分析仪器辐射源的特性的鉴定装置和方法

    公开(公告)号:CN1734255A

    公开(公告)日:2006-02-15

    申请号:CN200510091156.6

    申请日:2005-08-10

    CPC classification number: G01J3/10 G01J3/0275 G01N21/3103

    Abstract: 本发明涉及用于鉴定一种分析仪器(1)上的辐射源(5.1,5.2,5.3)的特性的装置。为辐射源(5.1,5.2,5.3)配置数据存储器,该数据存储器与一个写/读单元(11)联通,其中在数据存储器和写/读单元(11)之间交换数据,该数据既涉及每种辐射源(5.1,5.2,5.3)的鉴定,也涉及对于其控制的预定。本发明还涉及一种相应的方法,借以根据为每个辐射源(5.1,5.2,5.3)所配置的数据存储器来鉴定一个分析仪器(1)内部的辐射源(5.1,5.2,5.3)的特性,其中所存储的数据可根据每种辐射源(5.1,5.2,5.3)的使用情况按一定的时距加以更新。

    光学发射光谱仪中的探测器保护

    公开(公告)号:CN109632767A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201811172677.8

    申请日:2018-10-09

    Abstract: 公开了一种用于光学发射光谱仪(OES)1的保护装置100和一种保护OES中的被供应冲洗气体的探测器的方法。所述保护装置100包括定时器110,所述定时器在停止向所述探测器70施加冲洗气体之后测量指示关机时间段的参数。所述保护装置100包括处理器120,所述处理器基于所述参数而确定启动时间段,在此启动时间段期间在所述探测器冷却70之前向所述探测器70供应冲洗气体。在一个实施例中,所述保护装置100’包括湿度传感器130和处理器120。所述湿度传感器130在停止向所述探测器70施加冲洗气体之后测量指示所述探测器70内或附近的水分含量的湿度值。如果大于阈值湿度值,那么所述处理器触发在启动时间段内开始或维持向所述探测器70施加冲洗气体而不冷却所述探测器70。

    用于测试材料的设备和方法

    公开(公告)号:CN105300911A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201510434582.9

    申请日:2015-07-22

    Abstract: 本发明涉及一种用于测试材料的设备和方法。更具体地但非排他性地,本发明涉及一种用于测试具有可用的贮存寿命的材料的设备和方法。本发明还涉及一种用于根据材料的化学降解来测试具有可用的贮存寿命的材料的设备和方法。本发明提供了一种获得化学反应性材料的寿命的指示的方法。该方法包括对该材料进行红外(IR)光谱测量。将测量结果与先前获得的测量结果的数据库进行比较。根据测量结果与先前获得测量结果的数据库的比较,确定并提供化学反应性材料的寿命的测量的指示。还提供了一种红外光谱仪和一种对红外光谱仪进行校正的方法。

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