数据库组态检查方法、装置、设备、存储介质和程序产品

    公开(公告)号:CN119357054A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411451769.5

    申请日:2024-10-17

    Abstract: 本申请公开了一种数据库组态检查方法、装置、设备、存储介质和程序产品,涉及数据处理技术领域,包括:将获得的各设计文件转换为可编辑的表格文件;根据各个待检查类别的信息的比对用例模板,从表格文件中提取每个比对用例模板指定的目标字段的数据到比对用例模板中,得到各个待检查类别的初始比对用例表单;从组态数据库中读取点项标识对应的站号到初始比对用例表单的站号字段下,得到目标比对用例表单;对应每个待检查类别,基于该待检查类别的目标比对用例表单中站号对应的第一待比对信息,与组态数据库中与上述站号对应的第二待比对信息进行比对,确定检查结果并填加到目标比对用例表单中。基于本申请,提高了数据库组态检查的效率和准确率。

    一种核电站数字化仪控系统的测试方法及系统

    公开(公告)号:CN118605452A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410793174.1

    申请日:2024-06-19

    Abstract: 本申请公开了一种核电站数字化仪控系统的测试方法及系统,对通过n路IO输出通道输出的多个激励信号进行组合处理,得到多个组合,每个组合由存在组合逻辑的至少2个阶跃变化的激励信号组成,或者由不存在组合的阶跃变化的激励信号组成,控制测试信号站的板卡输出组合所包含的激励信号,及同步输出与组合相应的触发源信号;每个组合对应一个触发源信号,根据任意一个触发源信号进行信号采集,得到核电站DCS信号,通过预先配置的计算参数,对核电站DCS信号进行计算,得到核电站DCS的响应时间,根据预设测试方式测试响应时间是否符合标准,得到测试结果并记录。

    一种CIS-V设备的测试方法及装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118067426A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410214265.5

    申请日:2024-02-27

    Abstract: 本发明提供一种CIS‑V设备的测试方法及装置,应用于处理器,处理器连接CIS‑V设备和摄像头,摄像头对准CIS‑V设备中的面板指示灯,测试方法包括:控制CIS‑V设备模拟长期运行工况,针对CIS‑V设备进行长期运行工况对应的测试策略,接收CIS‑V设备的输出信号和摄像头实时采集的面板指示灯图像,识别面板指示灯图像得到CIS‑V设备的运行状态,基于运行状态和输出信号确定CIS‑V设备是否正常。在本方案中,在长期模拟工况下自动对CIS‑V设备进行相应的测试策略,并利用摄像头实时采集面板指示灯进行识别,从而捕捉人眼难以发现的故障,以实现提高发现故障效率,节省人力物力的目的。

    一种分布式测试系统
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113886265A

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN202111225924.8

    申请日:2021-10-21

    Abstract: 本发明提供的分布式测试系统由数据服务器、测试终端和数据交互设备构成,所述数据服务器用于实现每次测试过程的测试数据的存储;所述测试终端通过所述数据交互设备与被测设备连接,所述测试终端加载有用于对所述被测设备进行测试的预设测试策略,当所述测试终端被触发时,用于向所述被测设备发送与所述测试用例相适配的测试指令。此种配置方式能够实现测试对象的大规模部署,能够实现被测设备复杂功能的测试,仅需一套测试系统就能实现被测设备完整的功能测试。

    仪控系统平台逻辑算法块测试装置和方法

    公开(公告)号:CN107797928A

    公开(公告)日:2018-03-13

    申请号:CN201711012315.8

    申请日:2017-10-26

    CPC classification number: G06F11/3688 G06F11/3692

    Abstract: 本发明属于仪控系统的技术领域,为了解决现有技术中存在的算法块功能遍历测试中存在的测试效率低、测试结果不准确的技术问题,本发明提供一种能够同步开展多个算法块的仪控系统平台逻辑算法块测试装置和方法;所述测试装置包括:信号产生模块,用于产生用于测试算法块的测试信号;信号发送模块,同时向待测试仪控系统平台中具有相同属性的算法块发送所述测试信号,使得所述具有相同属性的算法块能够并行处理逻辑运算;信号接收模块,待所述测试仪控系统平台中所述具有相同属性的算法块完成运算处理之后,所述信号接收模块接收所述具有相同属性的算法块的运算结果;测试结果判定模块,确定所述测试结果是否能满足预期要求。

    一种比对测试方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118965018A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411006485.5

    申请日:2024-07-25

    Abstract: 本申请提供了一种比对测试方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:根据图纸命名映射关系,确定待比对组态图和目标CLD图,待比对组态图是所有组态图中的任意一幅,目标CLD图是需要与待比对组态图进行一致性比对的CLD图;对待比对组态图和目标CLD图进行归一化处理,得到待比对组态图对应的组态树和目标CLD图对应的CLD树;根据递归算法对组态树和所述CLD树进行对比,得到待比对组态图的比对测试结果,能够利用计算机技术进行自动批量的比对测试,解决了现有核电厂中每个机组都要完整的把所有图纸描画一遍进行验证,基线测试耗时长,不仅工作量大同时还考验测试人员的耐心和读图能力,极易引入人因失误的问题。

    一种测试电路板的方法及装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116068384A

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN202310144688.X

    申请日:2023-02-07

    Abstract: 本申请提供了一种测试电路板的方法及装置,涉及仪器控制技术领域。测试设备首先响应于对电路板进行测试的请求,控制上位机中的测试软件进入电路板测试配置界面;然后测试设备响应于运维人员基于电路板测试配置界面设置的测试参数,通过目标电路板对应的测试系统上预置的测试接口,向目标电路板输入测试信号;再根据测试参数及输入的测试信号,利用下位机对目标电路板进行测试;最后展示基于测试信号得到的测试结果。这样,利用上位机向目标电路板对应的测试系统上预置的测试接口输入测试信号,并利用下位机完成对电路板的测试,不需要将电路板进行拆卸以进行测试,进而避免了电路板多次插拔可能会对电路板和机柜接口造成不可逆的损伤的问题。

    仪控系统平台逻辑算法块测试装置和方法

    公开(公告)号:CN107797928B

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN201711012315.8

    申请日:2017-10-26

    Abstract: 本发明属于仪控系统的技术领域,为了解决现有技术中存在的算法块功能遍历测试中存在的测试效率低、测试结果不准确的技术问题,本发明提供一种能够同步开展多个算法块的仪控系统平台逻辑算法块测试装置和方法;所述测试装置包括:信号产生模块,用于产生用于测试算法块的测试信号;信号发送模块,同时向待测试仪控系统平台中具有相同属性的算法块发送所述测试信号,使得所述具有相同属性的算法块能够并行处理逻辑运算;信号接收模块,待所述测试仪控系统平台中所述具有相同属性的算法块完成运算处理之后,所述信号接收模块接收所述具有相同属性的算法块的运算结果;测试结果判定模块,确定所述测试结果是否能满足预期要求。

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