公开(公告)号：CN116342577A

公开(公告)日：2023-06-27

申请号：CN202310414371.3

申请日：2023-04-18

Applicant: 燕山大学

Inventor： 潘钊 ,  李瑞航 ,  张玉燕 ,  温银堂 ,  戎佳佳

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/11 ,  G06T7/136 ,  G06T7/143 ,  G01N27/22

Abstract: 本发明涉及一种共面电容传感器的扫描成像性能评估方法及系统，属于共面电容传感器领域，解决了现有技术中对同面电容传感器的扫描成像性能进行评估需要耗费大量时间的问题。本发明的一种面电容传感器的扫描成像性能评估方法，包括：获取目标传感器在预设探测深度的面层上的灵敏度分布图；提取所述面层的灵敏度分布图中的高灵敏度集中区域作为元图像；根据所述元图像评估所述目标传感器在所述面层的扫描成像性能。本发明提出的元图像，能够反应共面电容传感器与其在相应的探测深度的重建图像质量之间的关联，根据元图像直接评估共面电容传感器的扫描成像性能，从而能够起到节约时间和提高评估效率的效果。

公开(公告)号：CN116297726A

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN202310291549.X

申请日：2023-03-23

Applicant: 燕山大学 ,  北京星航机电装备有限公司

Inventor： 潘钊 ,  戎佳佳 ,  唐增武 ,  温银堂 ,  张玉燕 ,  安东阳

IPC: G01N27/22 ,  G06F30/392 ,  G06T7/00 ,  G06T5/50 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明涉及一种共面电容传感器及其优化方法，属于电容传感技术领域，解决了现有技术中单对电极共面电容传感器的成像效果差的技术问题。本发明的一种共面电容传感器的优化方法包括：改变两个所述电极的相邻边的形状，使两个电极的相邻边的一部分部位的间距增大，同时使两个电极的相邻边的另一部分部位的间距保持不变，从而获取优化后的共面电容传感器。本发明中，通过改变两个电极的相邻边的形状，优化共面电容传感器的灵敏度分布和探测深度等检测性能指标，从而改善共面电容传感器的成像效果。