半导体器件及其制造方法
Abstract:
本申请公开了一种半导体器件及其制造方法以及半导体结构。所述半导体器件包括:衬底上的有源鳍;有源鳍上的栅极结构;栅极结构的侧壁上的栅极间隔件结构;以及在有源鳍邻近栅极间隔件结构的至少一部分上的源极/漏极层。所述栅极间隔件结构包括顺序地堆叠的湿法刻蚀停止图案、含氧硅图案和除气阻止图案。
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