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公开(公告)号：CN103051399B
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201210554049.2
申请日：2012-12-19
Applicant: 中国舰船研究设计中心
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量方法，采用微波暗室性能测量系统，根据微波暗室性能分析试验的需要，设置所需测量的静区参数、测量频率、信号源功率、接收天线的扫描轨迹和运动速度、收发天线的旋转方向和旋转速度；根据信号源功率驱动信号源，根据接收天线的扫描轨迹和运动速度、及收发天线的旋转方向和旋转速度驱动各步进电机控制各运动部件运动，根据测量频率控制信号接收装置接收接收天线的信号并存储。采用本方法可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量；采用计算机实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN103036629A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201210553998.9
申请日：2012-12-19
Applicant: 中国舰船研究设计中心
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量系统，包括测试台架和控制设备，测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架，以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架；控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置。采用本系统可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量，采用计算机自动控制、自动测量并自动存储测量数据，实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量，提高了测量效率，测量准确度高。
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公开(公告)号：CN103036629B
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201210553998.9
申请日：2012-12-19
Applicant: 中国舰船研究设计中心
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量系统，包括测试台架和控制设备，测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架，以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架；控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置。采用本系统可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量，采用计算机自动控制、自动测量并自动存储测量数据，实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量，提高了测量效率，测量准确度高。
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公开(公告)号：CN103051399A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201210554049.2
申请日：2012-12-19
Applicant: 中国舰船研究设计中心
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明提供微波暗室性能测量方法，采用微波暗室性能测量系统，根据微波暗室性能分析试验的需要，设置所需测量的静区参数、测量频率、信号源功率、接收天线的扫描轨迹和运动速度、收发天线的旋转方向和旋转速度；根据信号源功率驱动信号源，根据接收天线的扫描轨迹和运动速度、及收发天线的旋转方向和旋转速度驱动各步进电机控制各运动部件运动，根据测量频率控制信号接收装置接收接收天线的信号并存储。采用本方法可以灵活地运用于微波暗室沿不同扫描轨迹进行测量；采用计算机实现微波暗室静区反射率电平、交叉极化特性、多路径损耗均匀性、场均匀性性能指标的自动测量，提高了测量效率。
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