告)号：CN112286106B
公开(公告)日：2022-02-18
申请号：CN202011200622.0
申请日：2020-10-30
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G05B19/042 , G04F5/14
Abstract: 本发明提供了一种微波类原子钟用的探测信号通用化产生装置，包括：恒温压控晶振、时钟分配电路、DDS时钟产生电路、上变频本振电路、FPGA控制电路、DDS频率合成电路、程控衰减器以及后级π网络。恒温压控晶振输出晶振信号；时钟分配电路将晶振信号分配输出至DDS时钟产生电路、上变频本振电路及FPGA控制电路；上变频本振电路根据时钟信号产生本振信号；FPGA控制电路控制上变频本振电路、DDS频率合成电路及程控衰减器的参数；DDS频率合成电路接收DDS时钟产生电路产生的倍频时钟并产生预设时序的信号，预设时序信号与本振信号进行上混频后依次输出至程控衰减器及后级π网络，以调整馈入微波谐振腔的探测信号功率。
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公开(公告)号：CN112286106A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202011200622.0
申请日：2020-10-30
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G05B19/042 , G04F5/14
Abstract: 本发明提供了一种微波类原子钟用的探测信号通用化产生装置，包括：恒温压控晶振、时钟分配电路、DDS时钟产生电路、上变频本振电路、FPGA控制电路、DDS频率合成电路、程控衰减器以及后级π网络。恒温压控晶振输出晶振信号；时钟分配电路将晶振信号分配输出至DDS时钟产生电路、上变频本振电路及FPGA控制电路；上变频本振电路根据时钟信号产生本振信号；FPGA控制电路控制上变频本振电路、DDS频率合成电路及程控衰减器的参数；DDS频率合成电路接收DDS时钟产生电路产生的倍频时钟并产生预设时序的信号，预设时序信号与本振信号进行上混频后依次输出至程控衰减器及后级π网络，以调整馈入微波谐振腔的探测信号功率。
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公开(公告)号：CN109408111A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811313290.X
申请日：2018-11-06
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G06F8/71
Abstract: 本发明公开了一种针对空间应用的高可靠ASIC芯片参数配置方法，包括以下步骤：1)在FPGA的芯片内部划分一部分可编程存储区域，在其中存放参数配置数据，其功能逻辑、参数值、时序接口根据PROM接口要求进行一致化设计；2)在FPGA验证板上，针对PROM对ASIC进行多次参数读取校验验证；3)当完成在FPGA基础上进行的参数配置预验证完成后，将FPGA上划出的可编程存储区域中的参数区烧录至PROM芯片，参数区以外程序区域进行ASIC流片工作。本发明实现高可靠ASIC芯片参数配置，防止ASIC芯片在空间环境中SRAM单粒子翻转。
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公开(公告)号：CN106782667A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611041190.7
申请日：2016-11-11
Applicant: 上海航天测控通信研究所
CPC classification number: G11C29/50 , G11C29/028 , G11C29/56
Abstract: 本发明提供了一种抗辐照栅氧击穿型PROM存储器编程后老化试验方法和装置，方法包括：步骤1，将编程后的抗辐照栅氧击穿型PROM存储器进行第一温度烘焙，持续至少64小时后完成静态老化，所述第一温度为140～150℃；步骤2，调整温度至第二温度，向静态老化后的所述存储器发送激励信号，并采集所述存储器响应所述激励信号获得的信号处理数据，持续至少160小时后完成动态老化，所述第二温度为100～125℃；步骤3，根据预存的校验数据对所述信号处理数据进行校验。本发明能够让所述编程后的抗辐照栅氧击穿型PROM存储器度过早期失效期，将潜在的缺陷尽早暴露，剔除缺陷芯片。
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公开(公告)号：CN113471661B
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202110754662.8
申请日：2021-07-02
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明提供了一种带指向机构大口径反射面天线装星及测试方法，包括以下步骤：1、反射面天线在模拟工装安装到位，调整状态；2、反射面天线火工品压紧点解锁，然后展开到位；3、展开机构安装面与模拟工装紧固螺钉解锁，然后平移，与模拟工装分离；4、测量模拟工装上接口空间位置状态，完成后移走模拟工装；5、卫星转移至步骤1中模拟工装的位置，调整卫星姿态复原接口；6、将反射面天线平移至步骤2中的位置；7、展开机构安装面与卫星对应接口连接固定；8、反射面天线收拢到位后，进行火工品压紧固定。本发明中的装星及测试方法，克服了大口径反射面共形设计天线的装星操作困难，实现了在系统状态下的天线功能和性能指标的地面测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111487500B
