一种下变频器及微波信号调理方法

    公开(公告)号:CN119602711A

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202411644180.7

    申请日:2024-11-18

    Abstract: 本发明涉及微波信号调理技术领域,公开一种下变频器及微波信号调理方法。下变频器包括输入端口、通道选通单元、变频单元、输出端口、射频本振单元和控制单元;根据输入信号的设计频段将变频单元分为四个通道,四通道具有不同频段且互相具有交叉频率,交叉频率范围大于等于1GHz;控制单元根据输出信号频率控制通道选通单元选择通道进行信号传输;当输出信号频率与输入信号频率相等时,输入信号经所选通道滤波、放大后获得输出信号,当输出信号频率小于输入信号频率时,产生本振信号至所选通道,输入信号经所选通道滤波、变频、放大后获得输出信号。本发明能实现30MHz~26.5GHz超宽带频段、120dB大动态调整、35dB低杂散、0.5dB/1GHz高平坦度等限制指标微波信号的下变频及调理。

    快响应时变电阻标准器
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119064652A

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202411177528.6

    申请日:2024-08-26

    Abstract: 本发明涉及一种快响应时变电阻标准器,包括用于编辑时变电阻序列的上位机,供电模块、控制模块和定值电阻输出模块;供电模块用于向控制模块和定值电阻输出模块供电;控制模块用于根据上位机输出的时变电阻序列,向定值电阻输出模块输出数字量D;定值电阻输出模块包括电流电压转换电路、数模转换电路和高稳定性的信号调理与输出电路。本发明,可实现随时间变化的电阻序列输出,包括导电环动态接触电阻模拟序列、定值电阻序列和正弦电阻序列,具有高稳定性和快速响应的特点,可作为导电环动态电阻模拟器,对导电环电噪声测试在动载情况下的性能进行测试。

    一种动态电阻导通测试仪校准装置

    公开(公告)号:CN115656909A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211398556.1

    申请日:2022-11-09

    Abstract: 本申请提供了一种动态电阻导通测试仪校准装置,用于导电环滑动接触电阻测试,包括:母板;电源板卡;至少一个时变电阻模拟板卡;上位机,其中电源板卡、时变电阻模拟板卡通过连接器与母板互连,时变电阻模拟板卡具有主控芯片,具有N路通道,用于实现独立的N路电阻输出,N大于等于2;电流测量电路用于采集输入电流;上位机将输出电阻设定值发送至时变电阻模拟板卡的主控芯片中,主控芯片根据所述输出电阻值设定值控制时变电阻模拟板卡输出的电压。

    基于TTE网络的多节点模拟测试方法及测试设备

    公开(公告)号:CN119603165A

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202411712522.4

    申请日:2024-11-27

    Abstract: 本发明涉及一种基于TTE网络的多节点模拟测试方法,包括以下步骤:步骤S1、各仿真节点根据模拟需求生成模拟数据表;步骤S2、多个仿真节点通过总线将模拟数据表发送至设备控制器;步骤S3、设备控制器根据模拟数据表和业务规划表,获得业务关键参数,规划每个仿真节点的时间调度方案,获得时间调度表;步骤S4、设备控制器根据时间调度表,生成消息队列;仿真节点根据发送窗口和消息队列向外部发送业务的模拟数据;步骤S5、设备控制器通过总线同步捕获多个仿真节点从外部接收的接收数据。本发明可实现周期型数据模拟和回放数据模拟,实现测试任务的有效且全面的完成。

    一种用于示波器检定的信号源模块及信号产生方法

    公开(公告)号:CN109521385B

    公开(公告)日:2021-09-14

    申请号:CN201811400231.6

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 本发明涉及一种用于示波器检定的信号源模块及信号产生方法,包括:包括频率合成器、分段滤波电路、可控增益放大器、调幅电路、数控衰减器、混频电路、固定衰减网络及FPGA控制模块。本专利提出的示波器标准信号源,突破了小型化高精度频率合成技术,在有限空间内实现了双通道高频率准确度,高幅度准确度的信号发生;突破了高精度时标信号产生技术,采用基于FPGA的占空比控制技术及边沿整形技术,时标信号上升沿基本满足指标要求。

    一种光电零位传感器自动测试系统及其测试方法

    公开(公告)号:CN119915329A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202510106371.6

    申请日:2025-01-23

    Abstract: 本申请提供了一种光电零位传感器自动测试系统及其测试方法。自动测试系统包括:测量单元,包括光电管测量模块、零位精度检测模块、零位宽度检测模块、运行步数测量模块、运行频率测量模块;驱动单元,包括电机驱动控制电路和脉冲发生器;发光二极管电流源,用于通过模数转换器向光电零位传感器的发光二极管提供驱动电流;微控制器,用于控制发光二极管电流源、脉冲发生器、测量单元,同时与步进电机通信;嵌入式计算机,用于控制微控制器,嵌入式计算机用于运行自动测试程序。本申请提供的自动测试系统及其测试方法不需要外接电流源和数字多用表,无需手动记录测试数据,可以实现机构一键式归零及相关参数的一键式自动测试。

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