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公开(公告)号:CN203037782U
公开(公告)日:2013-07-03
申请号:CN201220699350.8
申请日:2012-12-17
Applicant: 华南理工大学
IPC: G01R31/01
Abstract: 本实用新型公开了一种批量测试发光二极管器件寿命的设备结构,包括机柜、设置在机柜内的多层滑动式抽屉、信号转接模块以及用于控制器件工作的计算机,所述计算机通过第一线缆与信号转接模块连接,所述每一层抽屉内固定有器件测试模块,在所述每块器件测试模块上安装有若干个用于放置待测试器件的测试盒,所述每一层抽屉内的器件测试模块通过第二线缆与信号转接模块连接。本实用新型可以同时对批量的发光二极管器件进行测试,且结构简单,布局紧凑,实施方便,易于维修检查,解决了现有设备器件安装及取下器件不方便,难以满足批量测试要求的技术问题,具有良好的应用前景。
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公开(公告)号:CN202695446U
公开(公告)日:2013-01-23
申请号:CN201220257461.3
申请日:2012-05-31
Applicant: 广州新视界光电科技有限公司 , 华南理工大学
IPC: H01L27/32
Abstract: 本实用新型公开了一种有源矩阵有机发光二极管背板单元像素电路,包括一开关晶体管、一驱动晶体管、一存储电容、一扫描控制线、一电源控制线、一数据控制线和一底发射型OLED器件;所述开关晶体管的源极作为存储电容的上极板,所述电源控制线作为存储电容的下极板,开关晶体管绝缘层作为存储电容的介电层。本实用新型有效利用了电源控制线的走线区域形成存储电容下极板,使像素开口率得到提高,从而有效延缓薄膜晶体管和OLED器件的老化速度,提高OLED显示器的寿命。
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