半导体器件
    1.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN116895657A

    公开(公告)日:2023-10-17

    申请号:CN202310219838.9

    申请日:2023-03-08

    Abstract: 公开了半导体器件。所述半导体器件可包括:基底,包括单元阵列区域;数据存储结构,设置在基底的单元阵列区域上,数据存储结构包括底部电极、在底部电极上的顶部电极、以及在底部电极与顶部电极之间的介电层;阻挡层,设置在顶部电极的顶表面上;下部层间绝缘层,设置在阻挡层上;以及下部接触件,穿透下部层间绝缘层并电连接到顶部电极。下部接触件的侧表面的至少一部分接触阻挡层。

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