-
公开(公告)号：CN105988075A
公开(公告)日：2016-10-05
申请号：CN201510208400.6
申请日：2015-02-17
Applicant: 飞思卡尔半导体公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及用于扫描测试的增强状态监视器。公开了一种集成电路，其接收被相位编码在用于测试IC内的扫描链的扫描时钟上的测试控制信息。该相位编码不影响扫描时钟和扫描测试链的正常使用，并且允许额外的测试相关数据(诸如，电源、时钟及额外的全局的和专门的状态数据)被通过辅助的测试数据储存系统(诸如，移位寄存器)收集。所述相位编码进一步控制选择性地输出增强测试状态或传统扫描测试输出。
Search Results
1
records
(took 0.023 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
