公开(公告)号：CN106018973B

公开(公告)日：2018-10-19

申请号：CN201610539649.X

申请日：2016-07-11

Applicant: 厦门大学

Inventor： 肖芬 ,  张俊明 ,  陈先言 ,  李学漪 ,  柳清伙 ,  刘海

IPC: G01R27/26 ,  G01R33/12

Abstract: 一种微带测试纳米薄膜微波电磁参数装置，涉及材料电磁参数的检测。设有微带夹具、微波矢量网络分析仪、GPIB数据采集卡、计算机；微带夹具由L型底座、上导带、可调短路片、SMA连接头、屏蔽罩和固定平台构成；L型底座一端设圆孔，另一端设台阶；可调短路片两端开槽；SMA连接头安装于L型底座上，SMA连接头与微波矢量网络分析仪的同轴电缆连接，被测纳米薄膜样品放置位置为输入端与可调短路片的中心位置；微带夹具锁定在固定平台上，固定平台的四角装有高度可调的支撑杆，固定平台面上均匀刻上标有刻度的一组水平线，在固定平台上锁定两片弹簧卡片，两片弹簧卡片分别放置在微带夹具的终端与侧面。测量精确、无损伤、操作简便。

公开(公告)号：CN103293418A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310214004.5

申请日：2013-05-31

Applicant: 厦门大学

Inventor： 江智渊 ,  余明 ,  肖芬 ,  陈先言 ,  阙永祥 ,  刘星 ,  林媛

IPC: G01R31/00 ,  G01R1/04

Abstract: 一种吸波材料电磁参数的同轴测试装置及自动测试方法，涉及一种材料电磁参数的测试装置。提供一种扫频频带宽、实用性广、无损伤、精确、操作方便的一种吸波材料电磁参数的同轴测试装置及自动测试方法。所述吸波材料电磁参数的同轴测试装置设有微波矢量网络分析仪、同轴测试夹具、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机。所述自动测试方法：将吸波样品用模具加工成圆环状；将圆环状吸波样品放入同轴测试夹具最左端面；搭建连接好吸波材料电磁参数的同轴测试装置；通过计算机上相应的测试软件自动采集吸波材料电磁参数的数据；自动计算、显示和保存吸波样品的电磁参数的扫频测试结果。

公开(公告)号：CN103323677B

公开(公告)日：2015-03-11

申请号：CN201310214174.3

申请日：2013-05-31

Applicant: 厦门大学

Inventor： 肖芬 ,  余明 ,  阙永祥 ,  江智渊 ,  陈先言 ,  刘星

IPC: G01R27/26 ,  G01R31/00 ,  G01R33/12

Abstract: 微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法，涉及一种材料电磁参数的检测。提供无损伤、精确、操作方便的一种微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法。所述微波材料电磁参数的凹形腔检测装置设有微波矢量网络分析仪、微波凹形腔传感器、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机。

公开(公告)号：CN106018973A

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201610539649.X

申请日：2016-07-11

Applicant: 厦门大学

Inventor： 肖芬 ,  张俊明 ,  陈先言 ,  李学漪 ,  柳清伙 ,  刘海

IPC: G01R27/26 ,  G01R33/12

Abstract: 一种微带测试纳米薄膜微波电磁参数装置，涉及材料电磁参数的检测。设有微带夹具、微波矢量网络分析仪、GPIB数据采集卡、计算机；微带夹具由L型底座、上导带、可调短路片、SMA连接头、屏蔽罩和固定平台构成；L型底座一端设圆孔，另一端设台阶；可调短路片两端开槽；SMA连接头安装于L型底座上，SMA连接头与微波矢量网络分析仪的同轴电缆连接，被测纳米薄膜样品放置位置为输入端与可调短路片的中心位置；微带夹具锁定在固定平台上，固定平台的四角装有高度可调的支撑杆，固定平台面上均匀刻上标有刻度的一组水平线，在固定平台上锁定两片弹簧卡片，两片弹簧卡片分别放置在微带夹具的终端与侧面。测量精确、无损伤、操作简便。

公开(公告)号：CN103323677A

公开(公告)日：2013-09-25

申请号：CN201310214174.3

申请日：2013-05-31

Applicant: 厦门大学

Inventor： 肖芬 ,  余明 ,  阙永祥 ,  江智渊 ,  陈先言 ,  刘星

IPC: G01R27/26 ,  G01R31/00 ,  G01R33/12

Abstract: 微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法，涉及一种材料电磁参数的检测。提供无损伤、精确、操作方便的一种微波材料电磁参数的凹形腔检测装置及其自动检测方法。所述微波材料电磁参数的凹形腔检测装置设有微波矢量网络分析仪、微波凹形腔传感器、输入同轴电缆、输出同轴电缆、GPIB数据采集卡和计算机。

公开(公告)号：CN205786867U

公开(公告)日：2016-12-07

申请号：CN201620722730.7

申请日：2016-07-11

Applicant: 厦门大学

Inventor： 张俊明 ,  肖芬 ,  陈先言 ,  李学漪 ,  柳清伙 ,  刘海

IPC: G01R27/26 ,  G01R33/12

Abstract: 一种纳米薄膜微波电磁参数测试装置，涉及材料电磁参数的检测。设有微带夹具、微波矢量网络分析仪、GPIB数据采集卡、计算机；微带夹具由L型底座、上导带、可调短路片、SMA连接头、屏蔽罩和固定平台构成；L型底座一端设圆孔，另一端设台阶；可调短路片两端开槽；SMA连接头安装于L型底座上，SMA连接头与微波矢量网络分析仪的同轴电缆连接，被测纳米薄膜样品放置位置为输入端与可调短路片的中心位置；微带夹具锁定在固定平台上，固定平台的四角装有高度可调的支撑杆，固定平台面上均匀刻上标有刻度的一组水平线，在固定平台上锁定两片弹簧卡片，两片弹簧卡片分别放置在微带夹具的终端与侧面。测量精确、无损伤、操作简便。