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公开(公告)号：CN1102019C
公开(公告)日：2003-02-19
申请号：CN98101241.8
申请日：1998-04-03
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: H05K13/00
Abstract: 原有的电子装置在罩盖33处只设置有与电路图形35相对应的孔33b，所以在测定作业时，难以移动、调整电子装置，存在有作业麻烦，测定作业费时等问题。本发明的电子装置在印刷电路基板5和罩盖3、4处设置有沿壳体1的上下方向贯穿壳体1的孔5c、3c、4c，所以可以利用这些孔5c、3c、4c在测定时进行位置定位，从而使得测定作业容易实施，并且可以缩短作业时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1155301C
公开(公告)日：2004-06-23
申请号：CN98100549.7
申请日：1998-02-18
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: H05K1/0266 , H05K1/11 , H05K3/0097
Abstract: 本发明涉及集合基板及采用该集合基板的电子产品的制造方法。在小基板内不必设置妨碍小基板小型化的、用于检查等的测定区就可以进行检查，另外，检查时不必使用安装在小基板上的接线柱，还可以提高检查时等的位置精度。构成电路的若干个小基板分别与副基板连接，在副基板上设置测定区，将该测定区与小基板上的电路连接。
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公开(公告)号：CN1197365A
公开(公告)日：1998-10-28
申请号：CN98100549.7
申请日：1998-02-18
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: H05K1/0266 , H05K1/11 , H05K3/0097
Abstract: 本发明涉及集合基板及采用该集合基板的电子产品的制造方法。在小基板内不必设置妨碍小基板小型化的、用于检查等的测定区就可以进行检查,另外,检查时不必使用安装在小基板上的接线柱,还可以提高检查时等的位置精度。构成电路的若干个小基板分别与副基板连接,在副基板上设置测定区,将该测定区与小基板上的电路连接。
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公开(公告)号：CN1084584C
公开(公告)日：2002-05-08
申请号：CN98102177.8
申请日：1998-05-27
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: H05K1/00
CPC classification number: H05K1/0237
Abstract: 本发明的目的是提供一种回路基板，它可使从测试仪器发出的信号的传送通路的特性阻抗与给定的值(例如，电缆的特性阻抗)匹配，或接近，从而，可在高频下，无误差地进行高频回路的调整和检查所需的测试。所采用的方法是，在回路基板上构成高频回路3。同时还形成接地导体2和与高频回路3连接的，信号输入、输出用的导体凸台5。在接地导体2上，形成圆形的除去导体部份4，将导体凸台5，大致设置在除去导体部份4的中心位置处。
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公开(公告)号：CN1201361A
公开(公告)日：1998-12-09
申请号：CN98102177.8
申请日：1998-05-27
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: H05K1/00
CPC classification number: H05K1/0237
Abstract: 本发明的目的是提供一种回路基板,它可使从测试仪器发出的信号的传送通路的特性阻抗与给定的值(例如,电缆的特性阻抗)匹配,或接近,从而,可在高频下,无误差地进行高频回路的调整和检查所需的测试。所采用的方法是,在回路基板上构成高频回路3。同时还形成接地导体2和与高频回路3连接的,信号输入、输出用的导体凸台5。在接地导体2上,形成圆形的除去导体部分4,将导体凸台5,大致设置在除去导体部分4的中心位置处。
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公开(公告)号：CN1195964A
公开(公告)日：1998-10-14
申请号：CN98101241.8
申请日：1998-04-03
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: H05K13/00
Abstract: 原有的电子装置在罩盖33处只设置有与电路图形35相对应的孔33b,所以在测定作业时,难以移动、调整电子装置,存在有作业麻烦,测定作业费时等问题。本发明的电子装置在印刷电路基板5和罩盖3、4处设置有沿壳体1的上下方向贯穿壳体1的孔5c、3c、4c,所以可以利用这些孔5c、3c、4c在测定时进行位置定位,从而使得测定作业容易实施,并且可以缩短作业时间。
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