半导体装置
    11.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116801712A

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202211221574.2

    申请日:2022-10-08

    Inventor: 姜埈求 李珍秀

    Abstract: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:下结构;下电极,在下结构上;介电层,在下电极上;以及上电极,在介电层上,其中,下电极包括弯曲减小层和在弯曲减小层与介电层之间的介电常数增大层,介电常数增大层被构造为增大介电层的介电常数,并且弯曲减小层的弹性模量大于介电常数增大层的弹性模量。

    半导体装置
    12.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116456720A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202210978573.6

    申请日:2022-08-16

    Abstract: 提供了一种半导体装置,所述半导体装置包括:底电极,位于基底上;支撑图案,位于底电极与相邻底电极之间;顶电极,覆盖底电极和支撑图案;以及介电层,位于底电极与顶电极之间,并且位于支撑图案与顶电极之间。底电极可以包括包含缝隙的第一部分和位于第一部分上的第二部分,第二部分的顶端可以设置在比支撑图案的上表面低的高度处,并且第二部分的底端的一部分可以暴露于缝隙。

    在下电极结构上包括支撑图案的半导体器件

    公开(公告)号:CN112447719A

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN202010488922.7

    申请日:2020-06-02

    Abstract: 提供了半导体器件。半导体器件包括下电极结构的第一部分,下电极结构的第一部分位于基底上。半导体器件包括第一支撑图案,第一支撑图案与下电极结构的第一部分的侧壁的第一部分接触。半导体器件包括下电极结构的第二部分,下电极结构的第二部分位于下电极结构的第一部分的侧壁的第二部分上。半导体器件包括上电极,上电极位于下电极结构的第二部分上和第一支撑图案上。此外,半导体器件包括介电层,介电层位于上电极与下电极结构的第二部分之间。

    集成电路器件及其制造方法
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112071840A

    公开(公告)日:2020-12-11

    申请号:CN202010406133.4

    申请日:2020-05-14

    Abstract: 本公开提供了一种集成电路器件及其制造方法。该集成电路器件包括电容器结构,其中电容器结构包括:在基板之上的底电极;在底电极的侧壁上的支撑物;在底电极和支撑物上的电介质层;以及在电介质层上并覆盖底电极的顶电极。底电极包括:基底电极层,在基板之上并在垂直于基板的顶表面的第一方向上延伸;以及导电覆盖层,包括铌氮化物,在基底电极层的侧壁与电介质层之间以及在基底电极层的顶表面与电介质层之间。

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