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公开(公告)号：CN1312147A
公开(公告)日：2001-09-12
申请号：CN01116863.3
申请日：2001-02-22
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B5/3116 , B24B37/048 , B24B49/16 , G11B5/3103 , G11B5/3163 , G11B5/3173
Abstract: 在陶瓷杆或类似物上形成电子元件时,由于分解曝光过程或其他原因而使各个元件产生了位置偏移。本发明的一个目的为提供一种装置和方法,该方法通过磨削及使陶瓷杆产生一个复杂变形等而使各个元件的非磨削部分均匀一致。为达到该目的,利用一个机架来保持所述陶瓷杆或类似物,将多个负荷施加到机架的保持着所述陶瓷杆或类似物的部分上,这样就可使陶瓷杆或类似物产生变形而在该状态下磨削所述的元件。在这样一种状态下布置负荷施加点,使所述的负荷施加点不布置在分解曝光部分的边界上。
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公开(公告)号：CN104081217A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201280068264.X
申请日：2012-12-13
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01R33/12
CPC classification number: G01R33/12 , G01R33/10 , G01R33/1215
Abstract: 本发明在于提供可以测量薄板状的磁性体试样的微小区域的磁特性的磁场测量装置。其中，在对磁性体试样(5)施加磁场并使之磁化之后，通过由测量部(2)扫描从而检测磁性体试样(5)的泄漏磁通。通过对磁性体试样(5)的第1区域和第2区域在彼此相反的方向上使其磁化并减小退磁场(Hd)，从而使磁通泄漏到外部。具体而言，由具有一对以上磁极的磁场产生部(6)来进行多极着磁，或者由磁场产生部(6)施加阻尼振荡磁场来进行着磁，或者由一边施加交流磁场一边扫描试样表面的局部磁场产生部(3)来进行着磁。
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公开(公告)号：CN1159134C
公开(公告)日：2004-07-28
申请号：CN01811247.1
申请日：2001-06-15
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: B24B37/013 , B24B37/048 , B24B49/04 , B24B49/10 , G11B5/1871 , G11B5/3103 , G11B5/3116 , G11B5/3163 , G11B5/3166 , G11B5/3173 , Y10S156/923 , Y10T29/49032 , Y10T29/49036 , Y10T29/49037 , Y10T29/49041 , Y10T29/49048 , Y10T29/4905 , Y10T29/49155 , Y10T29/49156 , Y10T29/49174 , Y10T29/53165 , Y10T29/53174 , Y10T29/53265 , Y10T156/1082 , Y10T156/1168
Abstract: 本发明的目的是提供一种装置和方法，当进行获得预定的槽缝高度值的一个加工过程或凸面加工等时，所述装置和方法可容易地形成辅助电极等和引导电极之间的连接并可测量要求的研磨量。为了实现该目的，使用一种柔性电极延伸板，所述电极延伸板由一用于保持形成有元件部分的陶瓷杆的部分和一其中形成有分别与所述元件对应并适合于与所述元件连接的电引线的部分构成，其中这些可容易地与外部测量系统连接的电引线与元件电连接，从而可容易地从研磨加工过程中元件的特征量中获得研磨量。
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公开(公告)号：CN104081217B
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201280068264.X
申请日：2012-12-13
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01R33/12
CPC classification number: G01R33/12 , G01R33/10 , G01R33/1215
Abstract: 本发明在于提供可以测量薄板状的磁性体试样的微小区域的磁特性的磁场测量装置。其中，在对磁性体试样(5)施加磁场并使之磁化之后，通过由测量部(2)扫描从而检测磁性体试样(5)的泄漏磁通。通过对磁性体试样(5)的第1区域和第2区域在彼此相反的方向上使其磁化并减小退磁场(Hd)，从而使磁通泄漏到外部。具体而言，由具有一对以上磁极的磁场产生部(6)来进行多极着磁，或者由磁场产生部(6)施加阻尼振荡磁场来进行着磁，或者由一边施加交流磁场一边扫描试样表面的局部磁场产生部(3)来进行着磁。
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公开(公告)号：CN1313169A
公开(公告)日：2001-09-19
申请号：CN01116851.X
申请日：2001-02-22
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 提供一种设备,它可以将复杂的弯曲变形传递给如陶瓷条那样的沿一方向延伸的待加工件或类似物,并可用加工作业减小待加工件的加工量的不均匀程度,在加工设备中配置一种专门的修正机构来使待加工件与夹持此工件的夹具一起变形。修正机构有一基座,多个在其第一端处配置销的杆件,一固定于该基座上、用于以可转动方式支承该杆件的轴,及多个与所述杆件第二端连接而使杆件绕此轴枢轴转动并由此而该销枢轴转动的修正驱动设备。该夹具包括在用于夹持待加工件的沿一个方向延伸的夹持部分上安置的多个载荷接受部分,由此而使相应于该载荷接受部分的该夹持部分内的部分因各销的转动而与待加工件一起被变形。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104081218B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201280068265.4
