公开(公告)号：CN113899280A

公开(公告)日：2022-01-07

申请号：CN202111323390.2

申请日：2021-11-08

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 张亚奇 ,  张文泽 ,  沈毅君 ,  姚艾舟 ,  张林 ,  朱利民 ,  杨儒清 ,  张杨

IPC: G01B5/008

Abstract: 本发明提供了一种整体叶盘叶片四轴联动测量路径规划方法及系统，通过干涉检查，将叶片截面线划分为上、下两段，并确定测针倾斜角，之后利用增量式计算方法快速获得所有路径点的旋转角可测矩阵，同时将测针、测座近似为圆锥模型对可测矩阵进行修正，最后利用二分法和三次样条曲线对测座旋转角进行拟合，最终获得平滑无干涉的转台旋转轨迹。本发明可行区域的计算中考虑了测座本身的体积，并将其与测针近似为圆锥对可测矩阵进行了进一步的修正，确保可测矩阵准确无干涉；充分利用四轴联动测量机的优势，测量过程中只需要调整测针方向两次，提高了测量效率，本发明极大的降低了干涉检查的计算量，本发明确保了轨迹无干涉情况下尽可能的光顺。

公开(公告)号：CN113203385B

公开(公告)日：2022-03-01

申请号：CN202110413720.0

申请日：2021-04-16

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 张杨 ,  沈毅君 ,  张亚奇 ,  朱利民 ,  张超奇 ,  黄诺帝

IPC: G01B21/20

Abstract: 本发明提供了一种无干涉五轴扫描轨迹生成方法及系统，涉及五轴扫描测量轨迹生成技术领域，该方法包括：步骤S1：将待扫描测量的三维自由曲面通过中轴线提取算法，提取其表面中轴线作为引导线；步骤S2：根据步骤S1中引导线上不同点的可行区域，计算确定测座可行区域的最优像素位置，进而对可行区域的最优位置进行拟合，确定最优控制点数量，获得平滑光顺且无干涉的测座扫描轨迹。本发明能够通过分析引导线上前一点的可行区域边缘位置的干涉情况，快速获得下一点的可行区域，极大的降低干涉检查的计算量；且能够确保轨迹无干涉情况下尽可能的光顺。

公开(公告)号：CN113203385A

公开(公告)日：2021-08-03

申请号：CN202110413720.0

申请日：2021-04-16

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 张杨 ,  沈毅君 ,  张亚奇 ,  朱利民 ,  张超奇 ,  黄诺帝

IPC: G01B21/20

Abstract: 本发明提供了一种无干涉五轴扫描轨迹生成方法及系统，涉及五轴扫描测量轨迹生成技术领域，该方法包括：步骤S1：将待扫描测量的三维自由曲面通过中轴线提取算法，提取其表面中轴线作为引导线；步骤S2：根据步骤S1中引导线上不同点的可行区域，计算确定测座可行区域的最优像素位置，进而对可行区域的最优位置进行拟合，确定最优控制点数量，获得平滑光顺且无干涉的测座扫描轨迹。本发明能够通过分析引导线上前一点的可行区域边缘位置的干涉情况，快速获得下一点的可行区域，极大的降低干涉检查的计算量；且能够确保轨迹无干涉情况下尽可能的光顺。

公开(公告)号：CN113899280B

公开(公告)日：2022-09-09

申请号：CN202111323390.2

申请日：2021-11-08

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 张亚奇 ,  张文泽 ,  沈毅君 ,  姚艾舟 ,  张林 ,  朱利民 ,  杨儒清 ,  张杨

IPC: G01B5/008

Abstract: 本发明提供了一种整体叶盘叶片四轴联动测量路径规划方法及系统，通过干涉检查，将叶片截面线划分为上、下两段，并确定测针倾斜角，之后利用增量式计算方法快速获得所有路径点的旋转角可测矩阵，同时将测针、测座近似为圆锥模型对可测矩阵进行修正，最后利用二分法和三次样条曲线对测座旋转角进行拟合，最终获得平滑无干涉的转台旋转轨迹。本发明可行区域的计算中考虑了测座本身的体积，并将其与测针近似为圆锥对可测矩阵进行了进一步的修正，确保可测矩阵准确无干涉；充分利用四轴联动测量机的优势，测量过程中只需要调整测针方向两次，提高了测量效率，本发明极大的降低了干涉检查的计算量，本发明确保了轨迹无干涉情况下尽可能的光顺。

公开(公告)号：CN116880354A

公开(公告)日：2023-10-13

申请号：CN202310843462.9

申请日：2023-07-10

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 黄诺帝 ,  张亚奇 ,  侯丽瑶 ,  朱利民

IPC: G05B19/19

Abstract: 本发明提供了一种基于实时交互的智能曲面采样点规划方法和系统，首先通过建立共享文件夹等方式实现机床数控系统与个人电脑之间的实时交互通讯，之后将规划的初始采样点及其在机测量程序通过实时交互通信传输至机床，机床测量完成后，测量结果被实时地传输给电脑以用于下一采样点的规划，即根据所有已测点数据，每次规划一个点，测量一个点，然后再根据新的测量结果再次规划新的点，重复上述过程直至满足采样要求。本发明根据两条采样准则，加工偏差较大的区域，即缺陷区域，会被自动识别，同时更多的采样点被分布在缺陷区域，降低了重构偏差，提高了替代曲面对实际曲面的重构精度。