公开(公告)号：CN117789785A

公开(公告)日：2024-03-29

申请号：CN202310982858.1

申请日：2023-08-04

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 洪昇基 ,  李承俊 ,  崔民淏

IPC: G11C11/408

Abstract: 一种存储器件包括执行每存储体刷新(PBR)操作的多个存储体以及向多个存储体中的两个存储体提供单个行地址信号的地址寄存器，该两个存储体同时执行PBR操作并且单个行地址信号由该两个存储体共享。该两个存储体基于单个解码行地址信号来激活每个存储单元阵列的字线，该单个解码行地址信号基于单个行地址信号来产生。

公开(公告)号：CN115019868A

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN202210205043.8

申请日：2022-03-02

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 崔民淏 ,  林栽成 ,  金经纶 ,  金大贤 ,  裴元一 ,  辛昊炫 ,  郑尚勋 ,  黄炯烈

IPC: G11C29/02

Abstract: 公开了一种电压微调电路、存储器装置和存储器装置的测试方法。该电压微调电路包括：第一电阻电路，其具有由上升码和下降码确定的第一电阻值；第二电阻电路，其具有由上升码和下降码确定的第二电阻值；以及比较器，其被配置为通过将参考电压微调节点的电压电平与反馈节点的电压电平进行比较来输出电压检测信号，其中，当参考电压微调节点的电压电平高于反馈节点的电压电平时，电压检测信号调整上升码和下降码，以增大第一电阻值并且减小第二电阻值，并且当参考电压微调节点的电压电平低于或等于反馈节点的电压电平时，电压检测信号调整上升码和下降码，以减小第一电阻值并且增大第二电阻值。