一种金属三维多层点阵结构内部宏观缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN109521028A

    公开(公告)日:2019-03-26

    申请号:CN201811474246.7

    申请日:2018-12-04

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 本发明公开了一种金属三维多层点阵结构内部宏观缺陷检测方法,通过工业CT对多层金属点阵结构材料样件进行扫描得到样件内部的二维层析图像,从得到的二维层析图像中截取平行于点阵单元横向排布方向的横向断层截面二维灰度图,再通过三个横向相邻固定尺寸像素点集合灰度值总和之间的差值分布来判别缺陷的存在,且理论分析给出了相应的判别标准和依据。实验验证结果表明,与人工标记的缺陷进行对比,本发明对金属三维多层点阵结构样件的内部典型断层缺陷的识别率达到98.5%。

    一种基于超声原理轻质陶瓷基多孔复合材料缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN109283253A

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201811433475.4

    申请日:2018-11-28

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于超声原理轻质陶瓷基多孔复合材料缺陷检测方法,将超声波发射探头与超声波接收探头同时浸入水中,超声波发射探头与超声波接收探头垂直于待检测轻质多孔陶瓷基复合材料的两侧面;超声波发射探头与超声波接收探头在待检测轻质多孔陶瓷基复合材料的两侧面的x-y方向往复运动从而对待检测轻质多孔陶瓷基复合材料进行扫描,数据采集卡采集超声波接收探头接收到的超声波信号并传输给安装有LabVIEW程序的计算机,LabVIEW将获得的数据进行最大值投影重建得到超声C扫描图像,即可识别出缺陷区域,也就完成了材料缺陷检测实验。与现有技术相比,本发明可以实现对陶瓷基复合材料中孔洞、夹杂和脱粘等危险性缺陷的检测。

    一种同面电容传感器的传感深度的获取方法及获取系统

    公开(公告)号:CN116087284A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202310042503.4

    申请日:2023-01-28

    Abstract: 本发明涉及一种同面电容传感器的传感深度的获取方法及获取系统,属于无损检测领域,解决了现有技术的获取方法因考虑不全面或结果不一致导致所获取的传感深度无法有效地衡量反应同面电容传感器的有效检测距离的问题。本发明的方法包括:根据目标传感器的测量域的灵敏度数据在深度方向上的变化确定所述目标传感器的传感深度;其中,所述深度方向为远离且垂直于所述目标传感器的表面的方向。通过本发明的方法所获取的传感深度的结果一致,实现了有效地衡量目标传感器的有效检测距离,准确地反应目标传感器的性能的效果。

    一种平面阵列电极电容传感器、成像系统及成像方法

    公开(公告)号:CN106959325B

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN201710243046.X

    申请日:2017-04-07

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 本发明公开了一种平面阵列电极电容传感器,通过设置底部屏蔽板、边缘屏蔽框和极间屏蔽条,大大降低了环境噪音对测量结果的影响,有利于提高测量精度。本发明还公开了基于上述平面阵列电极电容传感器的平面阵列电极电容成像系统以及成像方法,通过将数据融合技术应用到重建图像的图像处理当中,针对3×4平面阵列电容传感器,利用ANSYS有限元仿真软件将被测材料分为8层,计算出各层的灵敏度矩阵,采用Landwerb迭代算法进行图像重建,为融合重建出的分层图像,采用主成分分析法计算重建分层图像的主成分向量,将主成分按其贡献率的百分比进行融合,最终得到融合后的图像,数据融合得到的图像在图像误差和相关系数上较原图像均有改善。

    一种高速滑动电接触运动副表面损伤分类方法

    公开(公告)号:CN109801278A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201910053812.5

    申请日:2019-01-21

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 本发明公开了一种高速滑动电接触运动副表面损伤分类方法,在能够提取出高速滑动电接触构件表面损伤区域的基础上,通过损伤形状参数、欧拉数等相关损伤参数的定量计算,设计了清晰合理的分类方法;能够区分出表面损伤是单一损伤还是多重损伤,在单一损伤中是单点损伤还是滑条损伤,在多重损伤中是群点损伤还是擦伤;为运动副表面损伤真实形貌的了解提供重要依据,同时欧拉数在工件表面微小损伤分类中的应用也十分独特。

    一种同面阵列电容传感器的敏感场建模方法

    公开(公告)号:CN109658502A

    公开(公告)日:2019-04-19

    申请号:CN201811587047.7

    申请日:2018-12-25

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 本发明公开了一种同面阵列电容传感器的敏感场建模方法,包括:对电容传感器以及被测物体按照传感器的实际尺寸建立三维模型;根据电磁场理论,以传感器电极阵列的中心为中心建立两个半径不同的球体,将整个三维模型分为四部分;对被测物体进行单元类型定义,采用三角自由划分对电容传感器进行单元划分,根据单元类型采用映射划分方式对被测物体进行单元划分,完成同面阵列电容传感器以及被测物体敏感场建模,能够根据对同面阵列电容成像系统的近场和远场进行三维建模来求解灵敏度矩阵,通过深度方向上对敏感场的分层划分和在水平方向上对敏感场的分单元划分,能够获取质量好的灵敏度矩阵,帮助图像重建以及进一步的图像检测和图像分析。

    共面电容传感器的扫描成像性能评估方法及系统

    公开(公告)号:CN116342577A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202310414371.3

    申请日:2023-04-18

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 本发明涉及一种共面电容传感器的扫描成像性能评估方法及系统,属于共面电容传感器领域,解决了现有技术中对同面电容传感器的扫描成像性能进行评估需要耗费大量时间的问题。本发明的一种面电容传感器的扫描成像性能评估方法,包括:获取目标传感器在预设探测深度的面层上的灵敏度分布图;提取所述面层的灵敏度分布图中的高灵敏度集中区域作为元图像;根据所述元图像评估所述目标传感器在所述面层的扫描成像性能。本发明提出的元图像,能够反应共面电容传感器与其在相应的探测深度的重建图像质量之间的关联,根据元图像直接评估共面电容传感器的扫描成像性能,从而能够起到节约时间和提高评估效率的效果。

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