公开(公告)号：CN102410846B

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201110222991.4

申请日：2011-08-04

Applicant: ST微电子(鲁塞)有限公司

Inventor： M·泰西耶 ,  C·特罗伊塞

IPC: G01D3/028 ,  G06F3/041

CPC classification number: G01B7/14 ,  G01B7/003 ,  G01V3/088 ,  H03K17/945 ,  H03K17/955 ,  H03K2217/960705

Abstract: 本发明涉及一种用于通过由近距离传感器(10)提供的检测信号(Sd)来检测目标的方法。该方法包括以下步骤：通过对检测信号(Sd)的值进行滤波产生参考信号(Sr)，定义与第一检测阈值(Th1)，以及当检测信号的值变为大于第一检测阈值(Th1)时，从目标非检测状态(NDET)变为目标检测状态(DET)。当检测信号的值变为大于第一检测阈值(Th1)时，重新调整参考信号(Sr)的值，从而检测信号(Sd)的值再次变为小于或分别大于第一检测阈值(Th1)。

公开(公告)号：CN102410846A

公开(公告)日：2012-04-11

申请号：CN201110222991.4

申请日：2011-08-04

Applicant: ST微电子(鲁塞)有限公司

Inventor： M·泰西耶 ,  C·特罗伊塞

IPC: G01D3/028 ,  G06F3/041

CPC classification number: G01B7/14 ,  G01B7/003 ,  G01V3/088 ,  H03K17/945 ,  H03K17/955 ,  H03K2217/960705

Abstract: 本发明涉及一种用于通过由近距离传感器(10)提供的检测信号(Sd)来检测目标的方法。该方法包括以下步骤：通过对检测信号(Sd)的值进行滤波产生参考信号(Sr)，定义与第一检测阈值(Th1)，以及当检测信号的值变为大于第一检测阈值(Th1)时，从目标非检测状态(NDET)变为目标检测状态(DET)。当检测信号的值变为大于第一检测阈值(Th1)时，重新调整参考信号(Sr)的值，从而检测信号(Sd)的值再次变为小于或分别大于第一检测阈值(Th1)。