Invention Publication
- Patent Title: 一种具有深沟槽结构的半导体结构及其制作方法
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Application No.: CN202410390889.2Application Date: 2024-04-01
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Publication No.: CN118248621APublication Date: 2024-06-25
- Inventor: 张强 , 廖黎明 , 仇峰 , 张蔷 , 胡林辉
- Applicant: 上海积塔半导体有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区中国上海浦东新区自由贸易试验区临港新片区云水路600号
- Assignee: 上海积塔半导体有限公司
- Current Assignee: 上海积塔半导体有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区中国上海浦东新区自由贸易试验区临港新片区云水路600号
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 余明伟
- Main IPC: H01L21/762
- IPC: H01L21/762 ; H01L29/06

Abstract:
本发明提供一种具有深沟槽结构的半导体结构及其制作方法,该制作方法包括以下步骤:提供一衬底;形成第一沟槽于所述衬底中,所述第一沟槽的侧壁与所述第一沟槽的底壁具有第一夹角;形成叠层介质层于所述第一沟槽的内壁以构成第二沟槽,所述第二沟槽的侧壁与所述第二沟槽的底壁具有第二夹角,所述第二夹角大于所述第一夹角。该制作方法通过叠层介质层的制作以改善沟槽的整体形貌,从而实现深沟槽的充分填充以得到性能优良的深沟槽结构,可以用于制作功能不同的深沟槽结构,应用范围广泛,制作方法简单易实现,成本低廉,适于大规模生产。该半导体结构中的深沟槽结构内部充分填充且性能优良,制作成本低廉。
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