申请日：2012-12-13
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01R33/12
CPC classification number: G01R33/12 , G01R33/10 , G01R33/1215
Abstract: 本发明提供一种可以测量薄板状且高矫顽力的磁性体试样的微小区域的矫顽力和矫顽力分布的磁场测量装置。其中，对磁性体试样(5)施加第1方向的磁场并使其大致饱和磁化。接着，在施加了与第1磁场相反的方向的第2磁场之后，由测量部(2)扫描磁性体试样(5)的表面，由此检测磁性体试样(5)的起因于剩磁的泄漏磁通。在一边使施加于磁性体试样(5)的第2磁场强度渐增一边重复由测量部(2)进行的测定，并得到从磁性体试样(5)泄漏的磁场强度变为最大的第2磁场，并对磁性体试样(5)施加相当于矫顽力的磁场而大致一半量的磁化反转的情况下，基于退磁场(Hd)为最小且泄漏至外部的磁通为最大的判断来得到磁性体试样(5)的矫顽力。
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公开(公告)号：CN1178766C
公开(公告)日：2004-12-08
申请号：CN01811248.X
申请日：2001-06-15
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: B24B37/048 , B24B19/26 , B24B37/00 , B24B41/061 , G11B5/1871 , G11B5/3116 , G11B5/3163
Abstract: 提供一种研磨装置和一种研磨方法，可根据陶瓷杆上每个元件对局部研磨较大的陶瓷杆进行进一步加工，可降低加工所需的成本，而不使用任何用于保持陶瓷杆的夹具。陶瓷杆通过由橡胶等制成的弹性元件的一个表面保持。在该弹性元件的背面设有多个致动器。当陶瓷杆下降到研磨表面上时，通过这些致动器由弹性元件使陶瓷杆的一特定部分变形或强力变形，从而能够对应于每个元件进行研磨。
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公开(公告)号：CN1436113A
公开(公告)日：2003-08-13
申请号：CN01811247.1
申请日：2001-06-15
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: B24B37/013 , B24B37/048 , B24B49/04 , B24B49/10 , G11B5/1871 , G11B5/3103 , G11B5/3116 , G11B5/3163 , G11B5/3166 , G11B5/3173 , Y10S156/923 , Y10T29/49032 , Y10T29/49036 , Y10T29/49037 , Y10T29/49041 , Y10T29/49048 , Y10T29/4905 , Y10T29/49155 , Y10T29/49156 , Y10T29/49174 , Y10T29/53165 , Y10T29/53174 , Y10T29/53265 , Y10T156/1082 , Y10T156/1168
Abstract: 本发明的目的是提供一种装置和方法，当进行获得预定的槽缝高度值的一个加工过程或凸面加工等时，所述装置和方法可容易地形成辅助电极等和引导电极之间的连接并可测量要求的研磨量。为了实现该目的，使用一种柔性电极延伸板，所述电极延伸板由一用于保持形成有元件部分的陶瓷杆的部分和一其中形成有分别与所述元件对应并适合于与所述元件连接的电引线的部分构成，其中这些可容易地与外部测量系统连接的电引线与元件电连接，从而可容易地从研磨加工过程中元件的特征量中获得研磨量。
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公开(公告)号：CN1436112A
公开(公告)日：2003-08-13
申请号：CN01811248.X
申请日：2001-06-15
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: B24B37/048 , B24B19/26 , B24B37/00 , B24B41/061 , G11B5/1871 , G11B5/3116 , G11B5/3163
Abstract: 提供一种研磨装置和一种研磨方法，可根据陶瓷杆上每个元件对局部研磨较大的陶瓷杆进行进一步加工，可降低加工所需的成本，而不使用任何用于保持陶瓷杆的夹具。陶瓷杆通过由橡胶等制成的弹性元件的一个表面保持。在该弹性元件的背面设有多个致动器。当陶瓷杆下降到研磨表面上时，通过这些致动器由弹性元件使陶瓷杆的一特定部分变形或强力变形，从而能够对应于每个元件进行研磨。
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公开(公告)号：CN104081218A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201280068265.4
申请日：2012-12-13
Applicant: TDK株式会社
IPC: G01R33/12
CPC classification number: G01R33/12 , G01R33/10 , G01R33/1215
Abstract: 本发明提供一种可以测量薄板状且高矫顽力的磁性体试样的微小区域的矫顽力和矫顽力分布的磁场测量装置。其中，对磁性体试样(5)施加第1方向的磁场并使其大致饱和磁化。接着，在施加了与第1磁场相反的方向的第2磁场之后，由测量部(2)扫描磁性体试样(5)的表面，由此检测磁性体试样(5)的起因于剩磁的泄漏磁通。在一边使施加于磁性体试样(5)的第2磁场强度渐增一边重复由测量部(2)进行的测定，并得到从磁性体试样(5)泄漏的磁场强度变为最大的第2磁场，并对磁性体试样(5)施加相当于矫顽力的磁场而大致一半量的磁化反转的情况下，基于退磁场(Hd)为最小且泄漏至外部的磁通为最大的判断来得到磁性体试样(5)的矫顽力。
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