一种测试装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111161524B

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN201911265245.6

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明实施例公开了一种测试装置,所述装置包括:现场可编程逻辑门阵列FPGA模块、数字信号处理器DSP模块和精简指令微处理器ARM模块;其中,所述ARM模块,用于设置参数,并将所述参数发送给所述DSP模块;所述FPGA模块,用于接收遥测信号,对所述遥测信号进行信道化处理,并将信道化处理后的信号发送至所述DSP模块;所述DSP模块,用于对所述信道化处理后的信号进行解调处理,并将解调后的信号返回至所述FPGA模块;以及基于所述参数发送遥控信号至所述FPGA模块。

    一种测试装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111161524A

    公开(公告)日:2020-05-15

    申请号:CN201911265245.6

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本发明实施例公开了一种测试装置,所述装置包括:现场可编程逻辑门阵列FPGA模块、数字信号处理器DSP模块和精简指令微处理器ARM模块;其中,所述ARM模块,用于设置参数,并将所述参数发送给所述DSP模块;所述FPGA模块,用于接收遥测信号,对所述遥测信号进行信道化处理,并将信道化处理后的信号发送至所述DSP模块;所述DSP模块,用于对所述信道化处理后的信号进行解调处理,并将解调后的信号返回至所述FPGA模块;以及基于所述参数发送遥控信号至所述FPGA模块。

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