一种激光超声弹射脱附反射式飞行时间质谱仪及其使用方法

    公开(公告)号:CN109599321A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201811443256.4

    申请日:2018-11-29

    Applicant: 厦门大学

    CPC classification number: H01J49/406 H01J49/0031

    Abstract: 本发明公开了一种激光超声弹射脱附反射式飞行时间质谱仪及其使用方法,可用于煤萃取物中传统电喷雾难以电离的无极性大分子与不溶难溶成分结构的解析。本发明包括激光源、离子发生器及引导腔和反射式飞行时间质谱仪。激光源可以产生质量数大结构完整度较高的分子;引导腔可以将电离后的离子进行聚焦以获得更高的灵敏度;反射式飞行时间质谱仪对产生的大分子离子进行快速、实时、原位的检测。本发明与现有技术相比的优点在于脱附和电离方式更温和,产生的碎片少,离子传输部分结构简单容易获得高的灵敏度,可原位、实时反映脱附出的大分子的结构信息。

    多反射质谱仪
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105009251B

    公开(公告)日:2017-12-22

    申请号:CN201380074507.5

    申请日:2013-03-14

    Applicant: 莱克公司

    CPC classification number: H01J49/406 H01J49/067 H01J49/405

    Abstract: 为了提高多反射飞行时间、开放阱和静电阱分析器的空间和能量接受度,公开了一种新型离子反射镜。通过在离子反射镜之间装入浸没透镜,允许达到第五阶时间‑能量聚焦,同时达到第三阶时间‑空间聚焦,包括能量‑空间交叉项。优选地,分析器具有用于扩展飞行路径的中空柱状几何形状。飞行时间分析器优选地装入空间上调制的离子反射镜场,以在正切方向上进行同步离子聚焦。

    开口阱质谱仪
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102939638B

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201080065023.0

    申请日:2010-12-30

    Applicant: 莱克公司

    Abstract: 针对利用宽且发散的离子包的操作公开了一种开口静电阱质谱仪。检测器上的信号由对应于各种离子循环(称为多重谱)的信号构成。使用多重谱内的相对强度的可再现分布,可以针对较稀疏的谱(例如,通过级联质谱仪的裂解单元、经过离子迁移率和差分离子迁移率分离器的谱)对信号进行解扰。针对具体的脉冲离子源和脉冲转换器(例如,正交加速器、离子导向器和离子阱)提供各种实施例。本方法和设备提高了脉冲转换器的占空比,改进了开口阱分析仪的空间电荷容限,并且扩展了飞行时间检测器的动态范围。

    具有正交加速的多次反射飞行时间质谱仪

    公开(公告)号:CN101366097B

    公开(公告)日:2015-09-16

    申请号:CN200680045703.X

    申请日:2006-10-11

    Applicant: 莱克公司

    CPC classification number: H01J49/401 H01J49/406

    Abstract: 本发明公开了一种多次反射飞行时间质谱仪(MR-TOF MS)(11),包括一对无网格离子镜(12)、漂移空间(13)、正交离子加速器(14)、可任选的偏转器(15)、离子检测器(16)、周期透镜组(17)、以及边缘偏转器(18)。为了提高MR-TOF MS中的由长飞行限定的低重复率的离子注入的占空比,可以进行多路测量。输入的离子束和加速器可以基本取向为穿过MR-TOF中的离子路径,同时通过倾斜加速器以及使离子束转向相同角度对离子束的初始速度进行补偿。为了进一步提高任何多次反射或多次返回质谱仪的占空比,可以通过离子导向器对轴向离子速度进行调制来对离子束进行时间压缩。可以通过将离子束捕获在静电阱中来提高离子在加速器中的驻留时间。在加速器中具有延长驻留时间的设备对灵敏度和分辨率均进行了提高。

