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公开(公告)号：CN104347122A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310330220.6
申请日：2013-07-31
Applicant: 华为技术有限公司 , 中国科学院计算技术研究所
IPC: G11C29/42
CPC classification number: G06F11/1068 , G06F11/1044 , G06F11/108 , G11C29/52
Abstract: 本发明公开了一种消息式内存模组的访存装置，包括：读写模块，用于将当前读写周期内待存储的SCBC存储到对应的DRAM中；处理模块，用于对一个内存行中的每个SCBC分别计算一组检错码，对一个内存行中的全部SCBC计算一组纠错码；所述读写模块，还用于将检错码存储在该内存行的第（M+2）个DRAM中，将纠错码存储在该内存行的第Z个DRAM中，Z为正整数且1≤Z≤（M+1），连续（M+1）个内存行中的纠错码分别存储在不同的DRAM中。本发明实施例还提供相应的方法。本发明技术方案以SCBC为基本读写单位进行细粒度编码保护，支持可变粒度访存，可以实现对单个DRAM中任意多位错误进行纠错。
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公开(公告)号：CN104346234A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201310345355.X
申请日：2013-08-09
Applicant: 华为技术有限公司 , 中国科学院计算技术研究所
CPC classification number: G06F11/008 , G06F11/1004
Abstract: 本发明实施例提供一种内存访问的方法、设备及系统，提供层次化的，灵活的内存靠性级别的设定方法，实现不同运行对象类型、不同可靠性级别的内存访问机制。本发明实施例提供的方法包括：内存设备接收处理器发送的所述处理器的运行对象的可靠性级别信息；根据所述运行对象的可靠性级别信息建立第一映射关系和第二映射关系；接收所述处理器发送的访问请求；根据所述访问请求和所述第一映射关系对所述运行对象的数据进行访问，以及根据所述访问请求和所述第二映射关系对所述运行对象的容错编码进行访问。
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公开(公告)号：CN102609563B
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201210007365.8
申请日：2012-01-11
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明提供一种SRAM型FPGA的低功耗设计方法，包括：步骤一、根据FPGA结构及电路信息，建立漏电功耗信息图；步骤二、在布线阶段对各MUX所对应的漏电功耗进行评估，得到漏电功耗；步骤三、将所述漏电功耗引入布线代价函数，从而在布线过程中降低电路漏电功耗。上述方法在布线阶段对电路进行低功耗设计，在布线过程中综合考虑电路时延开销、拥塞开销和漏电功耗开销，几乎不会对电路时序性能产生影响。通过修改电路连线实现方式进行低功耗设计，与FPGA芯片结构无关，不会对FPGA芯片的工艺制造产生影响，对当前主流FPGA均适用，而且不会引入额外的面积开销。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103839580A
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201410064466.8
申请日：2014-02-25
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G11C11/56
Abstract: 本发明公开了一种相变存储器写加速方法，该方法包括：Partial-SET写操作判断步骤和写请求执行步骤，Partial-SET写操作判断步骤为判断相变存储器中当前写请求采用的写脉冲类型为SET或Partial-SET脉冲；写请求执行步骤为根据写脉冲类型，采用SET或快速Partial-SET方法，根据SET和RESET操作的不同写速度实现相变存储器的快速Partial-SET写加速，本发明还公开了一种相变存储器的写加速系统。
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公开(公告)号：CN101719087A
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200910241575.1
申请日：2009-11-26
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明涉及微处理器可靠性评测方法及其系统，方法包括：步骤1，确定待分析的间歇故障所属的故障类型，确定故障模型的关键参数；步骤2，根据确定的故障类型，从微处理器中选择硬件结构；步骤3，在微处理器中运行测试程序，根据关键参数运用故障模型进行故障模拟，确定测试程序执行过程中硬件结构包含的体系结构正确执行位或关键时间区域；步骤4，根据确定的体系结构正确执行位或关键时间区域，判断发生在硬件结构中的间歇故障是否影响程序执行结果；步骤5，根据判断结果计算测试程序执行过程中，待分析的硬件结构中的间歇故障脆弱因子，对微处理器进行可靠性评测。本发明能够评测微处理器中不同结构发生的间歇故障引起程序执行出错的概率。
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公开(公告)号：CN100495989C
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：CN200610090243.4
申请日：2006-07-07
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种测试外壳电路，包括至少一条用于测试待测芯核测试数据的测试外壳寄存器链，连接所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路，和连接所述测试外壳寄存器链与外部数据通路之间的互连电路。本发明同时公开了一种测试外壳电路的设计方法。利用本发明，实现了对测试外壳电路的设计，不仅提供了传统测试外壳的测试访问功能，而且根据片上网络测试数据传输的特点进行了优化设计，充分利用了网络通道的带宽，提高了测试的并行性，缩短了测试时间，减少了测试所需的引脚数以及测试面积的开销，降低了测试成本。
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公开(公告)号：CN101315412A
公开(公告)日：2008-12-03
申请号：CN200810114827.X
申请日：2008-06-12
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明公开了一种扫描链故障诊断方法及系统。该方法包括：将待测芯片的扫描链中的扫描单元组成候选扫描单元集合，并在集合中选定待测候选对；根据故障类型，为所述待测候选对建立相应的固定型故障诊断装置；利用该装置为所述待测候选对生成诊断向量，并存储于诊断向量集合，用于对待测芯片进行扫描链故障诊断；还包括步骤：将诊断向量集合中所有的诊断向量逐一加载至待测芯片得到故障响应，并依据故障响应，对待测芯片进行扫描链故障诊断。该方法能够在没有任何面积和布线开销的情况下对故障扫描链进行诊断，且不改变传统的扫描链诊断流程，从而降低逻辑诊断成本。
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公开(公告)号：CN101285871A
公开(公告)日：2008-10-15
申请号：CN200810106261.6
申请日：2008-05-09
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明提供一种扫描链诊断向量生成方法和装置及扫描链诊断方法。所述诊断向量生成方法，包括如下步骤：确定扫描链的故障类型；根据扫描链的故障类型设定约束条件；在约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到的输出或伪输出数目最大，生成扫描链诊断向量。所述诊断向量生成装置，包括如下部件：故障类型判别单元，用于判别扫描链的故障类型；约束条件单元，用于根据故障类型设定约束条件；诊断向量生成单元，用于在所述约束条件下，使扫描单元的逻辑状态通过组合逻辑形成的路径传播到的原始输出或伪输出数目最大，生成扫描链诊断向量。本发明能够有效地容忍组合逻辑中的故障，且不会给电路带来硬件开销。
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