公开(公告)号：CN102608449B

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201210026740.3

申请日：2012-02-08

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 董宇亮 ,  付琬月 ,  姜宝钧 ,  徐军 ,  王茂琰 ,  毋俊玱 ,  何俊伟 ,  其他发明人请求不公开姓名

IPC: G01R31/00

Abstract: 一种砷化镓单片微波功放的电应力极限评估方法，包括如下步骤：对砷化镓单片微波功放进行分析，获得对器件可靠性影响因子较大的电参数；根据极限评估电应力试验参数设计方法考察器件的电应力极限能力，按照评判标准给出判据。本发明的有益效果是：采用电压步进方式进行极限评估实验，得到的器件极限能力更逼近真实值。分析实验数据，可以得到器件的可靠性裕度，为器件的正确使用提供依据。可考察元器件在规定的最佳工作条件下的表现，以验证器件真实性能。可以暴露元器件有效失效模式，以便改进器件设计。

公开(公告)号：CN102608449A

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN201210026740.3

申请日：2012-02-08

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 董宇亮 ,  付琬月 ,  姜宝钧 ,  徐军 ,  王茂琰 ,  毋俊玱 ,  何俊伟

IPC: G01R31/00

Abstract: 一种砷化镓单片微波功放的电应力极限评估方法，包括如下步骤：对砷化镓单片微波功放进行分析，获得对器件可靠性影响因子较大的电参数；根据极限评估电应力试验参数设计方法考察器件的电应力极限能力，按照评判标准给出判据。本发明的有益效果是：采用电压步进方式进行极限评估实验，得到的器件极限能力更逼近真实值。分析实验数据，可以得到器件的可靠性裕度，为器件的正确使用提供依据。可考察元器件在规定的最佳工作条件下的表现，以验证器件真实性能。可以暴露元器件有效失效模式，以便改进器件设计。