公开(公告)号：CN106445373B

公开(公告)日：2021-07-27

申请号：CN201610657310.X

申请日：2016-08-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李载旭 ,  金曔中 ,  金容南 ,  金珍娥 ,  赵俊衡

IPC: G06F3/0488 ,  G06F3/0484 ,  G06F9/451

Abstract: 提供了一种电子设备和用于处理电子设备中的用户输入的方法。所述电子设备包括：显示器；输入模块，被配置为接收用户输入；以及处理器，被配置为：在具有第一区域的第一层上执行应用；设置具有第二区域的第二层，第二层在第一层之上；在显示器上输出第一层和第二层，第二层至少部分地叠加在第一层上；以及如果在第二区域中接收到用户输入且用户输入满足给定条件，则执行与所述给定条件相对应的预定义功能。

公开(公告)号：CN1443854A

公开(公告)日：2003-09-24

申请号：CN02147199.1

申请日：2002-10-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵俊衡 ,  许楠 ,  沈储暎 ,  金敬姬 ,  朴佳永

IPC: C12Q1/68

CPC classification number: C12Q1/6837 ,  C12Q2563/107 ,  C12Q2545/113

Abstract: 本发明提供了DNA微阵列的质量控制方法，其包括制备含有第一种荧光染料的DNA点样溶液，所述荧光染料具有特定的激发和发射波长，将DNA点样溶液上样于DNA芯片的基质上以形成DNA斑点，其中第一种荧光染料与基质结合，和检测DNA斑点发出的荧光信号。在DNA微阵列的质量控制方法中，由于与DNA探针一起共价结合于固体芯片表面的荧光染料发出的信号被用于质量控制，因此无需进行常规质量控制方法中的染色和除去染料的过程。

公开(公告)号：CN106445373A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201610657310.X

申请日：2016-08-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李载旭 ,  金曔中 ,  金容南 ,  金珍娥 ,  赵俊衡

IPC: G06F3/0488 ,  G06F3/0484 ,  G06F9/44

CPC classification number: G06F3/04883 ,  G06F3/0412 ,  G06F3/0482 ,  G06F3/0485 ,  G06F3/0488 ,  G06F3/04886 ,  G06F3/167 ,  G06F2203/04104 ,  G06F2203/04803 ,  G06F2203/04804 ,  G06F2203/04808 ,  G09G5/14 ,  G09G5/377 ,  G09G2340/12 ,  G09G2354/00 ,  G10L13/04 ,  H04W4/02 ,  H04W4/12 ,  G06F3/0484 ,  G06F9/451

Abstract: 提供了一种电子设备和用于处理电子设备中的用户输入的方法。所述电子设备包括：显示器；输入模块，被配置为接收用户输入；以及处理器，被配置为：在具有第一区域的第一层上执行应用；设置具有第二区域的第二层，第二层在第一层之上；在显示器上输出第一层和第二层，第二层至少部分地叠加在第一层上；以及如果在第二区域中接收到用户输入且用户输入满足给定条件，则执行与所述给定条件相对应的预定义功能。

公开(公告)号：CN115810536A

公开(公告)日：2023-03-17

申请号：CN202211115639.5

申请日：2022-09-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴焕悦 ,  朴世浚 ,  赵俊衡 ,  景世振 ,  公大为 ,  金泰珉

IPC: H01L21/225 ,  H10B12/00

Abstract: 提供了一种半导体装置和制造该半导体装置的方法。该方法包括：制备包括单元区和划道区的衬底；在衬底的单元区中形成电路块，衬底包括第一表面和第二表面；在衬底的第一表面上形成偏压焊盘，使得偏压焊盘在衬底的划道区中；将氘交换结构键合至衬底的第二表面；利用等离子体处理将氘植入到氘交换结构中；以及将第一电压施加至偏压焊盘，使得氘通过衬底的第二表面从氘交换结构扩散至衬底中。

公开(公告)号：CN105930072A

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：CN201610113218.7

申请日：2016-02-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李载旭 ,  赵安纪 ,  赵俊衡

IPC: G06F3/0488 ,  G06F21/36

CPC classification number: G06F3/017 ,  G06F1/1694 ,  G06F3/0488 ,  G06F3/04883 ,  G06F21/31 ,  G06F21/36

Abstract: 提供了用于检测电子设备处的姿势的方法和装置。通过电子设备的输入模块接收姿势。确定对应于姿势的方向组合。所述方向组合包括多个方向。将有关所述方向组合的信息与存储在电子设备的存储器中的有关至少一个方向组合的信息进行比较。使用电子设备的至少一个处理器，根据有关所述方向组合的信息与有关所述至少一个方向组合的信息比较的结果将电子设备的状态从第一状态改变为第二状态。

公开(公告)号：CN1222624C

公开(公告)日：2005-10-12

申请号：CN02147199.1

申请日：2002-10-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵俊衡 ,  许楠 ,  沈储暎 ,  金敬姬 ,  朴佳永

IPC: C12Q1/68

CPC classification number: C12Q1/6837 ,  C12Q2563/107 ,  C12Q2545/113

Abstract: 本发明提供了DNA微阵列的质量控制方法，其包括制备含有第一种荧光染料的DNA点样溶液，所述荧光染料具有特定的激发和发射波长，将DNA点样溶液上样于DNA芯片的基质上以形成DNA斑点，其中第一种荧光染料与基质结合，和检测DNA斑点发出的荧光信号。在DNA微阵列的质量控制方法中，由于与DNA探针一起共价结合于固体芯片表面的荧光染料发出的信号被用于质量控制，因此无需进行常规质量控制方法中的染色和除去染料的过程。