试样测定装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105793713B

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201480055744.1

    申请日:2014-09-30

    Inventor: 花谷智则

    Abstract: 在试样测定装置中,升降机构从支架向试样测定室搬运试样容器。以跨越基体框的上表面与头的下表面且包围轴的方式设置有内侧遮光构造。内侧遮光构造由第一环形槽与第一环形突起构成。在头处于基底状态的情况下,通过弹簧的作用使基体框的上表面与头的下表面紧贴。此时,第一环形槽与第一环形突起合体。在内侧遮光构造的周围设置有外侧遮光构造,顶板具有层叠构造,且具有遮光片和光反射板。

    试样测定装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105793713A

    公开(公告)日:2016-07-20

    申请号:CN201480055744.1

    申请日:2014-09-30

    Inventor: 花谷智则

    Abstract: 在试样测定装置中,升降机构从支架向试样测定室搬运试样容器。以跨越基体框的上表面与头的下表面且包围轴的方式设置有内侧遮光构造。内侧遮光构造由第一环形槽与第一环形突起构成。在头处于基底状态的情况下,通过弹簧的作用使基体框的上表面与头的下表面紧贴。此时,第一环形槽与第一环形突起合体。在内侧遮光构造的周围设置有外侧遮光构造,顶板具有层叠构造,且具有遮光片和光反射板。

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