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202010515398.8
申请日：2020-06-08
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供了一种星载原子钟高稳晶振的测试系统和方法，该系统包括：测试控制板、阿伦方差测试仪、频谱分析仪、万用表、直流电源以及参考源，所述直流电源向所述测试控制板和被测的高稳晶振提供直流电，所述被测的高稳晶振在加电之后输出的射频信号经过所述测试控制板之后，得到三路测试信号；第一路测试信号输入所述阿伦方差测试仪，第二路测试信号输入所述频谱分析仪，第三路测试信号输入所述万用表，从而得到所述高稳晶振的压控中心点、压控频偏线性度、输出信号稳定度以及相位噪声。本发明能够实现对晶振合理的筛选，以匹配不同的原子钟电路及物理系统，使得原子钟的性能能够达到最优。
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公开(公告)号：CN113418952A
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202110760206.4
申请日：2021-07-05
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本申请提供了一种热真空试验热应力测试方法，包括如下步骤：步骤1：被测件测点位置粘贴应变片和热电耦，应变片测量测点应变值，热电偶测量测点即时温度；步骤2：选择与被测件相同材料的试片，试片上粘贴应变片和热电耦，应变片测量试片应变值，热电偶测量试片即时温度；步骤3：被测件与试片放置在真空罐内，使试片温度与被测件的温度保持一致；步骤4：连接应变片和热电偶线缆，被测件测点引线与补偿用的试片测点引线共线连接；步骤5：热真空试验时，观察试验温度变化情况，确保试件温度与被测件温度保持一致，并实时记录各工况应变值和对应温度值；步骤6：根据应变测试数据，计算得出被测件测点在不同温度条件下的热应力数据。
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公开(公告)号：CN111487500A
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN202010515398.8
申请日：2020-06-08
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供了一种星载原子钟高稳晶振的测试系统和方法，该系统包括：测试控制板、阿伦方差测试仪、频谱分析仪、万用表、直流电源以及参考源，所述直流电源向所述测试控制板和被测的高稳晶振提供直流电，所述被测的高稳晶振在加电之后输出的射频信号经过所述测试控制板之后，得到三路测试信号；第一路测试信号输入所述阿伦方差测试仪，第二路测试信号输入所述频谱分析仪，第三路测试信号输入所述万用表，从而得到所述高稳晶振的压控中心点、压控频偏线性度、输出信号稳定度以及相位噪声。本发明能够实现对晶振合理的筛选，以匹配不同的原子钟电路及物理系统，使得原子钟的性能能够达到最优。
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公开(公告)号：CN107888275A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201711079878.9
申请日：2017-11-06
Applicant: 上海航天测控通信研究所
IPC: H04B7/185 , H04B17/00 , H04B17/391
CPC classification number: H04B7/18517 , H04B17/0085 , H04B17/391
Abstract: 本发明提供了一种卫星数传分系统通用基带数据模拟源，包括：网络通讯模块、高速存储模块、数据发送模块、移相模块；其中：所述高速存储模块用于存储多种数据源的参数信息，并通过网络通讯模块与主控计算机进行数据交互；所述数据发送模块用于接收主控计算机发送的指令，并发送数据至移相模块；所述移相模块用于调节从数据发送模块接收到的数据的钟码关系，并将调节后的数据作为模拟数据源输出。本发明中发送的数据源的数据格式和速率均可按要求进行灵活设置，通过配置相关参数，可以实现对输出数据的频率和相位的任意调节；从而满足卫星数传分系统测试要求，适用于多个不同型号的卫星。
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公开(公告)号：CN107819507A
公开(公告)日：2018-03-20
申请号：CN201711171382.4
申请日：2017-11-21
Applicant: 上海航天测控通信研究所
Abstract: 本发明公开了一种针对卫星测控系统的多层次测试系统的配置方法及测试方法，包含了强制性的人机互动系统参数标校，严格划分的三层次软硬件组成，两层次双客户端的信息管理监测机制，以及实时数据查询与判读方式，还包含测试数据包的导出。本发明具有很好的通用性和良好的可移植性，可以应用于标准化型谱化的宇航产品的测试系统，提供灵活高效的测试解决方案，以满足卫星系统不断提升的可靠度需求。
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