Invention Grant
- Patent Title: 半导体器件及其制造方法
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Application No.: CN201710017588.5Application Date: 2017-01-11
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Publication No.: CN107039436BPublication Date: 2022-01-04
- Inventor: 崔成贤 , 卓容奭 , 朴起宽 , 具本荣 , 朴起演 , 徐元吾
- Applicant: 三星电子株式会社
- Applicant Address: 韩国京畿道
- Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee: 三星电子株式会社
- Current Assignee Address: 韩国京畿道
- Agency: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- Agent 张帆; 崔卿虎
- Priority: 10-2016-0003213 20160111 KR
- Main IPC: H01L27/092
- IPC: H01L27/092 ; H01L21/8238

Abstract:
本申请公开了一种半导体器件及其制造方法以及半导体结构。所述半导体器件包括:衬底上的有源鳍;有源鳍上的栅极结构;栅极结构的侧壁上的栅极间隔件结构;以及在有源鳍邻近栅极间隔件结构的至少一部分上的源极/漏极层。所述栅极间隔件结构包括顺序地堆叠的湿法刻蚀停止图案、含氧硅图案和除气阻止图案。
Public/Granted literature
- CN107039436A 半导体器件及其制造方法 Public/Granted day:2017-08-11
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IPC分类: