低相干光干涉型四方柱阵列微结构形貌精密检测装置及方法

    公开(公告)号:CN117990006A

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202410160040.6

    申请日:2024-02-05

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种低相干光干涉型四方柱阵列微结构形貌精密检测装置及方法,该检测装置包括低相干光源、光纤耦合器、显微探测臂、参考臂、反射式光栅光谱仪和计算机;所述低相干光源的低相干光被引到光纤耦合器后分别进入显微探测臂和参考臂,进入参考臂的光经一对消色差透镜平行、聚焦到熔融石英玻璃表面并被其反射而回,形成参考光;进入显微探测臂的光经透镜平行后,由显微物镜聚焦到四方柱阵列微结构表面并被其背向散射而回,形成探测光;所述参考光、探测光在光纤耦合器处相遇并发生干涉;所述干涉信号进入反射式光栅光谱仪,被反射式光栅光谱仪采集并传输至计算机。该检测装置及方法有利于提高四方柱阵列微结构表面检测的精度和效率。

    可消除OCT共轭镜像的定相差线阵谱域OCT装置及方法

    公开(公告)号:CN109297599B

    公开(公告)日:2023-08-18

    申请号:CN201811329791.7

    申请日:2018-11-09

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种可消除OCT共轭镜像的定相差线阵谱域OCT装置及方法。该装置包括超辐射发光二极管、第一准直器、第一至第二聚焦物镜、第一至第四分束镜、第一至第三柱透镜、第一反射镜、光开关、二维光谱仪;所述第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第四分束镜组成干涉仪,其中第一分束镜、第二分束镜位置固定,第三分束镜与第四分束镜组成分束镜组且能够移动。本发明装置相对于传统的线阵谱域OCT来说,能够在满足线阵谱域OCT横向并行探测的同时增加系统的一倍的成像深度,使得线阵谱域OCT的能够在更多的领域得到更广的应用。

    一种基于宽带光干涉的光纤测压仪及水压测量方法

    公开(公告)号:CN116007826A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202310061201.1

    申请日:2023-01-17

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于宽带光干涉的光纤测压仪及水压测量方法,该光纤测压仪包括一SLD光源、一2×2单模光纤耦合器、一反射镜、多个圆透镜、一光纤连接器、一光纤传感器、一装水的水管、一光谱仪以及一上位机;SLD光源发出的宽带光进入光纤耦合器中分为参考光和探测光,参考光照射至反射镜后返回光纤耦合器;探测光耦合至置于水管里的光纤传感器中,并由其末端的微型反射镜反射后返回光纤耦合器;返回的参考光和探测光在光纤耦合器处耦合后形成干涉光束,接入光谱仪中;干涉信号被光谱仪分光后由线阵相机采集,线阵相机将采集到的图像转换为数字信号输入到上位机中,实现压强测量。该光纤测压仪及水压测量方法提高了测量量程、灵敏度和测量准确性。

    一种基于变密度正弦条纹的转轴转速测量装置及方法

    公开(公告)号:CN106443046B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN201611038242.5

    申请日:2016-11-23

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于变密度正弦条纹的转轴转速测量装置及方法,该装置包括变密度正弦条纹、高速图像采集及传输模块、图像处理软件模块和计算机,该方法包括以下步骤:在待测转轴圆周表面粘贴好变密度正弦条纹传感器;高速图像采集模块对变密度条纹进行连续成像和记录;图像传输模块将条纹图像传输到计算机;图像处理软件模块对每帧图像中同一行像素位置的条纹信号进行傅立叶变换并采用峰值频率校正方法对峰值频率进行精确校正以获得精确的条纹密度信息,然后获得贴覆有条纹处转轴转动角速度的时域曲线,再通过转动角速度与相机的采样频率计算出转轴的转速信号。该装置及方法可实现对一定转速范围内转轴转速的非接触测量,测量速度快,精度高。

    一种可测量晶体的群折射率和厚度的折射仪及其工作方法

    公开(公告)号:CN114636678A

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202210260901.9

    申请日:2022-03-17

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明提供一种可测量晶体厚度和群折射率的折射仪及其工作方法,其中可测量晶体厚度和群折射率的折射仪包括光路依次连接的光源、光纤准直器、2×2光纤耦合器、透镜、反射镜、光栅、CCD相机。所述光纤耦合器与一光栅光路连接;所述光栅与一CCD相机光路连接;所述CCD相机与上位机连接。本发明在提供无接触、高精度的群折射率测量的同时,有着结构简单、体积较小、操作方便等优点,并在测量群折射率的同时能够测量厚度值。

    一种具有强抗干扰能力的频域F-P型测速系统及其测速方法

    公开(公告)号:CN110617890A

    公开(公告)日:2019-12-27

    申请号:CN201911043260.6

    申请日:2019-10-30

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种具有强抗干扰能力的频域F-P型测速系统及其测速方法,该装置包括光源、 单模光纤耦合器、反射硅镜、光纤准直器、线阵光谱仪,还包括一用于控制光谱仪的上位机;光源发出的光进入到光纤偶合器中,传播至光纤末端后一部分被光纤末端端面反射而回,另一部分继续传播而后被样品表面反射而回。参考光与探测光在光纤耦合器处相遇并发生干涉;相干的参考光与探测光经光纤准直器准直后,被所述线阵光谱仪所采集;线性光谱仪将采集到的信号传输到所述上位机上进行测速分析。本发明相对于传统的光学相干测速仪(OCV)具有更强的抗干扰能力。结合频谱校正方法,系统的空间分辨率可达纳米量级。

    基于线阵相机和位感条纹的三维振动位移测量装置与方法

    公开(公告)号:CN109357621A

    公开(公告)日:2019-02-19

    申请号:CN201811502263.7

    申请日:2018-12-10

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于线阵相机和位感条纹的三维振动位移测量装置与方法。该装置包括位感条纹、线阵相机、数据线和计算机。该方法包括以下步骤:在振动结构测量位置粘贴贴片式位感条纹或者喷涂位感条纹,调整好线阵相机的成像位置,使位感条纹中心成像于线阵传感器中;结构表面的位感条纹随着结构振动,在线阵传感器中成像的条纹信号也随之变化,振动过程中采用线阵相机对条纹信号进行连续成像,再将采集到的条纹序列通过数据线传输至计算机;最后采用条纹序列处理软件模块对条纹序列进行处理,并运用提出的三维位移计算公式计算结构三维振动位移信息。

    一种生物荧光检测探头
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103868902A

    公开(公告)日:2014-06-18

    申请号:CN201410132743.4

    申请日:2014-04-03

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种生物荧光检测探头,包括光电传感器、用以安设透镜的安装架和用以安放待测生物试剂的移动扫描平台,其特征在于:所述安装架的两侧相对中心线对称设有一光源,两侧光源的出射光线相交于待测生物试剂上,所述的两侧光源与待测生物试剂之间的光路上分别对称设有一第一透镜,待测生物试剂上经两侧光源光线照射激发出的光线再依次经过安设于安装架上的一第二透镜、一滤光片到达光电传感器。本发明检测效果良好,在一定程度上可代替现有的生物荧光检测系统的探头部分,对于生物荧光检测技术的推广应用有良好的推动作用。

    一种基于频域干涉的光学材料折射率曲线测量装置及方法

    公开(公告)号:CN119827460A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202510025855.8

    申请日:2025-01-08

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明提供一种基于频域干涉的光学材料折射率曲线测量装置及方法,包括:S1、采集三组干涉信号;S2、采集旋转光学材料样品的干涉信号;S3、对S1所得的干涉信号进行光谱矫正;S4、对S2所得的干涉信号进行光谱矫正;S5、对S4中的频域信号进行数字滤波,经逆快速傅里叶变换后利用希尔伯特变换求取石英玻璃的相位数据,对整个相位数据按列解卷得到波长下的相位差。S6、构建光学厚度变化量与相位改变量之间的物理方程;S7、将S4和S5所求得到各数据带入S6所建立的方程中计算得到光学材料样品折射率n(k)。本发明所提出的方法可以高精度的无损测量光学材料色散。

    基于干涉条纹的柱透镜形貌测量装置及方法

    公开(公告)号:CN118729989A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410878840.1

    申请日:2024-07-02

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于干涉条纹的柱透镜形貌测量装置及方法,该装置包括激光光源、50/50分光镜、金属反射镜、面阵相机和图像处理系统;所述激光光源用于发射光束,以在相机成像面上产生干涉条纹;所述50/50分光镜用于将光束分为一束参考光和一束物光;所述金属反射镜用于反射50/50分光镜分出的光束,使光束再次通过50/50分光镜从而产生干涉条纹;所述面阵相机的成像面紧贴待测柱透镜的平面,用于接收经过柱透镜的干涉条纹,并将干涉条纹信息传输至图像处理系统中;所述图像处理系统用于处理接收的干涉条纹信息,并计算出待测柱透镜的表面形貌。该装置及方法结构简单,易于实现,测量准确率高,实现成本低。

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