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公开(公告)号:CN101788507A
公开(公告)日:2010-07-28
申请号:CN201010106805.6
申请日:2010-02-03
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/223 , G06F17/00
Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,分析标样光谱,确定谱峰波长和峰位之间的关系,以及谱峰波长和谱峰宽度之间的关系;利用确定的所述关系,计算待测样品拟包含的元素的激发光谱中可能存在的所有谱峰的峰位以及谱峰宽度;在待测样品全谱范围内进行寻峰,将寻峰得到的峰位与所述计算的峰位进行比较,以及将寻峰得到的谱峰宽度与所述计算的谱峰宽度比较,确定是否存在完全重叠峰并确定重叠区域宽度;在各重叠区域内进行谱峰分解,计算高斯函数及本底函数的数学表达式;利用得到的高斯函数和本底函数进行光谱分析。本发明实施例达到谱峰分解的目的,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。
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公开(公告)号:CN101788507B
公开(公告)日:2012-10-03
申请号:CN201010106805.6
申请日:2010-02-03
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/223 , G06F17/00
Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,分析标样光谱,确定谱峰波长和峰位之间的关系,以及谱峰波长和谱峰宽度之间的关系; 利用确定的所述关系,计算待测样品拟包含的元素的激发光谱中可能存在的所有谱峰的峰位以及谱峰宽度;在待测样品全谱范围内进行寻峰,将寻峰得到的峰位与所述计算的峰位进行比较,以及将寻峰得到的谱峰宽度与所述计算的谱峰宽度比较,确定是否存在完全重叠峰并确定重叠区域宽度;在各重叠区域内进行谱峰分解,计算高斯函数及本底函数的数学表达式;利用得到的高斯函数和本底函数进行光谱分析。本发明实施例达到谱峰分解的目的,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。
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公开(公告)号:CN101806757A
公开(公告)日:2010-08-18
申请号:CN201010126507.3
申请日:2010-03-16
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明提供一种提高分光器性能的方法及分光器、X射线测量分析设备,属光学测量技术领域。该方法适用的分光器包括:壳体、入射狭缝组件、分光晶体和出射狭缝组件;其中,所述入射狭缝组件和出射狭缝组件均设置在壳体上,所述分光晶体设置在壳体内作为入射狭缝组件与出射狭缝组件之间的反射体;该方法包括:在分光器壳体内设置射线挡块,使所述射线挡块设置在壳体内分光晶体周围,通过射线挡块吸收或阻挡从入射狭缝组件进入的能照射到壳体内壁上的部分X射线,及吸收或阻挡通过分光晶体反射后能照射到壳体内壁上的部分X射线。采用该方法后,可以对射线在分光器内的传播路径进行校正,避免漫反射的X射线的影响,显著提高分光器的性能。
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