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公开(公告)号：CN1819376A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：CN200610049551.2
申请日：2006-02-20
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种微光纤环形结光学谐振腔。以微光纤制成环形结谐振腔，环形结的一端为光信号输入端，环形结的另一端与锥形光纤的光信号输出端耦合。本发明的谐振腔具有高Q(品质因子)，目前最大的Q值已可以作到60000左右，具有良好的稳定性，易于控制和调节，并且可以在水溶液中和低折射率衬底上使用。
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公开(公告)号：CN1234648C
公开(公告)日：2006-01-04
申请号：CN200410016495.3
申请日：2004-02-20
Applicant: 浙江大学
IPC: C04B35/624 , C04B35/04
Abstract: 本发明公开的制备镁硼氧纳米丝的方法，采用的是溶胶-凝胶法，步骤如下：1)将99%分析纯的硝酸镁、硼酸和柠檬酸，按摩尔比硝酸镁∶硼酸∶柠檬酸＝1∶1∶1到1∶10∶10的比例配成溶液，在10℃～500℃下烘干，得到凝胶状产物；2)将凝胶状产物在100℃～1300℃焙烧5分钟到200小时，生成白色的粉状物；3)将上述得到的白色粉状物溶于水，离心除去可溶的B2O3，制得镁硼氧(MgB4O7)纳米丝。本发明工艺简单，易形成大批量生产，制得的镁硼氧纳米丝性能优良。将制得的镁硼氧纳米丝与其他块体材料有机结合起来，有望改善陶瓷材料的力学性能，增强陶瓷材料的韧性和强度。
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公开(公告)号：CN119470348B
公开(公告)日：2025-05-27
申请号：CN202411575267.3
申请日：2024-11-06
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种超衍射极限的布里渊散射显微成像方法和系统，利用泵浦‑探测的方式激发样品表面或内部的受激布里渊散射，并基于受激布里渊散射机制，利用光场调控改变布里渊增益在探测光斑内的空间分布，通过点扩散函数改造、结构光照明或高阶布里渊散射实现空间超衍射成像与布里渊散射光谱测量的统一，最终实现对样品的非接触式、超衍射极限布里渊散射显微成像。
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公开(公告)号：CN112656370B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202011379488.5
申请日：2020-11-30
Applicant: 浙江大学医学院附属第一医院
Abstract: 一种甲状旁腺位置探测仪器，包括近红外自体荧光激发器件和自体荧光接收器件，近红外自体荧光激发器件包括激光二极管以及聚光透镜；自体荧光接收器件包括前级镜头、二向色镜以及近红外相机，前级镜头、二向色镜和近红外相机同轴设置，前级镜头的进光口与二向色镜的反射光出口相接；二向色镜设置于聚光透镜的出光口处，内部经反射斜面分隔成前、后两部，且反射斜面表面镀膜；二向色镜的前端设有反射光出口、后端设有透射光出口，侧面设有近红外光入射口；近红外相机包括后级镜头和近红外感光芯片，后级镜头的透射光进光口与二向色镜的透射光出口相接；近红外感光芯片设置于后级镜头的出光口处。本发明的有益效果是：迅速的检测出甲状旁腺位置。
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公开(公告)号：CN117434735A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311455748.6
申请日：2023-11-03
IPC: G02B27/09
Abstract: 本发明涉及一种镜头，具体涉及一种长工作距线光斑整形镜头以及一种线光斑成像系统，包括第一柱面镜组和第二柱面镜组；所述的第一柱面镜组于Y‑Z平面内的光焦度为0，用于会聚X‑Z平面内的光束；所述的第二柱面镜组于X‑Z平面内的光焦度为0，用于会聚Y‑Z平面内的光束；所述的线光斑整形镜头在X‑Z平面内像距大于物距，在Y‑Z平面内物距大于像距；或，所述的线光斑整形镜头在Y‑Z平面内像距大于物距，在X‑Z平面内物距大于像距。与现有技术相比，本发明解决现有技术中形成线光斑的整形镜头工作距离短，无法适配于大体积、工作距离短的成像镜头使用，实现了工作距离长、成像质量好的线光斑整形镜头。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117330574A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311375598.8
