公开(公告)号：CN114096825B

公开(公告)日：2023-09-29

申请号：CN202080050377.1

申请日：2020-06-17

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 熊野峻 ,  高田安章 ,  野尻辰夫 ,  永野久志 ,  水野弘基 ,  藤井贵之

IPC: G01N1/02

Abstract: 为了稳定地回收附着于检查对象物的附着物，特征为具备：向上喷射气体的喷嘴(111)；具备喷射气体的开口部的上表面(105)；回收向检查对象物(C)喷出的气体的回收口；以及检测检查对象物(C)是否接触了上表面(105)的接触检测传感器(130)，通过气体收集附着于检查对象物(C)的附着物，喷嘴(111)的前端的高度与上表面(105)的高度大致相同，或者为上表面(105)的高度以下，在上表面(105)设置有凹部(121)，凹部(121)相对于喷嘴(111)的喷射口(112)设置在回收口侧，并且与喷嘴(111)的喷射口(112)相接，或者包含喷嘴(111)的喷射口(112)。

公开(公告)号：CN1865975B

公开(公告)日：2011-07-20

申请号：CN200610001574.6

申请日：2006-01-24

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  警察厅科学警察研究所

Inventor： 高田安章 ,  管正男 ,  永野久志 ,  和气泉 ,  冈田英宏 ,  野尻辰夫 ,  濑户康雄 ,  佐野保广 ,  山城繁春 ,  大泽勇久

IPC: G01N27/62

CPC classification number: H01J49/04 ,  Y10T436/16

Abstract: 本发明提供即使是试样气体中的共存物质的浓度发生变化，也能够准确地定量化学试剂的浓度的气体监控装置。这种气体监控装置(1)的特征在于，具有导入含有测定对象物质的试样气体的试样导入部(3)、测定包含在试样气体中且与测定对象物质共存的规定共存物质的浓度的共存物质浓度测定单元(4)、使所述试样气体电离的电离部、分析从所述电离部生成的离子的质量的质量分析仪、解析由质量分析仪检测出的信号并计算出测定对象物质的浓度的数据处理部(7)、显示由数据处理部(7)解析的解析结果的显示部(8)；并且，数据处理部(7)具有对应于规定共存物质的浓度而修正测定对象物质的浓度的修正单元。

公开(公告)号：CN1865975A

公开(公告)日：2006-11-22

申请号：CN200610001574.6

申请日：2006-01-24

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  警察厅科学警察研究所

Inventor： 高田安章 ,  管正男 ,  永野久志 ,  和气泉 ,  冈田英宏 ,  野尻辰夫 ,  濑户康雄 ,  佐野保广 ,  山城繁春 ,  大泽勇久

IPC: G01N27/62

CPC classification number: H01J49/04 ,  Y10T436/16

Abstract: 本发明提供即使是试样气体中的共存物质的浓度发生变化，也能够准确地定量化学试剂的浓度的气体监控装置。这种气体监控装置(1)的特征在于，具有导入含有测定对象物质的试样气体的试样导入部(3)、测定包含在试样气体中且与测定对象物质共存的规定共存物质的浓度的共存物质浓度测定单元(4)、使所述试样气体电离的电离部、分析从所述电离部生成的离子的质量的质量分析仪、解析由质量分析仪检测出的信号并计算出测定对象物质的浓度的数据处理部(7)、显示由数据处理部(7)解析的解析结果的显示部(8)；并且，数据处理部(7)具有对应于规定共存物质的浓度而修正测定对象物质的浓度的修正单元。

公开(公告)号：CN111902710B

公开(公告)日：2023-10-24

申请号：CN201980021602.6

申请日：2019-03-01

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 熊野峻 ,  永野久志 ,  伊藤孝广 ,  水野弘基 ,  野尻辰夫 ,  杉山益之

IPC: G01N1/00 ,  B01D45/12 ,  B04C5/14 ,  B04C5/20 ,  B04C5/22 ,  B04C9/00 ,  G01N27/60 ,  G01N27/62

Abstract: 为了在不将微粒分析装置停止、分解的情况下清洗微粒分析装置的内部，该微粒分析装置的特征在于，具有：旋流集尘机(14)；一级过滤器(16)，其与旋流集尘机(14)的下游连接，并被加热；气体分析装置(31)，其与一级过滤器(16)连接；气体配管部，其将旋流集尘机(14)与气体分析装置(31)连接，并设置有一级过滤器(16)；以及清洗气体导入装置(21)，其向气体配管部中的一级过滤器(16)的下游以及旋流集尘机(14)中的至少一方导入清洗气体，在至少清洗一级过滤器(16)的清洗模式时，与利用气体分析装置(31)进行微粒的分析的分析模式时相比从清洗气体导入装置(21)导入的清洗气体的流量上升。

公开(公告)号：CN114096825A

公开(公告)日：2022-02-25

申请号：CN202080050377.1

申请日：2020-06-17

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 熊野峻 ,  高田安章 ,  野尻辰夫 ,  永野久志 ,  水野弘基 ,  藤井贵之

IPC: G01N1/02

Abstract: 为了稳定地回收附着于检查对象物的附着物，特征为具备：向上喷射气体的喷嘴(111)；具备喷射气体的开口部的上表面(105)；回收向检查对象物(C)喷出的气体的回收口；以及检测检查对象物(C)是否接触了上表面(105)的接触检测传感器(130)，通过气体收集附着于检查对象物(C)的附着物，喷嘴(111)的前端的高度与上表面(105)的高度大致相同，或者为上表面(105)的高度以下，在上表面(105)设置有凹部(121)，凹部(121)相对于喷嘴(111)的喷射口(112)设置在回收口侧，并且与喷嘴(111)的喷射口(112)相接，或者包含喷嘴(111)的喷射口(112)。

公开(公告)号：CN111902710A

公开(公告)日：2020-11-06

申请号：CN201980021602.6

申请日：2019-03-01

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 熊野峻 ,  永野久志 ,  伊藤孝广 ,  水野弘基 ,  野尻辰夫 ,  杉山益之

IPC: G01N1/00 ,  B01D45/12 ,  B04C5/14 ,  B04C5/20 ,  B04C5/22 ,  B04C9/00 ,  G01N27/60 ,  G01N27/62

Abstract: 为了在不将微粒分析装置停止、分解的情况下清洗微粒分析装置的内部，该微粒分析装置的特征在于，具有：旋流集尘装置(14)；一级过滤器(16)，其与旋流集尘装置(14)的下游连接，并被加热；气体分析装置(31)，其与一级过滤器(16)连接；气体配管部，其将旋流集尘装置(14)与气体分析装置(31)连接，并设置有一级过滤器(16)；以及清洗气体导入装置(21)，其向气体配管部中的一级过滤器(16)的下游以及旋流集尘装置(14)中的至少一方导入清洗气体，在至少清洗一级过滤器(16)的清洗模式时，与利用气体分析装置(31)进行微粒的分析的分析模式时相比从清洗气体导入装置(21)导入的清洗气体的流量上升。