一种光谱连续背景去除装置、系统和方法

    公开(公告)号:CN108802010A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201810827112.2

    申请日:2018-07-25

    Abstract: 本发明实施例提供一种光谱连续背景去除装置、系统和方法,该光谱连续背景去除装置应用于包括激光器、光谱仪和载物台的LIBS系统,所述光谱连续背景去除装置包括偏振器,所述偏振器设置于所述载物台与所述光谱仪的采集头之间,所述载物台上放置有定标样品集,其中,所述偏振器用于实现对不同偏振态的光谱的分离,所述载物台、所述偏振器和所述采集头共线。本发明通过对光谱连续背景去除装置和系统的巧妙设计,能够通过选取偏振器的最佳转动角度,实现对光谱中连续背景的滤除。

    阻值检测电路和阻值检测设备

    公开(公告)号:CN107219401A

    公开(公告)日:2017-09-29

    申请号:CN201710619324.7

    申请日:2017-07-26

    CPC classification number: G01R27/02

    Abstract: 本发明实施例提供一种阻值检测电路和阻值检测设备,该阻值检测电路包括振荡电路、信号整形器、控制电路和报警电路,振荡电路的输入端与待测电阻连接、输出端与信号整形器的输入端连接,控制电路的输入端与信号整形器的输出端连接、输出端与报警电路的输入端连接。振荡电路用于采集待测电阻的阻值并转换为频率信号输入信号整形器,信号整形器用于对频率信号进行整形处理后输入控制电路,控制电路用于对经过整形后的频率信号进行处理以得到待测电阻的阻值,并将阻值与预设基准值进行比对,根据比对结果控制报警电路进行报警。本发明能够实现对不同阻值范围的电阻的测量,且电路结构简单,测试效率高。

    清理装置及扫地机器人
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107647829B

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201711081639.7

    申请日:2017-11-06

    Abstract: 本发明涉及清洁设备技术领域,具体而言,涉及一种清理装置及扫地机器人。所述清理装置包括内筒、外筒、毛刺、电机和控制器,所述外筒套设于所述内筒且设置有多个过孔,所述毛刺设置有多个,多个所述毛刺设置于所述内筒,且与所述多个过孔位置对应,所述毛刺能够伸缩,以通过所述过孔伸出而暴露于外部环境或通过所述过孔收缩而收纳于所述外筒的内部,所述电机的转轴与所述外筒和内筒连接,所述控制器与所述电机电性连接。所述扫地机器人包括机器人本体和所述清理装置,所述清理装置设置于所述机器人本体。本发明实施例提供的清理装置及扫地机器人能够便捷的清理掉落地面的毛发,并且,相对于现有技术,清理效果极佳。

    清理装置及扫地机器人
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107647829A

    公开(公告)日:2018-02-02

    申请号:CN201711081639.7

    申请日:2017-11-06

    CPC classification number: A47L11/24 A47L11/4036 B25J11/0085

    Abstract: 本发明涉及清洁设备技术领域,具体而言,涉及一种清理装置及扫地机器人。所述清理装置包括内筒、外筒、毛刺、电机和控制器,所述外筒套设于所述内筒且设置有多个过孔,所述毛刺设置有多个,多个所述毛刺设置于所述内筒,且与所述多个过孔位置对应,所述毛刺能够伸缩,以通过所述过孔伸出而暴露于外部环境或通过所述过孔收缩而收纳于所述外筒的内部,所述电机的转轴与所述外筒和内筒连接,所述控制器与所述电机电性连接。所述扫地机器人包括机器人本体和所述清理装置,所述清理装置设置于所述机器人本体。本发明实施例提供的清理装置及扫地机器人能够便捷的清理掉落地面的毛发,并且,相对于现有技术,清理效果极佳。

    一种基于多谱线加权的元素测量方法及装置

    公开(公告)号:CN107132214A

    公开(公告)日:2017-09-05

    申请号:CN201710548914.5

    申请日:2017-07-06

    CPC classification number: G01N21/71

    Abstract: 本发明实施例提供一种基于多谱线加权的元素测量方法及装置,属于光谱分析领域。该方法首先获取定标样品集中每个样品的待测元素浓度和待测元素的至少两条目标谱线及其对应的内标谱线的强度。将目标谱线与内标谱线的强度比值作为该目标谱线的相对谱线强度,然后根据预设的权重系数组和每条目标谱线的相对谱线强度计算待测元素的加权相对谱线强度,再根据每个样品中待测元素的浓度和计算得到的加权相对谱线强度进行线性拟合,确定用于对该待测元素测量的定标曲线。这种采用多条谱线进行加权处理的定标方法,避免了单条谱线在定量分析中,因等离子体的波动或外界干扰引起的谱线波动,而造成的分析不准确,有效的提高了系统的分析准确度和稳定性。