申请日：2023-10-23
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种用于工件表面质量检测的移频超分辨成像系统及方法，属于超分辨成像领域。本发明采用反射式傅里叶叠层成像系统配合自动位移平台，提出利用光源和相机固定、待测工件旋转来实现等效的变角度斜照明，改变旋转角度完成待测样品频谱不同程度的搬移，将高频成分搬移到系统通带内，从而实现超分辨率远距离成像。本发明能够突破宏观成像系统的衍射极限，实现超分辨成像，并使得移频超分辨成像能够应用于工件表面质量的远距离、高精度、自动化检测，拓展了移频超分辨成像在工业检测场景中的应用。
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公开(公告)号：CN116660285B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202310920882.2
申请日：2023-07-26
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种晶圆特征光谱在线检测装置，包括发散光源、透镜、晶圆、物镜、二向色镜、带阻滤光片、会聚透镜、小孔、准直透镜、分光器件、成像会聚透镜、线阵探测器以及转台，该在线检测装置可以在线对无图案晶圆表面进行扫描，并根据表面的发光光谱检测和分析晶圆缺陷，同时也可以辅助科研人员对晶体缺陷的发光特性进行研究，辅助产线的员工更好的识别缺陷，该在线检测装置可以结合其他成像装置，能够在获取缺陷位置后能够立即对晶体缺陷进行光谱分析，避免离线检测，大幅提升了检测效率和准确性，同时，也可以对无图案晶圆进行全局扫描，获得晶圆上的每一点光谱信息。
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公开(公告)号：CN116660285A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310920882.2
申请日：2023-07-26
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种晶圆特征光谱在线检测装置，包括发散光源、透镜、晶圆、物镜、二向色镜、带阻滤光片、会聚透镜、小孔、准直透镜、分光器件、成像会聚透镜、线阵探测器以及转台，该在线检测装置可以在线对无图案晶圆表面进行扫描，并根据表面的发光光谱检测和分析晶圆缺陷，同时也可以辅助科研人员对晶体缺陷的发光特性进行研究，辅助产线的员工更好的识别缺陷，该在线检测装置可以结合其他成像装置，能够在获取缺陷位置后能够立即对晶体缺陷进行光谱分析，避免离线检测，大幅提升了检测效率和准确性，同时，也可以对无图案晶圆进行全局扫描，获得晶圆上的每一点光谱信息。
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公开(公告)号：CN116399880A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310236806.X
申请日：2023-03-13
Abstract: 本发明涉及一种晶圆缺陷检测系统，具体涉及一种在线光谱缺陷检测系统及其检测方法，包括暗场光源、待测件、物镜、筒镜和成像机构；还包括半反半透镜、扩束镜、二维振镜、准直透镜、二向色镜、激光光源和光学检测机构；半反半透镜可动的设置于物镜与筒镜之间，且位于荧光的光路的同一水平面内。与现有技术相比，本发明解决现有技术中需要频繁更换滤光片以及每次更换滤光片后需要重新完整扫描的缺陷，实现了在线对重点关注缺陷进行快速荧光光谱分析，有效提高检测效率，并能够降低定位差错的情况。
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公开(公告)号：CN116327085A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310064566.X
申请日：2023-02-06
Abstract: 本发明公开了一种内窥镜手轮阻尼调节装置。包括主轴、手轮本体机构、阻尼机构和可调机构，主轴上套装有手轮本体机构，手轮本体机构内部设有阻尼机构，阻尼机构之上的主轴上安装有用于调节阻尼机构的可调机构；通过转动手轮本体机构进而带动链轮旋转输出带动内窥镜手轮工作，通过阻尼机构产生链轮旋转输出的阻尼，通过可调机构对阻尼机构产生输出的阻尼进行调节。本发明提供的方案简单且容易调整，便于补偿内窥镜装配过程中各种零配件误差引起的力矩不均衡问题，使得内窥镜手轮阻尼一致，实现量产过程中的产品一致性。
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