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公开(公告)号:CN111211030B
公开(公告)日:2024-04-26
申请号:CN201910601953.6
申请日:2019-07-05
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开了一种气体注入模块、一种气体注入系统、一种基底处理设备以及一种制造半导体器件的方法。所述气体注入模块包括:喷淋头,具有位于喷淋头的第一区域上的第一注入孔和位于喷淋头的第二区域上的第二注入孔,第二区域位于第一区域的外部;第一分布板,位于喷淋头上,并且具有分别连接到第一注入孔的第一上通道和分别连接到第二注入孔的第二上通道;以及流速控制器,位于第一分布板的第一上通道和第二上通道上。流速控制器使在第一上通道和第二上通道内的压力差减小,从而气体可以在第一注入孔和第二注入孔内具有相似的流速。
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公开(公告)号:CN111211030A
公开(公告)日:2020-05-29
申请号:CN201910601953.6
申请日:2019-07-05
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开了一种气体注入模块、一种气体注入系统、一种基底处理设备以及一种制造半导体器件的方法。所述气体注入模块包括:喷淋头,具有位于喷淋头的第一区域上的第一注入孔和位于喷淋头的第二区域上的第二注入孔,第二区域位于第一区域的外部;第一分布板,位于喷淋头上,并且具有分别连接到第一注入孔的第一上通道和分别连接到第二注入孔的第二上通道;以及流速控制器,位于第一分布板的第一上通道和第二上通道上。流速控制器使在第一上通道和第二上通道内的压力差减小,从而气体可以在第一注入孔和第二注入孔内具有相似的流速。
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公开(公告)号:CN115274390A
公开(公告)日:2022-11-01
申请号:CN202210291022.2
申请日:2022-03-23
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01J37/32
Abstract: 提供了一种等离子体约束环、包括该等离子体约束环的半导体制造设备以及使用该半导体制造设备制造半导体装置的方法。所述等离子体约束环包括下环、在下环上的上环以及延伸以将下环连接到上环的连接环。下环包括在下环的中心处竖直地穿透下环的下中心孔以及在下中心孔外部的区域中穿透下环的至少一个狭缝。狭缝被构造为在更靠近下环的中心的第一部分处比在更远离下环的中心的第二部分处通过更大量的空气或气体。
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