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公开(公告)号：CN109150300A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201810830080.1
申请日：2018-07-26
Applicant: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
IPC: H04B10/079
Abstract: 本发明公开的一种多路数字信号光纤传输测试设备，旨在提供一种测试性能稳定、可靠性高的测试设备，本发明通过下述技术方案予以实现：标准信号源发送的1路模拟电信号通过功分器机箱功分为16路等幅同相的信号，并输送至主控机箱中双通道的AD板卡组转换为数字电信号，通过对应每个AD板卡相连的GTX高速连接器送入光纤机箱，通过各自相连的电光转换模块组转换为64路光信号，64路光信号经四个DWDM密集波分复用器合为4路光信号，再经光矩阵开关合为1路发送到待测设备；待测设备发出1路光信号通过光矩阵开关分为2路光信号，分别进入DWDM密集波分解复用器为16路不同波长的光信号，各路数字电信号经数模DA转换恢复为模拟信号，由标准仪器进行误码率测试。
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公开(公告)号：CN107508580A
公开(公告)日：2017-12-22
申请号：CN201710603571.8
申请日：2017-07-23
Applicant: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
IPC: H03K3/353
Abstract: 本发明公开的一种检测集成电路模拟/数字信号上升沿的脉冲生成电路，旨在提供一种够有效检测模拟集成电路中模拟/数字信号上升沿的脉冲生成电路。本发明通过下述技术方案予以实现：晶体管MP1的源端、晶体管MP2的源端、晶体管MP3的源端均连接至电源电压端VDDA；晶体管MN1的源端、晶体管MN3的源端均连接至地电压端；晶体管MP1的栅极、晶体管MP3的栅极、晶体管MN1的栅极和晶体管MN3的栅极均连接至输入端；晶体管MP1的漏极、晶体管MN1的漏极、晶体管MP2的栅极和体管MN2的栅极均连接到的电容MNCAP上极板，电容MNCAP的下极板连接至低电压端；晶体管MP2的漏极、晶体管MP3的漏极和晶体管MN2的漏极相连接后作为脉宽生成电路的输出端。
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公开(公告)号：CN107508580B
公开(公告)日：2020-07-21
申请号：CN201710603571.8
申请日：2017-07-23
Applicant: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
IPC: H03K3/353
Abstract: 本发明公开的一种检测集成电路模拟/数字信号上升沿的脉冲生成电路，旨在提供一种够有效检测模拟集成电路中模拟/数字信号上升沿的脉冲生成电路。本发明通过下述技术方案予以实现：晶体管MP1的源端、晶体管MP2的源端、晶体管MP3的源端均连接至电源电压端VDDA；晶体管MN1的源端、晶体管MN3的源端均连接至地电压端；晶体管MP1的栅极、晶体管MP3的栅极、晶体管MN1的栅极和晶体管MN3的栅极均连接至输入端；晶体管MP1的漏极、晶体管MN1的漏极、晶体管MP2的栅极和体管MN2的栅极均连接到的电容MNCAP上极板，电容MNCAP的下极板连接至低电压端；晶体管MP2的漏极、晶体管MP3的漏极和晶体管MN2的漏极相连接后作为脉宽生成电路的输出端。
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公开(公告)号：CN109150300B
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN201810830080.1
申请日：2018-07-26
Applicant: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)
IPC: H04B10/079
Abstract: 本发明公开的一种多路数字信号光纤传输测试设备，旨在提供一种测试性能稳定、可靠性高的测试设备，本发明通过下述技术方案予以实现：标准信号源发送的1路模拟电信号通过功分器机箱功分为16路等幅同相的信号，并输送至主控机箱中双通道的AD板卡组转换为数字电信号，通过对应每个AD板卡相连的GTX高速连接器送入光纤机箱，通过各自相连的电光转换模块组转换为64路光信号，64路光信号经四个DWDM密集波分复用器合为4路光信号，再经光矩阵开关合为1路发送到待测设备；待测设备发出1路光信号通过光矩阵开关分为2路光信号，分别进入DWDM密集波分解复用器为16路不同波长的光信号，各路数字电信号经数模DA转换恢复为模拟信号，由标准仪器进行误码率测试。
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