公开(公告)号：CN104063100A

公开(公告)日：2014-09-24

申请号：CN201410053486.5

申请日：2014-02-17

Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社

Inventor： 高木政史 ,  重高宽 ,  高桥宽明

IPC: G06F3/044

Abstract: 本发明提供一种既抑制检测灵敏度的降低，也减小浮置导体的影响的静电电容式触摸板。该静电电容式触摸板(1)中，驱动电极(27)与检测电极(28)按照电容耦合的方式而被配设在基板(2)的一面，通过向驱动电极施加驱动电压，根据电容耦合来通过检测电极输出检测电压，基于该检测电极的检测电压对基板上物体的有无进行检测，在基板的一面，构成为按照避开驱动电极与检测电极之间的方式来配设接地图案(5)。

公开(公告)号：CN1904814A

公开(公告)日：2007-01-31

申请号：CN200610107639.5

申请日：2006-07-28

Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社

Inventor： 高桥宽明

IPC: G06F3/044

CPC classification number: G06F3/044

Abstract: 本发明的目的是提供能够增大可以高精度检测的检测区的面积的静电容式坐标检测装置。基板(21)具有布线区(30、31、32)，其中配置了与检测电极(1x、2x、3x、4x、5x、6x、1y、2y、3y、4y、5y、6y、7y、8y)相连接的引出部(27、29a、29b)，在布线区(34)内引出部(27、29a、29b)延伸的方向，与检测电极(1x、2x、3x、4x、5x、6x、1y、2y、3y、4y、5y、6y、7y、8y)的延伸方向相交叉，基板(21)产生变形，使布线区(30、31、32)离开表面(21e)。

公开(公告)号：CN100461075C

公开(公告)日：2009-02-11

申请号：CN200610107639.5

申请日：2006-07-28

Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社

Inventor： 高桥宽明

IPC: G06F3/02 ,  G06F3/044 ,  B41J5/00

CPC classification number: G06F3/044

Abstract: 本发明的目的是提供能够增大可以高精度检测的检测区的面积的静电容式坐标检测装置。基板(21)具有布线区(30、31、32)，其中配置了与检测电极(1x、2x、3x、4x、5x、6x、1y、2y、3y、4y、5y、6y、7y、8y)相连接的引出部(27、29a、29b)，在布线区(34)内引出部(27、29a、29b)延伸的方向，与检测电极(1x、2x、3x、4x、5x、6x、1y、2y、3y、4y、5y、6y、7y、8y)的延伸方向相交叉，基板(21)产生变形，使布线区(30、31、32)离开表面(21e)。

公开(公告)号：CN104063100B

公开(公告)日：2017-09-01

申请号：CN201410053486.5

申请日：2014-02-17

Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社

Inventor： 高木政史 ,  重高宽 ,  高桥宽明

IPC: G06F3/044

Abstract: 本发明提供一种既抑制检测灵敏度的降低，也减小浮置导体的影响的静电电容式触摸板。该静电电容式触摸板(1)中，驱动电极(27)与检测电极(28)按照电容耦合的方式而被配设在基板(2)的一面，通过向驱动电极施加驱动电压，根据电容耦合来通过检测电极输出检测电压，基于该检测电极的检测电压对基板上物体的有无进行检测，在基板的一面，构成为按照避开驱动电极与检测电极之间的方式来配设接地图案(5)。