    光谱稳定性优化装置、系统和方法

    公开(公告)号:CN107860713B

    公开(公告)日:2020-12-15

    申请号:CN201711079175.6

    申请日:2017-11-06

    Abstract: 本发明实施例提供一种光谱稳定性优化装置、系统和方法,该光谱稳定性优化装置应用于包括激光器和载物台的LIBS系统中,所述光谱稳定性优化装置包括光束整形器;所述光束整形器设置于所述激光器与所述载物台之间,且所述光束整形器与所述载物台和所述激光器共线;其中,所述光束整形器用于对由所述激光器发射的高斯光束进行整形,并使得整形后形成的均匀平顶光束入射至所述载物台上的样品靶材。本发明通过对光谱稳定性优化装置和系统的巧妙设计,能够通过调节光束整形器的状态获得稳定的等离子体,且本发明实现简单,操作方便。

    一种基于多谱线加权的元素测量方法及装置

    公开(公告)号:CN107132214B

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201710548914.5

    申请日:2017-07-06

    Abstract: 本发明实施例提供一种基于多谱线加权的元素测量方法及装置,属于光谱分析领域。该方法首先获取定标样品集中每个样品的待测元素浓度和待测元素的至少两条目标谱线及其对应的内标谱线的强度。将目标谱线与内标谱线的强度比值作为该目标谱线的相对谱线强度,然后根据预设的权重系数组和每条目标谱线的相对谱线强度计算待测元素的加权相对谱线强度,再根据每个样品中待测元素的浓度和计算得到的加权相对谱线强度进行线性拟合,确定用于对该待测元素测量的定标曲线。这种采用多条谱线进行加权处理的定标方法,避免了单条谱线在定量分析中,因等离子体的波动或外界干扰引起的谱线波动,而造成的分析不准确,有效的提高了系统的分析准确度和稳定性。

    一种元素定量分析方法及装置

    公开(公告)号:CN107340284A

    公开(公告)日:2017-11-10

    申请号:CN201710550399.4

    申请日:2017-07-06

    CPC classification number: G01N21/71

    Abstract: 本发明实施例提供一种元素定量分析方法及装置,属于光谱分析技术领域。该元素定量分析方法首先获取定标样品集中的每个样品的待测元素的浓度和待测元素的至少两条目标谱线的谱线强度,然后根据预设的每条目标谱线的权重系数和每个样品中每条目标谱线的谱线强度,计算每个样品中待测元素的加权谱线强度,最后再根据每个样品中待测元素的浓度和计算得到的每个样品中待测元素的加权谱线强度进行线性拟合,确定用于对该待测元素定量分析的定标曲线。这种元素定量分析方法采用多条谱线进行加权处理,避免了单条谱线在定量分析中,因等离子体的波动或外界干扰引起的谱线波动,而造成的分析不准确,有效的提高了系统的分析准确度和稳定性。

    一种光谱连续背景去除装置、系统和方法

    公开(公告)号:CN108802010B

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201810827112.2

    申请日:2018-07-25

    Abstract: 本发明实施例提供一种光谱连续背景去除装置、系统和方法,该光谱连续背景去除装置应用于包括激光器、光谱仪和载物台的LIBS系统,所述光谱连续背景去除装置包括偏振器,所述偏振器设置于所述载物台与所述光谱仪的采集头之间,所述载物台上放置有定标样品集,其中,所述偏振器用于实现对不同偏振态的光谱的分离,所述载物台、所述偏振器和所述采集头共线。本发明通过对光谱连续背景去除装置和系统的巧妙设计,能够通过选取偏振器的最佳转动角度,实现对光谱中连续背景的滤除。

    降低光谱自吸收效应的方法和装置

    公开(公告)号:CN107525785B

    公开(公告)日:2018-05-11

    申请号:CN201710710751.6

    申请日:2017-08-18

    Abstract: 本发明实施例提供一种降低光谱自吸收效应的方法和装置,应用于LIBS系统,该方法包括基于初始离焦量以第一预设值为步进单位调节离焦量以实现对定标样品集中待测元素的参数遍历,并在该参数满足预设规则时停止参数遍历,根据所述参数获取在不同离焦量时对定标样品集中的待测元素进行定量分析的定标曲线;根据所述定标曲线计算所述待测元素在不同离焦量时对应的自吸收系数并保存;选取所述自吸收系数中的最大值,并将该最大值对应的离焦量作为降低所述自吸收效应的最优参数。本发明通过调节离焦量实现参数遍历,并根据遍历结果计算、选取光谱自吸收效应最优时对应的参数,以得到薄而均匀的低温低电子密度的等离子体。

Patent Agency Ranking