    圆筒型多次反射式飞行时间质谱仪

    公开(公告)号:CN104781905A

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN201380058419.6

    申请日:2013-11-08

    Applicant: 莱克公司

    CPC classification number: H01J49/406 H01J49/0031 H01J49/405 H01J2237/121

    Abstract: 本发明公开了一种通过设置圆筒型分析器提高多次反射式TOF质谱仪(MR-TOF)的分辨率和占空比的方法和装置,该圆筒型分析器具有适当的径向偏转装置,用于限制离子切向发散度的装置,以及提供小于1mm*deg的离子包发散度的脉冲源。还公开了用于五阶聚焦圆筒型离子反射镜的实施例。不同的实施例提供了单个圆筒型MR-TOF中的并行级联MS-MS。

    带电粒子分析仪以及带电粒子分离方法

    公开(公告)号:CN102449728A

    公开(公告)日:2012-05-09

    申请号:CN201080023528.0

    申请日:2010-05-27

    CPC classification number: H01J49/40 H01J49/406 H01J49/4245

    Abstract: 在此提供了飞行时间质谱测定法的多种方法及分析仪。一种分离带电粒子的方法,包括以下步骤:提供一个分析仪,该分析仪包括两个相对的反射镜,每个反射镜包括沿一个轴线z伸长的、内部和外部的限定场的电极系统,该外部系统围绕该内部系统并且在其间限定一个分析仪体积,这些反射镜在该分析仪体积内产生一个电场,该电场包括沿z的多个相对电场,该电场沿z的场强在一个z=0平面处是一个最小值;致使一束带电粒子飞过该分析仪、在该分析仪体积内绕z轴线做轨道运行、从一个反射镜到另一个反射镜进行至少一次反射,由此在一个反射镜内限定一个最大转折点;该电场沿z的场强在该最大转折点处是X,并且在该平面z=0与每个反射镜内的最大转折点之间沿z的距离的占不大于2/3的部分上,该电场沿z的绝对场强小于|X|/2;根据这些带电粒子的飞行时间将其分离;并且将这些具有多个m/z的带电粒子中的至少一些粒子从该分析仪中喷射出来或者对这些具有多个m/z的带电粒子中的至少一些粒子进行检测,该喷射或检测是在这些粒子已经经历了相同数目的围绕轴线z的轨道之后进行的。

    准平面多反射飞行时间质谱仪

    公开(公告)号:CN102131563A

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN200880130841.7

    申请日:2008-07-16

    Applicant: 莱克公司

    CPC classification number: H01J49/406 H01J49/0031 H01J49/22

    Abstract: 本发明涉及准平面多反射飞行时间质谱仪。多反射飞行时间(MR-TOF)质谱仪包括沿漂移方向(Z)延伸并且由平行电极形成、并被无场区域分离的两个准平面静电离子反射镜。MR-TOF包括脉冲离子源以与垂直于漂移方向Z的X方向成小角度而释放离子包。离子包在离子反射镜之间被反射并沿漂移方向漂移。安排反射镜以在接收器上提供飞行时间聚焦离子包。MR-TOF反射镜在既垂直于漂移方向Z又垂直于离子注入方向X的Y方向上提供空间聚焦。在优选实施例中,至少一个反射镜具有在漂移Z方向上提供离子包的周期性空间聚焦的特征。

    同轴飞行时间质谱仪
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101584021B

    公开(公告)日:2011-03-30

    申请号:CN200780045819.8

    申请日:2007-12-07

    CPC classification number: H01J49/406

    Abstract: 公开了一种同轴飞行时间质谱仪,包括纵轴、以及在纵轴的相对的端部处的第一和第二离子镜。离子沿着偏离纵轴的输入轨迹进入质谱仪,并且在所述镜之间经历一次或多次通过之后,沿着偏离纵轴的输出轨迹离开,用于由离子探测器检测。所述输入轨迹和所述输出轨迹以不大于tan(I)的角度偏离所述纵轴,其中Dmin是所述离子镜的横向尺寸或其最小横向尺寸,且L为所述离子镜的入口之间的距离。

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