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公开(公告)号：CN201515370U
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN200920314449.X
申请日：2009-11-10
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: H04B10/12
Abstract: 一种可与计算机通信的自发式实验用光纤通信系统，它涉及光纤通信领域。本实用新型解决了现有实验用光纤通信系统外加函数发生器带来的实验成本的浪费和不能满足与计算机通信并对信号处理困难的问题。本实用新型包括微型计算机(1)、可编程器件CPLD(2)、函数发生模块(3-1)、模拟信号处理模块(3-2)、数字信号处理模块(3-3)、第一接口电路(4)、发端机(5)、第一光环形器(7)、光纤(8)、第二光环形器(7-1)、收端机(10)、第二接口电路(11)。本实用新型是一种实验用光纤通信系统，适用于实验者学习单片机的应用知识。
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公开(公告)号：CN208672947U
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201821594499.3
申请日：2018-09-29
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G02F1/01
Abstract: 本实用新型提供了一种基于石墨烯-微纳光纤结构的全光调制装置，它包括泵浦光光源、信号光光源、光纤耦合器、一号光纤、调制探头、二号光纤以及滤波器。其中，调制探头是由石墨烯包层和双锥形微纳光纤组成，石墨烯紧密包裹在双锥形微纳光纤的锥体部分上。本实用新型石墨烯具有非常良好的光学特性，是目前已知载流子迁移率最快的材料，具有饱和吸收效应，因此在全光纤系统中可用于实现全光调制。相对于其他类型的光调制器，本实用新型采用的石墨烯-微纳光纤结构的全光调制装置，在全光信号处理中具备调制速率高、稳定性好、易制备等特点，在未来的全光网络系统中可发挥重要作用。
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公开(公告)号：CN207501987U
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201721511029.1
申请日：2017-11-14
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01D21/02
Abstract: 本实用新型提供了一种基于光纤光栅的磁场与温度双参量传感器，具体涉及一种基于光纤光栅的磁场与温度双参量传感器。本实用新型针对磁场和温度之间交叉敏感的问题，采用单根光纤的双参量的测量。本实用新型包含ASE宽带光源，光纤光栅磁场传感器，光纤光栅温度传感器和光谱仪。磁场传感头和温度传感头均通过一根单模光纤连接，连接后的传感头两侧分别连接ASE宽带光源和光谱仪，在光谱仪上显示磁场测量和温度测量的透射光谱。通过光谱仪测出外界磁场与温度的变化，从而达到对温度和磁场双参量测量的目的。
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公开(公告)号：CN207335782U
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201721509580.2
申请日：2017-11-14
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本实用新型提供了一种高稳定性全光纤磁场与温度双参量测量传感头，涉及光纤磁场和温度传感技术领域，具体涉及一种高稳定性全光纤磁场与温度双参量测量传感头。本实用新型是为了解决在现有传感领域中，现有的光纤传感器外形较大，且无法稳定的在单根光纤上实现磁场与温度的双参量测量的问题。本实用新型传感头中包括一号多模光纤、微纳光纤固定装置、微纳光纤、二号多模光纤、光纤光栅、传感头保护壳。其中，微纳光纤固定装置为有机玻璃保护壳，且其内部填注磁流体，并采用物理方法将磁流体包覆到微纳光纤。可通过观察经过传感头后的光的干涉谱波峰和透射谱波谷的横向漂移变化，从而辨别出外界磁场与温度的变化情况。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN206906527U
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201720814976.1
申请日：2017-07-07
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01R31/12
