-
公开(公告)号：CN102007392A
公开(公告)日：2011-04-06
申请号：CN201080001377.9
申请日：2010-01-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01M11/0228
Abstract: 本发明提供一种折射率测定装置。以将被检物(23)夹在中间的方式配置两个探针光学系统(22、24)以便用于测定被检物(23)，由此，利用该被检物的干涉信号算出通过局部确定的被检物中的光的光程长度，而且，通过测定探针光学系统的位置而算出该部分的几何厚度，求出光程长度和几何厚度这两个值，并基于这些值和基准物的计算值，求出被检物的折射率分布。
-
公开(公告)号：CN101189488A
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：CN200680019255.6
申请日：2006-09-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01B11/26
CPC classification number: G01B11/26
Abstract: 本发明提供一种角度测定装置及测定方法，其以透过型衍射光栅将从准直透镜射出的光衍射为不同次数的光，并将衍射后的光向被测定物的平坦面照射，在由被测定物的平坦面反射后，使再次透过透过型衍射光栅的光在偏离出射光的光轴的位置处成像，基于该成像位置与成像的光的次数，测定被测定物相对于准直透镜的光轴的角度，由此能够具有高分辨率地测定大范围的角度。
-
公开(公告)号：CN100390519C
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：CN00106255.7
申请日：2000-05-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 透镜的评价方法包括：(a)衍射从透镜射出的光，让不同次数的2个衍射光(例如0次衍射光31和+1次衍射光32)干涉获得共用干涉象50的工序；(b)改变衍射光的相位工序；(c)在共用干涉象中，通过连接2个衍射光的光轴的线段的中点的测线上的多个测点求出光强度变化的相位的工序；(d)以相位为基础求出透镜的特性(散焦量、慧形象差、象散、高阶象差)的工序。
-
公开(公告)号：CN100385215C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN98801069.0
申请日：1998-07-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor： 今井博久 , 西井一成 , 金泽靖之 , 渋谷诚 , 森口实纪 , 中谷直史 , 乾弘文 , 粟屋加寿子 , 西井完治 , 高田和政 , 加藤玄道 , 小林宽 , 吉本弘次 , 西川雅德
CPC classification number: G01J5/02 , G01J5/025 , G01J5/026 , G01J5/027 , G01J5/04 , G01J5/046 , G01J5/049 , G01J5/06 , G01J5/08 , G01J5/0806 , G01J5/0815 , G01J5/0834 , G01J5/089 , G01J5/62 , G01J2005/0048 , G01J2005/068
Abstract: 本发明涉及一种非接触方式测定鼓膜温度的辐射体温计，其具有将仅接收从鼓膜和/或其附近直接辐射出的红外线的受光部17的输出运算成温度的信号处理手段4和报告运算出的温度的报告手段18，由于做成为不受到来自鼓膜和/或其附近之外的热辐射影响的结构，所以，探头1的温度变化不会成为测定误差的因素，能进行正确的体温测定。当从聚光元件的光轴所在的剖面看时，红外光电检测元件设置在如下三点所形成的三角形内，这三点为：从聚光元件的边缘起引出且与相对光轴位于聚光元件边缘同侧的探头内壁接触的直线与探头顶端的面交叉成假想顶端点时，从该假想顶端点起通过相对光轴与假想顶端点同侧的聚光元件的边缘后到达由聚光元件形成的假想顶端点的像点的光路与光轴的交点，以及由聚光元件形成的假想顶端点的两个像点。
-
公开(公告)号：CN102007392B
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201080001377.9
申请日：2010-01-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01M11/0228
Abstract: 本发明提供一种折射率测定装置。以将被检物(23)夹在中间的方式配置两个探针光学系统(22、24)以便用于测定被检物(23)，由此，利用该被检物的干涉信号算出通过局部确定的被检物中的光的光程长度，而且，通过测定探针光学系统的位置而算出该部分的几何厚度，求出光程长度和几何厚度这两个值，并基于这些值和基准物的计算值，求出被检物的折射率分布。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1133073C
公开(公告)日：2003-12-31
申请号：CN99111149.4
申请日：1999-07-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/0271
Abstract: 一种测定与诸如DVD的光学系统一起使用的光学元件如光学头象差的方法。在此方法中，光束透过光学元件并衍射成例如0，±1，±2级衍射光。其中，第一和第二光束(如0和+1，0和-1，+1和-1，或0和±1级衍射光)叠加形成第一和第二光束共有的一个图象。然后测得在共有图象中第一和第二点处的光强度。此时，使第一和第二点处的光强变化。之后测得第一和第二点之间光强的相位差。利用相位差判定光学元件的象差。
-
公开(公告)号：CN1182211A
公开(公告)日：1998-05-20
申请号：CN97111442.0
申请日：1997-05-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/8903
Abstract: 本发明是使用光的缺陷检查方法及其检查装置。用由半导体激光一维配置的列状光源和投影透镜在被检查物体上进行强度变化的虚线状照明。用线状传感器通过物镜摄像。接着一边用试样台使被检查物体依序移动一边通过用线状传感器的信号和试样台的信号形成图像的前处理部向图象处理部输入图像信号并进行图象处理,以此可以检测被检查物体上的光学不均匀部分,确认有否裂纹缺陷。以此方法可高精度、高速度地检测陶瓷基板和金属烧结材料等的裂纹缺陷。
-
公开(公告)号：CN1170139A
公开(公告)日：1998-01-14
申请号：CN96106812.4
申请日：1996-06-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G02B5/18
CPC classification number: G02B5/1871 , G02B27/46 , Y10S359/90
Abstract: 一种其凹部基本上为矩形形状的相位光栅,光栅深度比通过等式:丨n－no丨×(p－d′/e)/p×d′=(λ/2)×(1+2m),(其中,m=0,±1,±2,…)计算得到的深度d′为更深一个规定范围内的值,所述深度d′取决于因相位光栅的衍射产生部分干涉的光的波长λ、相位光栅的间距长度p、相位光栅之基料的折射率n、相位光栅周围介质的折射率no、以及作为光栅深度与光栅凹部斜面宽度之比的形态比e。
-
公开(公告)号：CN101189488B
公开(公告)日：2010-05-19
申请号：CN200680019255.6
申请日：2006-09-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01B11/26
CPC classification number: G01B11/26
Abstract: 本发明提供一种角度测定装置及测定方法，其以透过型衍射光栅将从准直透镜射出的光衍射为不同次数的光，并将衍射后的光向被测定物的平坦面照射，在由被测定物的平坦面反射后，使再次透过透过型衍射光栅的光在偏离出射光的光轴的位置处成像，基于该成像位置与成像的光的次数，测定被测定物相对于准直透镜的光轴的角度，由此能够具有高分辨率地测定大范围的角度。
-
公开(公告)号：CN1800803A
公开(公告)日：2006-07-12
申请号：CN200610005790.8
申请日：2006-01-06
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/0271
Abstract: 提供一种能够高精度地评价光学部件的性能的检查方法。检查方法中，根据透射光学部件(18)的光(16)，形成具有不同相位的第1和第2光(24)、(26)，使第1和第2光产生干涉形成干涉区域(30)。在干涉区域(30)，设定直线(66)、直线(70)、直线(72)，求出各直线(72)上的光强度的分布。而且，求出与最大的光强度对应的频率。进而，根据针对直线(72)各自所求出的多个频率，求出近似直线或者近似曲线。并且，基于近似的直线或者曲线的系数评价光学部件的像差。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
23
records
(took 0.039 seconds)
