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发明公开
基于正交格雷码和线移相结合的结构光三维测量方法无效

公开(公告)号：CN105890546A

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201610257680.4

申请日：2016-04-22

Applicant: 无锡信捷电气股份有限公司

Inventor： 吉峰 , 石爱军 , 白瑞林 , 李杜

IPC: G01B11/25

CPC classification number: G01B11/254

Abstract: 一种基于正交格雷码和线移相结合的结构光三维测量方法，应用于快速三维重构中。利用格雷码条纹边缘进行编解码，消除了格雷码一位解码误差；采用投射格雷码图案后继续投射线移图案，结合格雷码条纹边缘和线移条纹中心定位，提高图像采样点的密度；通过从条纹中心向两侧对称线移的方法，避开了因边缘扩散和全局光照造成的边缘定位误差，从而消除了线移条纹周期定位的解码误差，提高了全局解码的正确率，减少边缘定位的时间；采用双向正交投射实现左右视场全局唯一性编码，利用该匹配特征可以完成同名采样点的一一对应，消除了像素中心解码存在的量化误差。本发明在保证系统测量准确性、鲁棒性的同时，提高三维测量的速度。

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