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公开(公告)号:CN1992087B
公开(公告)日:2010-10-06
申请号:CN200610080941.6
申请日:2006-05-23
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明涉及器件测试装置和方法及其接口装置,所述器件测试装置包含:性能板,以用于安装被测器件,并输入/输出针对所述被测器件的信号;主机,以用于产生所述被测器件的测试波形;头部,以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板,并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号;安装在所述头部与所述性能板之间的接口部,以用于根据所述被测器件的工作速度改变所述测试信号及所述测试结果信号的传送速度。由此,可以以较低成本进行高速测试。
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公开(公告)号:CN100476778C
公开(公告)日:2009-04-08
申请号:CN200610080153.7
申请日:2006-05-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F13/38
Abstract: 本发明涉及一种主模块、功能模块和包含这些模块的电子器件以及ID数据设定方法。依据本发明主模块包含:接口部,以用于与至少一个功能模块进行通信;主ID生成部,以用于将生成所述功能模块ID数据的预定的ID数据输出到相邻的功能模块;主控制部,以用于生成控制信号及成为所述控制信号对象的控制对象区别信号,并通过所述接口部进行传送。据此,通过自动设定各功能模块的ID数据,可以提高系统的稳定性及用户的方便性。
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公开(公告)号:CN104112480A
公开(公告)日:2014-10-22
申请号:CN201410150352.5
申请日:2014-04-15
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G01R31/2868
Abstract: 提供一种用于测试半导体装置的设备和方法。测试设备可用于测试半导体装置。所述测试设置可包括:栈式存储器部分,被配置为与服务器通信,其中,所述服务器包括用于测试半导体装置的测试程序;多个测试板部分,设置在所述栈式存储器部分中,测试板部分中的至少一个测试板部分包括设置在所述至少一个测试板部分上的半导体装置并被配置为向半导体装置提供来自服务器的至少一个测试程序。所述栈式存储器部分可包括:单元栈式存储器,所述单元栈式存储器包括被配置为固定多个测试板部分的架子;栈式存储器控制器,被配置为与服务器和单元栈式存储器中的测试板部分通信。
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公开(公告)号:CN100502222C
公开(公告)日:2009-06-17
申请号:CN200310123266.7
申请日:2003-12-23
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H02P3/22
CPC classification number: H02P3/22
Abstract: 向具有多个电机绕组的电机提供交流功率的电机控制装置,它能改进动态制动操作的效果并且防止电机崩溃,其中电机绕组具有包括由多个开关单元组成的电桥电路,并且向电机提供交流功率的逆变部分;当电机制动时通过接通来短路电机绕组的制动继电器;分别连接到电机绕组并且消耗当制动继电器短路电机绕组时由电机产生的过电流的制动电阻;以及当制动继电器短路电机绕组时,接通和断开在逆变部分的相对端之一设置的开关单元,以使制动电阻消耗的过电流可与电机的转速成正比地改变的开关控制器。
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公开(公告)号:CN1991811A
公开(公告)日:2007-07-04
申请号:CN200610080153.7
申请日:2006-05-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F13/38
Abstract: 本发明涉及一种主模块、功能模块和包含这些模块的电子器件以及ID数据设定方法。依据本发明主模块,包含:接口部,以用于与至少一个功能模块进行通信;主ID生成部,以用于将生成所述功能模块ID数据的预定的ID数据输出到相邻的功能模块;主控制部,以用于生成控制信号及成为所述控制信号对象的控制对象区别信号,并通过所述接口部进行传送。据此,通过自动设定各功能模块的ID数据,可以提高系统的稳定性及用户的方便性。
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公开(公告)号:CN1992087A
公开(公告)日:2007-07-04
申请号:CN200610080941.6
申请日:2006-05-23
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 本发明涉及器件测试装置和方法及其接口装置,所述器件测试装置包含:性能板,以用于安装被测器件,并输入/输出针对所述被测器件的信号;主机,以用于产生所述被测器件的测试波形;头部,以用于将基于所述测试波形的测试信号传送到所述性能板,并对应于所述测试信号接收从所述性能板传送的测试结果信号;安装在所述头部与所述性能板之间的接口部,以用于根据所述被测器件的工作速度改变所述测试信号及所述测试结果信号的传送速度。由此,可以以较低成本进行高速测试。
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公开(公告)号:CN1521938A
公开(公告)日:2004-08-18
申请号:CN200310123266.7
申请日:2003-12-23
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H02P3/22
CPC classification number: H02P3/22
Abstract: 向具有多个电机绕组的电机提供交流功率的电机控制装置,它能改进动态制动操作的效果并且防止电机崩溃,其中电机绕组具有包括由多个开关单元组成的电桥电路,并且向电机提供交流功率的逆变部分;当电机制动时通过接通来短路电机绕组的制动继电器;分别连接到电机绕组并且消耗当制动继电器短路电机绕组时由电机产生的过电流的制动电阻;以及当制动继电器短路电机绕组时,接通和断开在逆变部分的相对端之一设置的开关单元,以使制动电阻消耗的过电流可与电机的转速成正比地改变的开关控制器。
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