公开(公告)号：CN117169677A

公开(公告)日：2023-12-05

申请号：CN202311295077.1

申请日：2023-10-07

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所

Inventor： 蔡建荣 ,  吴兆希 ,  罗俊 ,  邢宗锋 ,  岑政 ,  代薇薇 ,  石金艳 ,  叶思楠

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  H01L21/687 ,  H01L21/66 ,  H01L21/68

Abstract: 本发明涉及芯片检测装置技术领域，公开了一种芯片检测装置，包括底座、夹具单元、检测单元、设在底座上的位置调节单元以及关停单元，夹具单元包括支承板以及设置在底座上的调节部，支承板的顶面上开设有限位槽；检测单元的检测部分设置在位置调节单元上并位于支承板的正上方处。通过支承板和调节部之间的配合以限制住芯片，限位槽内的芯片在限位槽内壁的抵挡下被限制水平方向的自由度，保证芯片不会发生位置偏移；并限制住支承板在水平方向上的自由度，以更换不同大小和形状的支承板，以使整个夹具单元能够适用于裸芯片以及电路板上的芯片等不同情况下的芯片检测，大大降低各种芯片的检测难度，减少不必要的麻烦。

公开(公告)号：CN115791376A

公开(公告)日：2023-03-14

申请号：CN202211578327.8

申请日：2022-12-09

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所

Inventor： 李胜玉 ,  罗俊 ,  邱忠文 ,  谭骁洪 ,  应广祺 ,  余航 ,  吴兆希 ,  蔡建荣 ,  岑政 ,  张玲

IPC: G01N3/04 ,  G01N3/20 ,  G01N3/02

Abstract: 本发明涉及一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法，包括底座，所述底座上水平设置有限制位挡板，所述限制位挡板上设置有支撑组件；所述底座上还设置有PCB板固定结构，所述PCB板固定结构上设置有PCB板，所述PCB板位于支撑组件的正上方；所述PCB板的上方设置有盖板，所述盖板对应PCB板的中心位置处穿设有施压螺栓。本发明中，能够模拟片式电容焊接在PCB板上弯曲的情况，从而能够在更接近PCB板实际工作状态的环境下测试片式电容的失效极限容值，满足用户对产品更高的筛选需求；并且在底座上设置了限制位挡板，使得PCB板在抗弯曲测试中不会相对测试夹具发生位移造成安全隐患。

公开(公告)号：CN110673018A

公开(公告)日：2020-01-10

申请号：CN201910987205.6

申请日：2019-10-17

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所

Inventor： 蔡建荣 ,  邱忠文 ,  秦国林 ,  罗俊 ,  吴兆希 ,  李晓红 ,  谭骁洪 ,  杨勇 ,  杨迁 ,  朱朝轩

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明属于自动化测试技术领域，特别是一种无外引出线芯片级器件测试平台；本平台包括导轨支架、探针组件、器件固定底板以及平台底座；导轨支架包括一个载物台、两根金属杆和U型框架，载物台活动设置在金属杆上，金属杆的一端与U型框架顶部连接，另一端穿过探针组件与U型框架底部连接；探针组件包括测试探针定位板和测试探针；载物台与测试探针定位板固定连接；平台底座、器件固定底板以及导轨支架三者固定连接；本发明采用探针测试方式对芯片级器件进行测试，能够有效的接触被测器件的测试点，同时不会造成器件的短路，解决了原先对无外引出线的微小器件无法进行测试的问题。

公开(公告)号：CN117517914A

公开(公告)日：2024-02-06

申请号：CN202311369294.0

申请日：2023-10-20

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所

Inventor： 岑政 ,  向飞 ,  蔡建荣 ,  罗寻 ,  罗俊 ,  杨晓强 ,  韩星 ,  吴兆希 ,  王祖正

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明涉及一种背漏极MOSFET晶圆动态参数测试结构及方法，包括晶圆托盘和漏极测试板，所述漏极测试板的背面紧密贴合在晶圆托盘的侧面上，所述漏极测试板的背面设置有D极连接部；所述漏极测试板的正面设置有测试线连接部和电源线连接部，所述测试线连接部通过匹配电阻与D极连接部连接，所述电源线连接部通过限流电阻与D极连接部连接。本发明中，在晶圆托盘的侧面漏极设置测试板接触，能够与背漏极MOSFET芯片背面的漏极形成通路，对于背漏极MOSFET芯片的背面测试接触问题有极大改善，并使得背漏极MOSFET芯片的漏极端在测试过程中采用的连接线大大缩短，能够有效提高测试的准确性。

公开(公告)号：CN112485653A

公开(公告)日：2021-03-12

申请号：CN202011269377.9

申请日：2020-11-13

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所

Inventor： 蔡建荣 ,  邱忠文 ,  罗俊 ,  吴兆希 ,  王翔

IPC: G01R31/317

Abstract: 本发明提供一种集成电路测试系统及方法，系统包括：测试板模块、用于切换测试引脚的继电器阵列模块、用于发送测试指令的上位机、用于根据所述测试指令对继电器阵列模块进行控制的下位机；所述测试板模块与所述继电器阵列模块匹配连接，所述测试板模块与被测器件或被测电路相匹配，所述继电器阵列模块与所述下位机连接，所述下位机与所述上位机连接；通过上位机发送测试指令，下位机接收上位机发出的测试指令并对继电器阵列模块进行控制，继电器阵列模块与测试板模块匹配连接，实现对不同电路单元的引脚间的切换测试，测试效率较高，成本较低。

公开(公告)号：CN220855082U

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202322693066.0

申请日：2023-10-07

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十四研究所

Inventor： 蔡建荣 ,  吴兆希 ,  罗俊 ,  邢宗锋 ,  岑政 ,  代薇薇 ,  石金艳 ,  叶思楠

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  H01L21/687 ,  H01L21/66 ,  H01L21/68

Abstract: 本实用新型涉及芯片检测装置技术领域，公开了一种芯片检测装置，包括底座、夹具单元、检测单元和设在底座上的位置调节单元，夹具单元包括支承板以及设置在底座上的调节部，支承板的顶面上开设有限位槽；检测单元的检测部分设置在位置调节单元上并位于支承板的正上方处。通过支承板和调节部之间的配合以限制住芯片，限位槽内的芯片在限位槽内壁的抵挡下被限制水平方向的自由度，保证芯片不会发生位置偏移；并限制住支承板在水平方向上的自由度，以更换不同大小和形状的支承板，以使整个夹具单元能够适用于裸芯片以及电路板上的芯片等不同情况下的芯片检测，大大降低各种芯片的检测难度，减少不必要的麻烦。