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发明公开
一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法无效

公开(公告)号：CN112071355A

公开(公告)日：2020-12-11

申请号：CN202011258715.9

申请日：2020-11-12

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 , 周正 , 鄢士钦 , 王子轩 , 刘璐 , 郭宇锋

IPC: G11C29/12 , G06F11/26 , G06F11/22

Abstract: 一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法，通过SRAM测试控制模块、故障预分析模块和算法生成模块实现。SRAM测试控制模块控制待测SRAM存储阵列的工作电压、温度以及工艺等，使得SRAM在不同的工作环境下暴露出更多的故障行为，减少故障的逃逸率；故障预分析模块用来提前对存储阵列中可能发生的故障进行预判断，判断结果输入算法生成模块，算法生成模块重构出当前环境下存储阵列的最优算法，并生成新的BIST电路，对存储阵列进行高效快速的故障测试。该技术突破传统算法的局限性，可以提高故障覆盖率并降低测试成本。

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