公开(公告)号：CN102027562A

公开(公告)日：2011-04-20

申请号：CN200980117115.6

申请日：2009-03-16

Applicant: 谢菲尔德大学

Inventor： G·默布斯 ,  G·魏 ,  X·徐 ,  J·J·王 ,  R·盖 ,  A·J·罗克伍德 ,  B·因克森

IPC: H01J37/20 ,  H01J37/26 ,  H01L41/09

CPC classification number: H01J37/20 ,  G21K7/00 ,  H01J37/26 ,  H01J2237/20207 ,  H01J2237/20214 ,  H01J2237/20221 ,  H01J2237/20242 ,  H01J2237/20264 ,  H01J2237/20285 ,  H01J2237/20292 ,  H01J2237/2617 ,  H02N2/0095

Abstract: 一种适合于在透射电子显微镜中断层照相检验试样的试样夹持器组件(500)，包括：主体部分(501)，该主体部分(501)取细长构件的形式，所述细长构件安排成可移动地插入显微镜的支柱中；和操纵器部分，该操纵器部分具有第一轴线，操纵器部分包括：试样安装部分(510)，该试样安装部分(510)配置成支承试样；试样平移组件(530)，该试样平移组可操纵，以便相对于主体部分平移试样安装部分；和试样旋转组件(540)，该试样旋转组件(540)结合到主体部分和试样平移组件(530)上，试样旋转组件可操纵，以便绕第一轴线相对于主体部分旋转试样平移组件。