公开(公告)号：CN109390245A

公开(公告)日：2019-02-26

申请号：CN201810902836.9

申请日：2018-08-09

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴民哲 ,  高汀勳 ,  朴志庸 ,  李济铉 ,  金大新

IPC: H01L21/66 ,  G06K9/62 ,  G06T7/00

Abstract: 一种使用晶片图分析器分析晶片图的方法包括：产生多个第一晶片图，所述多个第一晶片图各自显示出对于多个信道中的对应信道而言第一晶片的特性。对所述多个第一晶片图一同进行自动编码以提取第一特征。所述方法还包括：判断所述第一特征是否是是有效图案；在所述第一特征是有效图案时，基于非监督学习对所述第一特征的类型进行分类；以及提取被分类成与所述第一特征同一类型的特征的代表性图像。

公开(公告)号：CN108171660A

公开(公告)日：2018-06-15

申请号：CN201711252449.7

申请日：2017-12-01

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李济铉 ,  张诚桓 ,  郑盛允 ,  郑载勋

IPC: G06T5/00 ,  G06T17/20 ,  G06F17/50

CPC classification number: G06T17/205 ,  G06K9/00201 ,  G06K9/40 ,  G06K9/6267 ,  G06T5/002 ,  G06F17/5018 ,  G06T17/20

Abstract: 一种降低结构噪声的方法、装置及基于计算机的电子系统。为降低结构噪声，所述方法包括获得表示输入结构的输入数据且通过将所述输入数据的多个结构元素中的每一个结构元素的数据分类成信号分量或噪声分量来设定边界条件。基于所述边界条件对所述输入数据执行平滑运算。通过降低所述输入结构的噪声来提供表示输出结构的输出数据。