Abstract: 本实用新型提供了基于时分复用技术的光纤放电检测装置，涉及光纤放电检测技术领域，具体涉及一种基于时分复用技术的光纤放电检测装置。本实用新型是为了解决现有电力系统现有放电检测装置安全性低、稳定性差、灵敏度欠佳、成本高昂等问题，同时亦为了解决光纤电流互感装置功能单一的问题。本实用新型包含一级光信号调制系统，二级光信号调制系统和光信号解调系统。其中，一级光信号调制系统包括光电调制器，可调压电源和脉冲信号发生器；二级光信号调制系统包含磁场传感头、温度传感头、形变传感头及相应的延迟光纤和耦合器；光信号解调系统包含光电放大板和示波器；通过测量衰荡时间来间接测量磁场、温度和形变情况。
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公开(公告)号：CN206193216U
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201621281604.9
申请日：2016-11-28
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01R33/032
Abstract: 本实用新型提供了一种基于马赫‑曾德干涉的微纳光纤磁场传感器，涉及光纤磁场传感技术领域，具体涉及一种基于马赫‑曾德干涉的微纳光纤磁场传感器。本实用新型是为了解决在磁场传感领域中，现有磁场传感技术灵敏度低、结构复杂、生产成本高昂、操作复杂的问题。本实用新型包括ASE光源、磁场传感头、光信号处理器。其中，磁场传感头中包括一号光纤耦合器、磁性敏感材料、二号光纤耦合器。其中，磁性敏感材料为基质为Fe3O4，基液为煤油，表面活性剂为油酸的磁流体。通过测量干涉光谱的改变来间接得到磁场的改变。
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公开(公告)号：CN205484007U
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201620069635.1
申请日：2016-01-25
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01N21/17
Abstract: 一种磁光材料的Verdet常数测量装置，属于材料光学性质测试技术领域。具体涉及一种磁光材料的Verdet常数测量装置。本实用新型是为了解决在光学电流传感器制作过程中，精确测量光学电流传感器的传感头所使用的磁光材料的Verdet常数的问题。本实用新型包括一号底座、激光器、光阑、起偏器、一号电磁铁、特斯拉计、待测磁光材料、二号底座、二号电磁铁、恒压电源、检偏器、测角仪、光功率计。其中，激光器下带有一号支架，光阑下带有二号支架，起偏器下带有三号支架，二号底座下带有四号支架，检偏器下带有五号支架，光功率计下带有六号支架。
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公开(公告)号：CN204228123U
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201420786016.5
申请日：2014-12-12
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 基于偏振光散射法检测工件表面综合性能参数的装置，属于光学检测领域，本实用新型为解决现有加工工件表面性能检测装置只能检测单一特征参数，不能准确、快速、简便地检测综合性能参数的问题。本实用新型激光入射至分光镜分光，水平激光通过扩束器、起偏器和反光镜入射至工件表面，反射后入射至电荷耦合阵列检测器；垂直激光通过扩束器、起偏器和分光镜分为水平激光和垂直激光；水平激光通过透镜入射至电荷耦合阵列检测器；垂直激光通过偏振分光镜分为水平S光和垂直P光；水平S光通过反光镜和透镜入射至工件表面，反射后入射至光电二极管阵列；垂直P光通过透镜入射至工件表面，反射后入射至光电二极管阵列。用于检测加工工件表面综合特征参数。
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公开(公告)号：CN204101614U
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201420664045.4
申请日：2014-11-08
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01R15/24
Abstract: 一种基于六端口光电检测装置的光学电流互感器，涉及光学电流互感器领域。解决了目前的光学电流互感器系统成本高、系统利用率低的问题。起偏器将外部光源输出的光转变为线偏振光，并入射至调制器，调制器对该线偏振光进行解调并经光纤入射至一个四分之一波片，四分之一波片将调制后的线偏振光转变为圆偏振光并入射至分束器，分束器将该圆偏振光分成强度相等的六束光，每一束光分别入射至一个光输入连接器，每个光输入连接器的出射光分别经光纤入射至一个四分之一波片，每个四分之一波片的出射光分别经一个检偏器和一个光输出连接器后通过光纤入射至六端口光电检测器，六端口光电检测器输出电信号。本实用新型适用于对载流导线进行检测。
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